[发明专利]压力测量方法以及压力测量装置

说明书

本发明是公开一种压力测量方法，使用在一压力测量装置上。其特征在于压力测量方法包含：于一测试模式下测量压力测量装置对应一第一压力的一第一压力感测值；于测试模式下测量压力测量装置对应一第二压力的一第二压力感测值；根据第一压力、第二压力、第一压力感测值以及第二压力感测值建立一第一对应函数；于一普通模式下，使压力测量装置感测一第三压力感测值；以及以第一对应函数根据第三压力感测值产生一第三压力；其中压力测量装置操作于一第一扫描频率。亦可以产生校正值的方式来校正压力感测值。藉此方法可以校正因扫描频率不同而产生的误差。

技术领域

本发明有关于压力测量方法以及压力测量装置，特别有关于可校正因扫描频率而产生的压力测量误差的压力测量方法以及压力测量装置。

背景技术

为了感测使用者按压的动作，电子装置通常会包含一压力测量装置，置于电子装置的控制界面下(例如触控荧幕或触控板)，以藉由压力测量装置来判断使用者是否有按压的动作。

电子装置除了根据单纯的按压动作来执行功能外，更可以将此类按压动作运用到其他控制方法上。举例来说，近代电子装置通常可以手势来控制其动作，以往的手势往往局限于平面的手势，例如以手指滑动的动作来缩放图片或是解锁电子装置。然而，随着电子装置的功能越来越强大，平面的手势已无法满足使用者的需求，因此会加入按压的动作来形成立体的手势。

然而，电子装置对压力测量装置的扫描频率需要因应不同杂讯环境来调整，藉此达到较佳的讯噪比(Singla-Noise Ratio)，其会影响压力测量装置所产生的压力感测值而使压力感测值产生误差，使得压力测量结果变得不精确。

发明内容

因此，本发明之一目的在于提供一种电容式的压力测量装置。

本发明另一目的为提供一种可校正压力测量误差的压力测量方法。

本发明另一目的为提供一种可校正压力测量误差的压力测量装置。

本发明一实施例公开了一种压力测量方法，使用在一压力测量装置上。其特征在于压力测量方法包含：于一测试模式下测量压力测量装置对应一第一压力的一第一压力感测值；于测试模式下测量压力测量装置对应一第二压力的一第二压力感测值；根据第一压力、第二压力、第一压力感测值以及第二压力感测值建立一第一对应函数；于一普通模式下，使压力测量装置感测一第三压力感测值；以及以第一对应函数根据第三压力感测值产生一第三压力；其中压力测量装置操作于一第一扫描频率。

本发明又一实施例公开了一种压力测量装置，其特征在于，包含：一压力感测模块，操作于一第一扫描频率；以及一校正模块，储存一第一对应函数；其中压力感测模块于一普通模式下感测一第三压力感测值，且校正模块以第一对应函数根据第三压力感测值产生一第三压力；其中第一对应函数以下列步骤产生：压力感测模块于一测试模式下产生对应一第一压力的一第一压力感测值；压力感测模块于测试模式下产生对应一第二压力的一第二压力感测值；校正模块根据第一压力、第二压力、第一压力感测值以及第二压力感测值建立一第一对应函数。

本发明又一实施例公开了一种压力测量方法，使用在一压力测量装置上。其特征在于压力测量方法包含：于一测试模式下测量压力测量装置运作于一第一扫描频率时的一第一实际压力感测值，且测量压力测量装置运作于第一扫描频率且压力为零的压力感测值以计算出一第一校正值；于一普通模式下，若压力测量装置运作于第一扫描频率，则以第一校正值校正一第一实际压力感测值来产生一第一校正压力感测值；以及根据第一校正压力感测值产生一第一校正压力。