[发明专利]具有全方位反射镜的发光二极管及其相应的制造方法无效

专利信息
申请号: 201310455672.7 申请日: 2013-09-29
公开(公告)号: CN103489977A 公开(公告)日: 2014-01-01
发明(设计)人: 李智勇 申请(专利权)人: 映瑞光电科技(上海)有限公司
主分类号: H01L33/10 分类号: H01L33/10;H01L33/40;H01L33/00
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 201306 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 具有 全方位 反射 发光二极管 及其 相应 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种具有全方位反射镜的发光二极管,其特征在于:由下至上依次包括衬底、n型GaN层、n型GaN层上形成的n电极和有源层、所述有源层上形成的p型GaN层、所述p型GaN层上形成的ODR结构,以及发光二极管还包括透明导电层,所述ODR结构从下至上包括DBR反射结构和p电极,所述透明导电层位于所述DBR反射结构和p电极之间且延伸至未形成所述DBR反射结构的p型GaN层上,其中,所述n电极和p电极由反射金属构成。

2.如权利要求1所述的具有全方位反射镜的发光二极管,其特征在于:所述DBR反射结构采用蒸发镀膜或溅射镀膜方式制作。

3.如权利要求1所述的具有全方位反射镜的发光二极管,其特征在于:所述DBR反射结构由两种不同折射率材料交替组合构成。

4.如权利要求3所述的具有全方位反射镜的发光二极管,其特征在于:两种所述不同折射率材料是SiO2、Ti3O5、Al2O3或MgF2中的任意两种。

5.如权利要求1所述的具有全方位反射镜的发光二极管,其特征在于:所述n电极和p电极还包括一保护金属,所述保护金属对位于其下的反射金属进行保护。

6.如权利要求5所述的具有全方位反射镜的发光二极管,其特征在于:所述反射金属是Ag、Al或Rh中的任意一种,与所选的反射金属搭配的保护金属所使用的材料为Cr、Ni、Pt、Au、W或Ti中的至少一种。

7.如权利要求1所述的具有全方位反射镜的发光二极管,其特征在于,还包括:覆盖在上述结构表面但除所述n电极和p电极的部分区域之外的一绝缘层,所述绝缘层使用的材料为SiO2、SiON或Si3N4中的任意一种;

位于除所述n电极和p电极之外的部分或全部透明导电层的表面上。

8.一种具有全方位反射镜的发光二极管的制造方法,其特征在于,包括如下步骤:

在一衬底上由下至上依次生长n型GaN层、有源层、p型GaN层;

从顶部的部分p型GaN层刻蚀至n型GaN层,形成n型GaN台面;

在所述p型GaN层上形成DBR反射结构;

在所述DBR反射结构和p型GaN层上沉积一透明导电层;

运用负光刻胶并采用剥离技术,在所述DBR反射结构上的透明导电层和n型GaN台面上,分别形成由反射金属构成的p电极和n电极,所述DBR反射结构与p电极形成ODR结构。

9.如权利要求8所述的制造方法,其特征在于:所述DBR反射结构采用蒸发镀膜或溅射镀膜方式制作。

10.如权利要求8所述的制造方法,其特征在于:所述DBR反射结构由两种不同折射率材料交替组合构成。

11.如权利要求10所述的制造方法,其特征在于:两种所述不同折射率材料是SiO2、Ti3O5、Al2O3或MgF2中的任意两种。

12.如权利要求8所述的制造方法,其特征在于:运用负光刻胶并采用剥离技术,在所述DBR反射结构上的透明导电层和n型GaN台面上,分别形成p电极和n电极的步骤包括:

在所述透明导电层和n型GaN台面上形成一负光刻胶;

在所述负光刻胶中形成p窗口和n窗口,所述p窗口暴露出位于所述DBR反射结构上的透明导电层的表面,所述n窗口暴露出所述n型GaN台面的表面;

淀积反射金属后,采用剥离技术剥离多余的金属并去除所述负光刻胶,以在所述p窗口和n窗口中分别形成p电极和n电极。

13.如权利要求8至12中任意一项所述的制造方法,其特征在于:所述n电极和p电极还包括一保护金属,所述保护金属对位于其下的反射金属进行保护。

14.如权利要求13所述的制造方法,其特征在于:所述反射金属是Ag、Al或Rh中的任意一种,与所选的反射金属搭配的保护金属所使用的材料为Cr、Ni、Pt、Au、W或Ti中的至少一种。

15.如权利要求8所述的制造方法,其特征在于:还包括:在上述结构表面但除所述n电极和p电极的部分区域之外覆盖一绝缘层,所述绝缘层使用的材料为SiO2、SiON或Si3N4中的任意一种。

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