[发明专利]一种使用散射核方法的锥束CT散射校正方法

权利要求书

1.一种使用散射核方法的锥束CT散射校正方法，其特征在于，其步骤为：

步骤一：测量遮挡板下的散射信号；所述步骤一中遮挡板形状为遮挡中心是镂空的“十”字型，由两个铅条十字交叉构成，铅条宽2mm、高3mm、长120mm，铅条放置在圆形塑料板上；所述遮挡板放置在X射线源与被照物体之间，且围绕圆心按一定方向旋转；所述遮挡板离射线源230mm，离被照物770mm，离平板探测器1170mm；遮挡板放置在X射线源与被照物体之间是防止重建时因相同区域连续遮挡造成重建误差过大；遮挡板是测出部分区域的散射分布情况；

步骤二：自适应散射核参数的计算；

步骤三：估计扩散函数的参数；

步骤四：通过扩散函数对图像进行散射校正；所述估计扩散函数的参数和所述通过扩散函数对图像进行散射校正是通过迭代方法进行；

所述通过扩散函数对图像进行散射校正，散射分布函数PSF公式为：

PSF(I_p，I_o，r)＝A·(I_p/I_o)^α·(1n(I_o/I_p))^β·[exp(-r²/2σ₁²)+Bexp(-r²/2σ₂²))]；

估计(x，y)点处的散射公式为：

获取遮挡板下方的散射分布后，进行计算α，β，A，B，σ₁，σ₂，计算公式为：

A_f(x_m，y_n)＝A·(I_p(x_m，y_n)/I_o(x_m，y_n))^α·(ln(I_o(x_m，y_n)/I_p(x_m，y_n)))^β，

对应的不同区域可以求出不同的α，β，A，B，σ₁，σ₂，在初始散射校正后图像通过与散射核做卷积计算得到进一步的散射校正；

式中，x_m，y_n是大小为M*N图像坐标系中的坐标，其图像是降采样后的图像；I′_P(x_m，y_n)是初始射线强度估计；

步骤五：图像遮挡区域的修复；所述图像遮挡区域的修复是使用基于样例纹理的遮挡区域修复算法来进一步抑制因为遮挡部分区域对断层重建造成的影响，其步骤为：首先，标记要修复的区域；其次，使用被修复区域临近的像素的纹理计算纹理和结构；最后，填充；

步骤六：锥束CT的重建。