[发明专利]一种分析含伪差心电图的方法和装置

说明书

技术领域

本发明属于心电图技术领域，具体地涉及一种通过衍生导联分析含伪差心电图的方法和装置。

背景技术

心电图主要反映心脏激动的电学活动，因此对各种心率失常和传导障碍的诊断分析具有肯定价值，到目前为止，尚没有任何其它方法能替代心电图在这方面的作用。心电图记录的是心脏激动时所产生于体表的电位差，不管是采用3导联、5导联还是12导联采集心电信号，都可能包含多种不是由心脏激动而发生于心电图上的改变的干扰，称为伪差。伪差通常是由强磁场、静电干扰、患者运动造成的导联线拉扯或肌电干扰等因素产生。尤其是动态心电图，因佩戴后患者需要正常活动，产生伪差几乎是不可避免的。心电图伪差不仅没有利用价值，还会对医生诊断造成影响，降低心电监护准确性。

现有不少技术用来识别伪差，如公开专利：CN104644160A，但其将伪差段数据排除在分析范围外，另外也有一些技术用来从多个导联中选择干扰最小的导联作为分析导联，如公开专利：CN105411567A，以提高分析精度。但是如果伪差发生时间较长，或者肢体导联影响了Wilson中心电端造成每个导联伪差都比较大，就会严重影响其分析结果的准确性。

发明内容

本发明的目的在于为解决上述问题而提供一种通过衍生导联分析含伪差心电图的方法和装置，提高了含伪差心电图的分析准确性，且计算简单，鲁棒性和适应性好。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案为：一种分析含伪差心电图的方法，包括以下步骤：

S1，按时间段识别出心电图中含显著伪差部分和不含显著伪差部分；

S2，筛选出受干扰小的心电电极集合SET；

S3，将含显著伪差部分根据S2步骤所筛选出的心电电极集合SET生成衍生导联L_d；

S4，从衍生导联L_d中选取质量最好的一条或者多条衍生导联L_d进行进一步处理。

进一步的，所述步骤S2中，是通过对不含显著伪差部分的分析处理中筛选出受干扰小的心电电极集合SET。

更进一步的，所述步骤S2具体为：从心电电极中选取所有不重复的任意两个电极来组成第一过渡心电电极对集合SET′，将不含显著伪差部分按第一过渡心电电极对集合SET′生成第一过渡衍生导联L′_d1；并根据该第一过渡衍生导联L′_d1设立一个阈值Threshold1，选取第一过渡衍生导联L′_d1幅度大于阈值Threshold1的所有电极对，形成心电电极集合SET。

进一步的，所述步骤S2中，是通过对含显著伪差部分和不含显著伪差部分相配合的分析处理中筛选出受干扰小的心电电极集合SET。

更进一步的，所述步骤S2具体为：从心电电极中选取所有不重复的任意两个电极来组成第一过渡心电电极对集合SET′，将不含显著伪差部分按第一过渡心电电极对集合SET′生成第一过渡衍生导联L′_d1；并根据该第一过渡衍生导联L′_d1设立一个阈值Threshold1，选取第一过渡衍生导联L′_d1幅度小于阈值Threshold1的所有电极对，形成第二过渡心电电极集合SET′1；

将含显著伪差部分按第二过渡心电电极集合SET′1来生成第二过渡衍生导联L′_d2；选取第二过渡导联L′_d2幅度仍小于阈值Threshold1的电极对，然后从第一过渡心电电极对集合SET′中找出与这对电极相关的所有元素，构成心电电极集合SET。

进一步的，所述步骤S4具体为选取质量最好的一条或者多条衍生导联L_d进行显示处理。

更进一步的，所述显示处理还包括：同时显示该衍生导联L_d反映的是哪两个电极之间的电位差。

进一步的，将含显著伪差部分根据S2步骤所筛选出的心电电极集合SET生成衍生导联L_d具体方法为：计算心电电极集合SET中的每个元素组间的电位差产生衍生导联L_d。

进一步的，将不含显著伪差部分按第一过渡心电电极对集合SET′生成第一过渡衍生导联L′_d1具体方法为：计算第一过渡心电电极对集合SET′中的每个元素组间的电位差产生第一过渡衍生导联L′_d1。

进一步的，所述步骤S2中的阈值Threshold1采用自适应方法设立。