[发明专利]一种超低失真度测量方法在审
| 申请号： | 201711201206.0 | 申请日： | 2017-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN108226638A | 公开（公告）日： | 2018-06-29 |
| 发明（设计）人： | 张威;汪桃林;赵嫚;张贺;张正娴;范凤军 | 申请（专利权）人： | 上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所 |
| 主分类号： | G01R23/20 | 分类号： | G01R23/20 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人： | 余岢 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 低失真度 基波抑制 测量 频谱分析法 频谱分析仪 正弦信号 衰减 基波分量 谐波信号 信号接入 准确测量 网络 | ||
1.一种超低失真度测量方法，其特征在于，在信号接入频谱分析仪前，把正弦信号的基波分量衰减，即在正弦信号进入频谱分析仪前，加一级基波抑制网络，而让谐波信号无衰减的通过，进而进行超低失真度测量。
2.如权利要求1所述的超低失真度测量方法，其特征在于，包括：提供失真度测量仪；调整失真度测量仪工作在校准状态；调整开关使失真度测量仪工作在失真状态；当失真度测量仪工作在最佳调谐状态时，进行超低失真度测量。
3.如权利要求1所述的超低失真度测量方法，其特征在于，所述调整失真度测量仪工作在校准状态包括：调整失真度测量仪的校准电位器，使失真度测量仪的表头指示满刻度。
4.如权利要求3所述的超低失真度测量方法，其特征在于，使用频谱分析仪测量被测正弦信号的基波功率电平为P1。
5.如权利要求1所述的超低失真度测量方法，其特征在于，所述调整开关使失真度测量仪工作在失真状态后，对被测正弦信号进行失真度测量。
6.如权利要求1所述的超低失真度测量方法，其特征在于，当失真度测量仪工作在最佳调谐状态时，所述失真度测量仪的基波抑制器对正弦信号达到最佳抑制状态。
7.如权利要求6所述的超低失真度测量方法，其特征在于，在所述最佳调谐状态时，使用频谱分析仪测量此时的剩余基波功率电平P1s(dBm)，第n次剩余谐波功率电平Pns(dBm)。
8.如权利要求7所述的超低失真度测量方法，其特征在于，所述失真度测量仪的基波抑制量为：C(dB)＝P1s－P1+Cs，式中Cs为失真度测量仪对基波达到最佳抑制状态时指针所处的量程。
9.如权利要求7所述的超低失真度测量方法，其特征在于，第n次剩余谐波失真电平Dns可表示为：Dns(dB)＝Pns－P1s，第n次谐波失真电平Dn(dB)＝Dns+C。
10.如权利要求1所述的超低失真度测量方法，其特征在于，所述失真度D(dB)定义公式为：其中，D(n)为第n次谐波失真电平。
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