[发明专利]一种超低失真度测量方法

说明书

本发明提供一种超低失真度测量方法，包括在信号接入频谱分析仪前，把正弦信号的基波分量衰减，即在正弦信号进入频谱分析仪前，加一级基波抑制网络，而让谐波信号无衰减的通过，进而进行超低失真度测量。本发明即基波抑制+频谱分析法，该方法综合基波抑制法和频谱分析法的优点，可以有效降低超低失真度测量的下限到‑130dB，解决了超低失真度无法准确测量的问题。

技术领域

本发明涉及无线电电子学的失真度测量领域，尤其涉及一种超低失真度测量方法。

背景技术

在无线电参数中，非线性失真是一个非常重要的参数。目前测量失真度的仪器根据测量原理大致可分为两大类：基波抑制法和频谱分析法。基波抑制法测量失真度时，由于失真度仪基波抑制深度和机内引入失真的影响，限制了失真度仪的测量下限，通常只能达到-60dB～-80dB。频谱分析法测量失真度时，由于频谱分析仪自身失真度及动态范围的限制，测量下限通常只达到-70dB～-80dB。因此这两种方法均不能用于超低失真度的测量。

发明内容

本发明提供一种超低失真度测量方法，包括：在信号接入频谱分析仪前，把正弦信号的基波分量衰减，即在正弦信号进入频谱分析仪前，加一级基波抑制网络，而让谐波信号无衰减的通过，进而进行超低失真度测量。

可选的，提供失真度测量仪；调整失真度测量仪工作在校准状态；调整开关使失真度测量仪工作在失真状态；当失真度测量仪工作在最佳调谐状态时，进行超低失真度测量。

可选的，所述调整失真度测量仪工作在校准状态包括：调整失真度测量仪的校准电位器，使失真度测量仪的表头指示满刻度。

可选的，使用频谱分析仪测量被测正弦信号的基波功率电平为P₁。

可选的，所述调整开关使失真度测量仪工作在失真状态后，对被测正弦信号进行失真度测量。

可选的，当失真度测量仪工作在最佳调谐状态时，所述失真度测量仪的基波抑制器对正弦信号达到最佳抑制状态。

可选的，在所述最佳调谐状态时，使用频谱分析仪测量此时的剩余基波功率电平P_1s(dBm)，第n次剩余谐波功率电平P_ns(dBm)。

可选的，所述失真度测量仪的基波抑制量为：C(dB)＝P_1s－P₁+C_s，式中C_s为失真度测量仪对基波达到最佳抑制状态时指针所处的量程。

可选的，第n次剩余谐波失真电平D_ns可表示为：D_ns(dB)＝P_ns－P_1s，第n次谐波失真电平D_n(dB)＝D_ns+C。

可选的，所述失真度D(dB)定义公式为：其中，D(n)为第n次谐波失真电平。

本发明提出一种改进的超低失真度测量方法，即基波抑制+频谱分析法，该方法综合基波抑制法和频谱分析法的优点，可以有效降低超低失真度测量的下限到-130dB，解决了超低失真度无法准确测量的问题。经过基波衰减的正弦信号完全可以适应频谱分析仪的谐波动态范围。综合基波抑制网络的基波抑制量和频谱分析仪测得的剩余失真电平，即可计算得出原正弦信号的失真度。

附图说明

以下将结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。

图1是本发明一个实施例的超低失真度方法示意图。

具体实施方式