[发明专利]一种分析含伪差心电图的方法和装置

权利要求书

1.一种分析含伪差心电图的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1，按时间段识别出心电图中含显著伪差部分和不含显著伪差部分；

S2，筛选出受干扰小的心电电极集合SET；

S3，将含显著伪差部分根据S2步骤所筛选出的心电电极集合SET生成衍生导联L_d；

S4，从衍生导联L_d中选取质量最好的一条或者多条衍生导联L_d进行进一步处理。

2.根据权利要求1所述的分析含伪差心电图的方法，其特征在于，所述步骤S2中，是通过对不含显著伪差部分的分析处理中筛选出受干扰小的心电电极集合SET。

3.根据权利要求2所述的分析含伪差心电图的方法，其特征在于，所述步骤S2具体为：从心电电极中选取所有不重复的任意两个电极来组成第一过渡心电电极对集合SET′，将不含显著伪差部分按第一过渡心电电极对集合SET′生成第一过渡衍生导联L′_d1；并根据该第一过渡衍生导联L′_d1设立一个阈值Threshold1，选取第一过渡衍生导联L′_d1幅度大于阈值Threshold1的所有电极对，形成心电电极集合SET。

4.根据权利要求1所述的分析含伪差心电图的方法，其特征在于，所述步骤S2中，是通过对含显著伪差部分和不含显著伪差部分相配合的分析处理中筛选出受干扰小的心电电极集合SET。

5.根据权利要求4所述的分析含伪差心电图的方法，其特征在于，所述步骤S2具体为：从心电电极中选取所有不重复的任意两个电极来组成第一过渡心电电极对集合SET′，将不含显著伪差部分按第一过渡心电电极对集合SET′生成第一过渡衍生导联L′_d1；并根据该第一过渡衍生导联L′_d1设立一个阈值Threshold1，选取第一过渡衍生导联L′_d1幅度小于阈值Threshold1的所有电极对，形成第二过渡心电电极集合SET′1；

将含显著伪差部分按第二过渡心电电极集合SET′1来生成第二过渡衍生导联L′_d2；选取第二过渡导联L′_d2幅度仍小于阈值Threshold1的电极对，然后从第一过渡心电电极对集合SET′中找出与这对电极相关的所有元素，构成心电电极集合SET。

6.根据权利要求1所述的分析含伪差心电图的方法，其特征在于：所述步骤S4具体为选取质量最好的一条或者多条衍生导联L_d进行显示处理。

7.根据权利要求6所述的分析含伪差心电图的方法，其特征在于：所述显示处理还包括：同时显示该衍生导联L_d反映的是哪两个电极之间的电位差。

8.根据权利要求1所述的分析含伪差心电图的方法，其特征在于，将含显著伪差部分根据S2步骤所筛选出的心电电极集合SET生成衍生导联L_d具体方法为：计算心电电极集合SET中的每个元素组间的电位差产生衍生导联L_d。

9.根据权利要求3或5所述的分析含伪差心电图的方法，其特征在于，将不含显著伪差部分按第一过渡心电电极对集合SET′生成第一过渡衍生导联L′_d1具体方法为：计算第一过渡心电电极对集合SET′中的每个元素组间的电位差产生第一过渡衍生导联L′_d1。

10.根据权利要求3或5所述的分析含伪差心电图的方法，其特征在于：所述步骤S2中的阈值Threshold1采用自适应方法设立。

11.根据权利要求10所述的分析含伪差心电图的方法，其特征在于，所述步骤S2中的阈值Threshold1采用自适应方法设立具体为：计算心搏数据在第一过渡衍生导联L′_d1上的幅度，选所有幅度的中位数或者平均值作为阈值threshold1。

12.根据权利要求1所述的分析含伪差心电图的方法，其特征在于，所述步骤S4具体为：计算各条衍生导联L_d心电信号的能量，并按心电信号能量占总能量的比重排序；选取心电信号能量比重最大的一条或者多条衍生导联L_d进行进一步处理。