[发明专利]一种高光效发光二极管在审
申请号: | 201611138225.9 | 申请日: | 2016-12-12 |
公开(公告)号: | CN108231970A | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | 王波 | 申请(专利权)人: | 王波 |
主分类号: | H01L33/22 | 分类号: | H01L33/22;H01L33/10;H01L33/16 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 韩雪 |
地址: | 613100 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光二极管 高光效 外延结构层 电流积聚 导电层 反光层 嵌入 衬底上表面 多量子阱层 光提取效率 光子晶体层 由上到下 表面镀 出射光 硅衬底 晶体层 上表面 双光子 吸收量 电极 凹形 衬底 辐射 生长 | ||
1.一种高光效发光二极管,其特征在于:包括硅衬底,所述衬底上表面生长有外延结构层,所述外延结构层由上到下依次包括p-GaN层、多量子阱层、n-GaN层,所述n-GaN层下设有凹形的反光层,所述反光层与衬底连接;所述p-GaN层和n-GaN层中分别嵌入光子晶体层;所述p-GaN层表面镀有导电层,导电层的上表面设有沟槽,所述沟槽与P电极连接;所述n-GaN层上设有凹槽,凹槽与N电极连接。
2.根据权利要求1所述的高光效发光二极管,其特征在于:所述光子晶体层中的光子晶体的晶格常数为200nm;所述n-GaN层中光子晶体层到反光层的距离为150nm,刻蚀深度为90nm;所述p-GaN层到导电层的距离为140nm, 刻蚀深度为100nm。
3.根据权利要求1所述的高光效发光二极管,其特征在于:所述导电层为ITO透明氧化层。
4.根据权利要求1所述的高光效发光二极管,其特征在于:所述沟槽为两端凸出导电层上表面,中间有呈凹形,与凸形P电极配合连接。
5.根据权利要求1所述的高光效发光二极管,其特征在于:所述n-GaN层的上表面一端与多量子阱层连接,另一端裸露,其上有凹槽缺口,与凸形N电极配合连接。
6.根据权利要求1所述的高光效发光二极管,其特征在于:所述反光层为二氧化硅薄膜,其厚度为500微米;所述P电极和N电极分别采用Cu和Cr。
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