[发明专利]SPI-NAND的测试方法和装置在审
申请号: | 201711284157.1 | 申请日: | 2017-12-07 |
公开(公告)号: | CN107977292A | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
发明(设计)人: | 庄开锋 | 申请(专利权)人: | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F11/263 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 100083 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | spi nand 测试 方法 装置 | ||
技术领域
本发明实施例涉及SPI-NAND技术,尤其涉及一种SPI-NAND的测试方法和装置。
背景技术
调试模块(Debug module)是SPI-NAND的固件(Firmware)开发中重要的组成模块,用于对Firmware的代码(codes)进行测试、验证。Debug module包括针对被测试Firmware codes的测试代码(test codes)的设计,其涵盖输入输出测试、逻辑功能验证测试、异常情况处理测试、参数越界测试等。在Firmware的开发过程中,通过调用相应的test codes,反复测试验证已开发或调整的代码的功能,为Firmware codes的功能验证和继续优化提供测试数据支持。
现有技术的Debug module以test codes的source文件为测试基础,针对被测对象的测试需求,设计相应的test codes,然后将test codes加载在主函数中,将编译好的工程文件烧录到controller中,上电运行验证结果。
但是,上述方法测试项目、参数的设定不灵活,只能提前固定写入工程文件中,如果改变测试项目、参数需要重新编译烧录,严重降低测试效率。
发明内容
本发明提供一种SPI-NAND的测试方法和装置,以实现对SPI-NAND的多测试案例的灵活组合,提高测试效率。
第一方面,本发明实施例提供了一种SPI-NAND的测试方法,包括:
接收测试指令,所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数,所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的;
根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试,其中,以所述测试参数作为所述测试代码的入参,所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的;
根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。
可选的,在所述接收测试指令之前,还包括:
通过与所述计算机进行信息交互,确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式。
可选的,在所述与计算机进行通信交互确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式之前,还包括:
接收工程文件,所述工程文件包括所述测试案例的测试代码。
第二方面,本发明实施例还提供了一种SPI-NAND的测试装置,包括:
接收模块,用于接收测试指令,所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数,所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的;
测试模块,用于根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试,其中,以所述测试参数作为所述测试代码的入参,所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的;
输出模块,用于根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。
可选的,还包括:
通信模块,用于通过与所述计算机进行信息交互,确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式。
可选的,所述接收模块,还用于接收工程文件,所述工程文件包括所述测试案例的测试代码。
第三方面,本发明实施例还提供了一种存储设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现如上述第一方面任一所述的SPI-NAND的测试方法。
第四方面,本发明实施例还提供了一种包含存储设备可执行指令的存储介质,所述存储设备可执行指令在由存储设备处理器执行时用于执行一种SPI-NAND的测试方法,该方法包括:
接收测试指令,所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数,所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的;
根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试,其中,以所述测试参数作为所述测试代码的入参,所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的;
根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。
本发明通过将测试案例按编号部署并提供测试案例选择和入参输入的外部通道,实现对SPI-NAND的多测试案例的灵活组合,即使只下载一次工程文件,也可以通过外部通道随机选择测试案例和测试参数,提高测试效率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的SPI-NAND的测试方法的流程图;
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