[发明专利]一种基于石墨烯的MEMS声学传感器及其制作方法有效
申请号: | 201710492063.7 | 申请日: | 2017-06-26 |
公开(公告)号: | CN107318076B | 公开(公告)日: | 2019-09-13 |
发明(设计)人: | 康晓旭 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司 |
主分类号: | H04R19/00 | 分类号: | H04R19/00;H04R31/00 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吴世华;陈慧弘 |
地址: | 201210 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 石墨 mems 声学 传感器 及其 制作方法 | ||
1.一种基于石墨烯的MEMS声学传感器的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:
S01:在金属衬底上形成石墨烯薄膜,在石墨烯薄膜上制备牺牲层Ⅰ,并在牺牲层Ⅰ中图形化沉积金属并平坦化,形成位于牺牲层Ⅰ中的金属图形Ⅰ;
S02:在临时衬底Ⅰ上制备牺牲层Ⅱ,并在牺牲层Ⅱ中图形化沉积金属并平坦化,形成位于牺牲层Ⅱ中的金属图形Ⅱ和金属互连层,在牺牲层Ⅱ上方沉积隔离层,其中金属互连层贯穿牺牲层Ⅱ和隔离层并位于牺牲层Ⅱ和隔离层的边缘,在隔离层的上方制作下电极;
S03:将临时衬底Ⅰ中的下电极和传感器衬底键合,并去除临时衬底Ⅰ,此时,所述传感器衬底上方依次为下电极、隔离层和牺牲层Ⅱ;
S04:将金属衬底上的牺牲层Ⅰ和传感器衬底上的牺牲层Ⅱ键合形成牺牲层A,其中,金属图形Ⅰ和金属图形Ⅱ对应形成金属图形,并去除石墨烯薄膜上的金属衬底;
S05:在石墨烯薄膜上通过牺牲层B和支撑层连接上电极;
S06:刻蚀传感器衬底,形成带有空腔的传感器衬底;
S07:刻蚀牺牲层A、牺牲层B、石墨烯薄膜和上电极,形成石墨烯薄膜位于上电极和下电极中间的MEMS声学传感器,其中,金属互连层作为下电极的引出端,石墨烯两端为引出端。
2.根据权利要求1所述的基于石墨烯的MEMS声学传感器的制作方法,其特征在于,所述步骤S05中制备连接上电极的具体步骤为:
S0501:在石墨烯薄膜上方沉积牺牲层B,并在牺牲层B中填充支撑层;
S0502:在牺牲层B上制作上电极。
3.根据权利要求1所述的基于石墨烯的MEMS声学传感器的制作方法,其特征在于,所述步骤S05中制备连接上电极的具体步骤为:
T0501:在石墨烯薄膜上沉积牺牲层Ⅲ,并在牺牲层Ⅲ中填充支撑层Ⅰ;
T0502:在临时衬底Ⅲ上制作上电极,并在上电极上制作牺牲层Ⅳ,并在牺牲层Ⅳ中填充支撑层Ⅱ,
T0503:将牺牲层Ⅲ和牺牲层Ⅳ键合起来形成牺牲层B,支撑层Ⅰ和支撑层Ⅱ对应形成支撑层,并去除临时衬底Ⅲ。
4.根据权利要求1所述的基于石墨烯的MEMS声学传感器的制作方法,其特征在于,所述石墨烯薄膜采用高温化学气相沉积工艺或者离子注入工艺形成。
5.根据权利要求1所述的基于石墨烯的MEMS声学传感器的制作方法,其特征在于,所述金属图形Ⅰ、金属图形Ⅱ为Al或Au。
6.根据权利要求1所述的基于石墨烯的MEMS声学传感器的制作方法,其特征在于,所述上电极和下电极为硅和/或锗化硅。
7.根据权利要求1所述的基于石墨烯的MEMS声学传感器的制作方法,其特征在于,所述金属衬底为铜衬底或镍衬底。
8.根据权利要求1所述的基于石墨烯的MEMS声学传感器的制作方法,其特征在于,所述临时衬底Ⅰ为硅衬底或玻璃衬底。
9.根据权利要求1所述的基于石墨烯的MEMS声学传感器的制作方法,其特征在于,所述传感器衬底为硅衬底。
10.一种采用权利要求1所述的制作方法制作的基于石墨烯的MEMS声学传感器,其特征在于,所述MEMS声学传感器从下到上依次包括传感器衬底、下电极、隔离层、金属图形、石墨烯薄膜、支撑层和上电极,所述传感器衬底中包含贯穿整个传感器衬底上下的空腔,所述下电极位于传感器衬底上方,所述下电极上方为隔离层,所述隔离层上方采用金属图形连接石墨烯薄膜,且在隔离层的边缘还包括将下电极引出的金属互连层,所述金属图形位于所述石墨烯薄膜的两端内侧,所述石墨烯的两端作为引出端,所述石墨烯薄膜通过支撑层连接位于其上方的上电极。
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