[发明专利]一种半导体激光器在审

专利信息
申请号: 201711272330.6 申请日: 2017-12-05
公开(公告)号: CN109873298A 公开(公告)日: 2019-06-11
发明(设计)人: 朱振;张新;肖成峰;李沛旭;孙素娟;夏伟;徐现刚 申请(专利权)人: 山东华光光电子股份有限公司
主分类号: H01S5/34 分类号: H01S5/34
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 250101 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 固态扩散 介质掩膜 非吸收 半导体激光器 介质保护膜 量子阱 扩散 窗口技术 高温扩散 光刻技术 扩散炉 扩散区 外延层 外延片 带隙 掩膜 置入 混杂 去除 烧毁 诱导 生长 覆盖 制作
【说明书】:

一种半导体激光器,其非吸收窗口的制作步骤为:a)通过光刻技术在介质掩膜上形成周期性的掩膜沟槽;b)在介质掩膜上生长固态扩散膜,并在固态扩散膜上覆盖一层介质保护膜;c)将外延片置入扩散炉中进行高温扩散,扩散温度为500‑600℃;d)去除介质掩膜、固态扩散膜及介质保护膜。高温下,固态扩散膜中的Zn原子会扩散进入外延层,诱导量子阱附近的Al、Ga原子混杂,从而增加扩散区量子阱的带隙,形成非吸收窗口,使用固态扩锌形成非吸收窗口技术,提高腔面的抗烧毁能力,工艺更为稳定和均匀,而且安全性也更高。

技术领域

发明涉及光电子制造技术领域,具体涉及一种半导体激光器。

背景技术

大功率红光660nm半导体激光器具有体积小、成本低、易于集成等优点,因此被广泛应用于激光存储、激光显示、光动力理疗、泵浦飞秒Cr3+:LiSAF及Q开关紫翠玉(Alexandrite)固体激光器等方面。

相比于工业加工及泵浦应用的808nm、915nm等近红外半导体激光器,大功率660nm的红光半导体激光器制作难度更大。主要原因是AlGaInP材料体系的限制,有源区及限制层的带隙差较小,因而对注入载流子的限制能力较差,容易产生泄露电流。这会使半导体激光器的内量子效率降低,功率转换效率下降。目前报道的大功率红光半导体激光器的功率转换效率一般为30-40%,而915nm激光器的转换效率最高达70%以上。同时AlGaInP材料的热阻也高于AlGaAs材料,因此红光半导体激光器不适合用宽波导结构,在高功率下工作时,对腔面的抗烧毁能力要求也更高。文献已报道的红光半导体激光器单管额定功率最高在1W左右,远低于目前已经商用的15W 915nm半导体激光器。

在大功率红光半导体激光器方面,日本是处于领先地位的。早在2007年,日本住友公司在文献Uniform and high-power characteristics of AlGaInP-based laserdiodes with 4-inch-wafer process technology.IEEE J Sel Top Quant,2007,13(5):1170-1175中就报道了稳定性及均匀性良好的4英寸工艺线,制作的基横模660nm红光半导体激光器可以在75℃及120mW下连续工作上千小时。而在激光显示用的短波长638nm红光半导体激光器方面,日本三菱公司在文献Highly-reliable operation of 638-nm broadstripe laser diode with high wall-plug efficiency for displayapplications.Proc of SPIE,2013,8640:86400E中实现了1W以内的连续输出。但是在瓦级以上功率输出的660nm半导体激光器方面却鲜有报道。只有德国FBH研究所做了一系列研究,他们在文献20000h reliable operation of 100um stripe width 650nm broad arealasers at more than 1.1W output power.Semicond Sci Technol,2011,26:105011中使用n型AlInP和p型AlGaAs限制层及高导热的金刚石热沉,在15℃下实现最高3W的功率输出,并且在控温15℃和功率1.1W下老化20000小时。不过金刚石热沉及低温控温设备增加了使用成本,不适合商业化的批量应用。在国内,我们团队早期也在这方面做过很多研究,在文献Mg掺杂AlInP限制层窗口结构高功率(3.7W)660nm AlGaInP宽面半导体激光器.人工晶体学报,2009,38(3):597-601中报道了峰值功率3.6W的激光器,但是受限于腔面的光学灾变损伤,其工作功率只能在1W以下,而且工作温度也在20℃以内。

发明内容

本发明为了克服以上技术的不足,提供了一种实现了660nm半导体激光器的瓦级以上功率的连续稳定输出,并且腔面没有COD现象的半导体激光器。

本发明克服其技术问题所采用的技术方案是:

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