[发明专利]一种天线图形的产生方法和系统

说明书

本发明公开了一种天线图形的产生方法和系统，方法包括：获得输入参数，所述输入参数包括：谐振频率、天线阻抗实部和天线阻抗虚部；根据所述输入参数，并基于预设的天线图形尺寸与输入参数的数学关系，获得对应所述输入参数的天线图形尺寸，并基于所述天线图形尺寸输出相应的天线图形。

技术领域

本发明涉及天线设计技术领域，尤其涉及一种天线图形的产生方法和系统。

背景技术

超高频无线射频识别(RFID，Radio Frequency Identification)技术是一种远距离非接触式的自动识别技术，跟传统的高频技术相比，超高频的优点是：远距离、多标签、速度快、操作快捷方便。

超高频天线是超高频标签的重要组成部分。通常RFID标签天线设计需要专业天线设计人员，使用专业设计工具进行大量时间的仿真。由此可见，现有的RFID标签天线设计方法，效率低下，对人力物力的消耗很大，而且对设计人员的专业性要求较高。

发明内容

为解决现有存在的技术问题，本发明实施例期望提供一种天线图形的产生方法和系统。

为实现上述发明目的，本发明实施例采用以下方式来实现：

本发明实施例提供了一种天线图形的产生方法，所述方法包括：

获得输入参数，所述输入参数包括：谐振频率、天线阻抗实部和天线阻抗虚部；

根据所述输入参数，并基于预设的天线图形尺寸与输入参数的数学关系，获得对应所述输入参数的天线图形尺寸，并基于所述天线图形尺寸输出相应的天线图形。

上述方案中，所述天线图形尺寸与输入参数的数学关系是基于以下方式创建的：

设计标准天线，并确定所述标准天线的谐振频率、天线阻抗实部和天线阻抗虚部；

对所述标准天线的谐振频率、天线阻抗实部和天线阻抗虚部进行拉偏，并确定和保存各个不同的谐振频率、天线阻抗实部和天线阻抗虚部与天线图形尺寸的数学关系。

上述方案中，所述标准天线为适用于三传输线T型匹配模型的标准天线。

上述方案中，所述标准天线为带中心环形结构的偶极子天线。

上述方案中，所输出的天线图形不限定天线外部辐射体图形，所述天线外部辐射体图形为天线中心环形匹配结构以外的天线部分。

本发明实施例还提供了一种天线图形的产生系统，所述系统包括：

参数输入单元，用于获得输入参数，所述输入参数包括：谐振频率、天线阻抗实部和天线阻抗虚部；

天线图形产生单元，用于根据所述输入参数，并基于预设的天线图形尺寸与输入参数的数学关系，获得对应所述输入参数的天线图形尺寸，并基于所述天线图形尺寸输出相应的天线图形。

上述方案中，所述系统还包括：数学关系创建单元，用于基于以下方式创建所述天线图形尺寸与输入参数的数学关系：

设计标准天线，并确定所述标准天线的谐振频率、天线阻抗实部和天线阻抗虚部；

对所述标准天线的谐振频率、天线阻抗实部和天线阻抗虚部进行拉偏，并确定和保存各个不同的谐振频率、天线阻抗实部和天线阻抗虚部与天线图形尺寸的数学关系。

上述方案中，所述标准天线为适用于三传输线T型匹配模型的标准天线。

上述方案中，所述标准天线为带中心环形结构的偶极子天线。

上述方案中，所述输出的天线图形不限定天线外部辐射体图形，所述天线外部辐射体图形为天线中心环形匹配结构以外的天线部分。