[发明专利]基于时分复用的光子计数关联成像装置与方法在审
申请号: | 201710297851.0 | 申请日: | 2017-04-29 |
公开(公告)号: | CN106949965A | 公开(公告)日: | 2017-07-14 |
发明(设计)人: | 薄遵望;韩申生;龚文林;陈明亮 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01J1/44 | 分类号: | G01J1/44;G01S17/89 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 时分 光子 计数 关联 成像 装置 方法 | ||
1.一种基于时分复用的光子计数关联成像装置,其特征在于包括一热光源(1),沿该热光源(1)发出的光束方向设有分光棱镜(2),该分光棱镜(2)将入射光分为反射光束和透射光束,反射光束方向作为参考光路,在该参考光路中沿光路依次放置参考透镜(3)和具有高空间分辨能力的面探测器(4),透射光束方向作为物光路,在该物光路中沿光路依次放置发射透镜(5)、成像目标(6)、接收望远镜(7)和时分复用光子计数器(8);所述的热光源(1)、面探测器(4)和时分复用光子计数器(8)分别与计算机(9)相连,并在计算机(9)的控制下同步工作;所述的热光源(1)、参考透镜(3)、面探测器(4)、发射透镜(5)和成像目标(6)之间的位置满足下列高斯成像关系:
其中:fc为参考透镜(3)的焦距;
fw为发射透镜(5)的焦距;
z1为热光源(1)到参考透镜(3)之间的距离;
z2为参考透镜(3)到面探测器(4)的感光面之间的距离;
z3为热光源(1)到发射透镜(5)之间的距离;
z4为参考透镜(3)到成像目标(6)之间的距离。
2.根据权利要求1所述的基于时分复用的光子计数关联成像装置,其特征在于,所述的时分复用光子计数器(8)包括一根输入光纤(10),与该输入光纤(10)相连的n路光纤分束器(11),该n路光纤分束器(11)的输出端通过n路延时光纤(12)与n路光纤合束器(13)的输入端相连,该n路光纤合束器(13)的输出端通过输出光纤(14)与单光子探测器(15)的输入端相连,该单光子探测器(15)的输出端与数字计数器(16)相连。
3.根据权利要求2所述的基于时分复用的光子计数关联成像装置,其特征在于,所述的n路延时光纤(12)由n根型号相同、长度由短到长依次增加的延时光纤组成,所述n根延时光纤的长度满足下列关系:
Li=L1+(i-1)ΔL,i=1…n
其中:L1代表第一根延时光纤的长度,Li代表第i根延时光纤的长度,ΔL代表长度相邻的两根延时光纤之间的长度差,为一恒定量,其数值由单光子探测器(15)的采样频率v决定,具体表达式为:
其中:c代表光在延时光纤中的传播速度。
4.一种基于时分复用的光子计数关联成像方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:
①热光源(1)在计算机(9)的控制下发出脉冲光,发射光被分光棱镜(2)分为两路,其中反射光路中的参考透镜(3)将热光源面处的光场分布成像到面探测器(4)的感光面上,面探测器(4)在计算机(9)的控制下记录本次发射光场的光强分布信息Ii(x);
②透射光路中发射透镜(5)将热光源面处的光场分布成像到目标(6)上,光场经目标(6)反射后被接收望远镜(7)收集接收并输入时分复用光子计数器(8),时分复用光子计数器(8)在计算机(9)的控制下探测并记录下本次采样的返回光子数Ci;
③所述的热光源(1)、面探测器(3)和时分复用光子计数器(8)在计算机(9)的控制下按照步骤①和步骤②中的工作方式同步进行多次采样,依次分别记录下每次采样的光场分布Ii(x)和返回光子数Ci,其中i=1,2…k为采样次数;
④利用计算机(9)对面探测器(4)记录的光强分布信息Ii(x)和时分复用光子计数器(8)记录的返回光子数Ci进行关联运算,得到目标的实空间像。
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