[发明专利]一种磁力计阵列校正方法有效
| 申请号： | 201610497632.2 | 申请日： | 2016-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN107544042B | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 张晓娟;王辰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种磁力计阵列校正方法，包括步骤：S1：建立磁力计误差模型；S2：多次旋转或移动磁力计阵列，并在每次旋转或移动后采集各磁力计的数据；S3：在磁力计阵列中选取一个磁力计作为参考磁力计；S4：利用磁力计误差模型和采集的数据，分别计算参考磁力计与其他各磁力计间的相对误差系数；S5：利用磁力计误差模型和采集的参考磁力计数据计算自身误差系数；S6：把相对误差系数和自身误差系数代入误差模型和采集的数据中完成校正。本发明的校正方法仅根据磁力计阵列自身采集到的数据，即可校正整个系统自身的误差，无需外部设备参考，提高了野外环境及无人操作环境下的作业效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁力计 阵列 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种磁力计阵列校正方法，其中包括步骤：S1：建立磁力计误差模型；S2：多次旋转或移动磁力计阵列，并在每次旋转或移动后采集各磁力计的数据；S3：在磁力计阵列中选取一个磁力计作为参考磁力计；S4：利用磁力计误差模型和采集的数据，分别计算参考磁力计与其他各磁力计间的相对误差系数；S5：利用磁力计误差模型和采集的参考磁力计数据计算自身误差系数；S6：把相对误差系数和自身误差系数代入误差模型及采集的数据中完成校正。
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