[发明专利]电子器件在板卡图中的突显方法及系统

权利要求书

1.一种电子器件在板卡图中的突显方法，其特征在于，包括：

选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域，并将选中的图像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储；

将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描；

当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时，将所述目标图像区域进行突显，以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显。

2.根据权利要求1所述的电子器件在板卡图中的突显方法，其特征在于，所述将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描的步骤包括：

获取所述板卡图当中在所述器件样版图当前扫描位置下的当前图像区域；

将所述当前图像区域与所述器件样版图进行比较。

3.根据权利要求1所述的电子器件在板卡图中的突显方法，其特征在于，所述将所述目标图像区域进行突显的步骤包括：

获取所述目标图像区域的所有边界点的坐标信息；

根据所述所有边界点的坐标信息，从预设边界点开始按照预设的连接顺序通过预设参数的线条依次将所述目标图像区域的所有边界点连接，以生成所述目标图像区域的边框，所述预设参数包括线条的颜色、形状及大小。

4.根据权利要求1所述的电子器件在板卡图中的突显方法，其特征在于，在所述选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域，并将选中的图像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储的步骤之后，所述电子器件在板卡图中的突显方法还包括：

获取输入的与所述目标电子器件对应的器件待测参数，并将所述器件待测参数进行存储。

5.根据权利要求4所述的电子器件在板卡图中的突显方法，其特征在于，所述电子器件在板卡图中的突显方法运用于一自动光学检测设备，在所述当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时，将所述目标图像区域进行突显，以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显的步骤之后，所述电子器件在板卡图中的突显方法还包括：

提取所述器件待测参数；

根据所述目标图像区域在所述板卡图上的位置，以得到在与所述板卡图对应的板卡中位置与所述目标图像区域对应的检测区域；

将所述自动光学检测设备按照所述器件待测参数对所述检测区域内的器件进行检测。

6.一种电子器件在板卡图中的突显系统，其特征在于，包括：

图像存储模块，用于选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域，并将选中的图像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储。

图像扫描模块，用于将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描；

图像突显模块，用于当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时，将所述目标图像区域进行突显，以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显。

7.根据权利要求6所述的电子器件在板卡图中的突显系统，其特征在于，所述图像扫描模块包括：

第一获取单元，用于获取所述板卡图当中在所述器件样版图当前扫描位置下的当前图像区域；

比较模块，用于将所述当前图像区域与所述器件样版图进行比较。

8.根据权利要求6所述的电子器件在板卡图中的突显系统，其特征在于，所述图像突显模块包括：

第二获取单元，用于获取所述目标图像区域的所有边界点的坐标信息；

边框生成单元，用于根据所述所有边界点的坐标信息，从预设边界点开始按照预设的连接顺序通过预设参数的线条依次将所述目标图像区域的所有边界点连接，以生成所述目标图像区域的边框，所述预设参数包括线条的颜色、形状及大小。

9.根据权利要求6所述的电子器件在板卡图中的突显系统，其特征在于，所述电子器件在板卡图中的突显系统还包括：

检测参数存储模块，用于获取输入的与所述目标电子器件对应的器件待测参数，并将所述器件待测参数进行存储。

10.根据权利要求9所述的电子器件在板卡图中的突显系统，其特征在于，所述电子器件在板卡图中的突显系统运用于一自动光学检测设备，所述电子器件在板卡图中的突显系统还包括：

提取模块，用于提取所述器件待测参数；

检测区域生成模块，用于根据所述目标图像区域在所述板卡图上的位置，以得到在与所述板卡图对应的板卡中位置与所述目标图像区域对应的检测区域；

检测模块，用于将所述自动光学检测设备按照所述器件待测参数对所述检测区域内的器件进行检测。