[发明专利]电子器件在板卡图中的突显方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及自动光学检测技术领域，特别涉及一种电子器件在板卡图中的突显方法及系统。

背景技术

AOI(Automatic Optical Inspection，自动光学检测)是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的技术，是液晶及微电子等行业广泛使用的测量手段，而AOI设备则是液晶及微电子等行业广泛使用的检测设备，AOI设备可用于在线检测PCB板卡，判断PCB板卡上的相关器件是否达到预设的参数。

目前采用AOI设备在线对PCB板卡检测时，通常需要拍摄整个板卡的图片，然后在板卡图片中将所有待测电子器件各自所在的图像区域一一选中，使得所有待测电子器件各自所在的图像区域均在板卡图片中进行突显，间接使所有待测电子器件在板卡图片中进行突显，以制作成测试板式文件，然后AOI设备将根据测试板式文件当中突显的图像区域，自动在板卡中匹配出与突显的图像区域的位置对应的检测区域，然后对检测区域内的电子器件进行检测，从而实现对所有待测电子器件进行检测。

然而，现有技术当中，目前在制作上述的测试板式文件时，通常是通过人工在板卡图片中将所有待测电子器件各自所在的图像区域进行一一选中，而一个板卡上可能会有上百个不同种类的电子器件，采用人工一个一个选中突显将费时费力，降低检测的效率，同时经常出现遗漏未被突显的器件，从而出现漏检测的电子器件，减低了检测的可靠性。

发明内容

基于此，本发明的目的是提供一种电子器件在板卡图中的突显方法及系统，以实现对所有待测电子器件各自所在的图像区域在板卡图片中进行突显，进而实现将所有待测电子器件在板卡图片中进行突显。

根据本发明实施例的一种电子器件在板卡图中的突显方法，包括：

选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域，并将选中的图像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储；

将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描；

当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时，将所述目标图像区域进行突显，以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显。

另外，根据本发明上述实施例的一种电子器件在板卡图中的突显方法，还可以具有如下附加的技术特征：

所述将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描的步骤包括：

获取所述板卡图当中在所述器件样版图当前扫描位置下的当前图像区域；

将所述当前图像区域与所述器件样版图进行比较。

所述将所述目标图像区域进行突显的步骤包括：

获取所述目标图像区域的所有边界点的坐标信息；

根据所述所有边界点的坐标信息，从预设边界点开始按照预设的连接顺序通过预设参数的线条依次将所述目标图像区域的所有边界点连接，以生成所述目标图像区域的边框，所述预设参数包括线条的颜色、形状及大小。

在所述选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域，并将选中的图像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储的步骤之后，所述电子器件在板卡图中的突显方法还包括：

获取输入的与所述目标电子器件对应的器件待测参数，并将所述器件待测参数进行存储。

所述电子器件在板卡图中的突显方法运用于一自动光学检测设备，在所述当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时，将所述目标图像区域进行突显，以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显的步骤之后，所述电子器件在板卡图中的突显方法还包括：

提取所述器件待测参数；

根据所述目标图像区域在所述板卡图上的位置，以得到在与所述板卡图对应的板卡中位置与所述目标图像区域对应的检测区域；

将所述自动光学检测设备按照所述器件待测参数对所述检测区域内的器件进行检测。

根据本发明实施例的一种电子器件在板卡图中的突显系统，包括：

图像存储模块，用于选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域，并将选中的图像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储。

图像扫描模块，用于将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描；

图像突显模块，用于当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时，将所述目标图像区域进行突显，以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显。

另外，根据本发明上述实施例的一种电子器件在板卡图中的突显系统，还可以具有如下附加的技术特征：

所述图像扫描模块包括：