[发明专利]具有全方位反射镜的发光二极管及其相应的制造方法无效
申请号: | 201310455672.7 | 申请日: | 2013-09-29 |
公开(公告)号: | CN103489977A | 公开(公告)日: | 2014-01-01 |
发明(设计)人: | 李智勇 | 申请(专利权)人: | 映瑞光电科技(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L33/10 | 分类号: | H01L33/10;H01L33/40;H01L33/00 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201306 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 全方位 反射 发光二极管 及其 相应 制造 方法 | ||
1.一种具有全方位反射镜的发光二极管,其特征在于:由下至上依次包括衬底、n型GaN层、n型GaN层上形成的n电极和有源层、所述有源层上形成的p型GaN层、所述p型GaN层上形成的ODR结构,以及发光二极管还包括透明导电层,所述ODR结构从下至上包括DBR反射结构和p电极,所述透明导电层位于所述DBR反射结构和p电极之间且延伸至未形成所述DBR反射结构的p型GaN层上,其中,所述n电极和p电极由反射金属构成。
2.如权利要求1所述的具有全方位反射镜的发光二极管,其特征在于:所述DBR反射结构采用蒸发镀膜或溅射镀膜方式制作。
3.如权利要求1所述的具有全方位反射镜的发光二极管,其特征在于:所述DBR反射结构由两种不同折射率材料交替组合构成。
4.如权利要求3所述的具有全方位反射镜的发光二极管,其特征在于:两种所述不同折射率材料是SiO2、Ti3O5、Al2O3或MgF2中的任意两种。
5.如权利要求1所述的具有全方位反射镜的发光二极管,其特征在于:所述n电极和p电极还包括一保护金属,所述保护金属对位于其下的反射金属进行保护。
6.如权利要求5所述的具有全方位反射镜的发光二极管,其特征在于:所述反射金属是Ag、Al或Rh中的任意一种,与所选的反射金属搭配的保护金属所使用的材料为Cr、Ni、Pt、Au、W或Ti中的至少一种。
7.如权利要求1所述的具有全方位反射镜的发光二极管,其特征在于,还包括:覆盖在上述结构表面但除所述n电极和p电极的部分区域之外的一绝缘层,所述绝缘层使用的材料为SiO2、SiON或Si3N4中的任意一种;
位于除所述n电极和p电极之外的部分或全部透明导电层的表面上。
8.一种具有全方位反射镜的发光二极管的制造方法,其特征在于,包括如下步骤:
在一衬底上由下至上依次生长n型GaN层、有源层、p型GaN层;
从顶部的部分p型GaN层刻蚀至n型GaN层,形成n型GaN台面;
在所述p型GaN层上形成DBR反射结构;
在所述DBR反射结构和p型GaN层上沉积一透明导电层;
运用负光刻胶并采用剥离技术,在所述DBR反射结构上的透明导电层和n型GaN台面上,分别形成由反射金属构成的p电极和n电极,所述DBR反射结构与p电极形成ODR结构。
9.如权利要求8所述的制造方法,其特征在于:所述DBR反射结构采用蒸发镀膜或溅射镀膜方式制作。
10.如权利要求8所述的制造方法,其特征在于:所述DBR反射结构由两种不同折射率材料交替组合构成。
11.如权利要求10所述的制造方法,其特征在于:两种所述不同折射率材料是SiO2、Ti3O5、Al2O3或MgF2中的任意两种。
12.如权利要求8所述的制造方法,其特征在于:运用负光刻胶并采用剥离技术,在所述DBR反射结构上的透明导电层和n型GaN台面上,分别形成p电极和n电极的步骤包括:
在所述透明导电层和n型GaN台面上形成一负光刻胶;
在所述负光刻胶中形成p窗口和n窗口,所述p窗口暴露出位于所述DBR反射结构上的透明导电层的表面,所述n窗口暴露出所述n型GaN台面的表面;
淀积反射金属后,采用剥离技术剥离多余的金属并去除所述负光刻胶,以在所述p窗口和n窗口中分别形成p电极和n电极。
13.如权利要求8至12中任意一项所述的制造方法,其特征在于:所述n电极和p电极还包括一保护金属,所述保护金属对位于其下的反射金属进行保护。
14.如权利要求13所述的制造方法,其特征在于:所述反射金属是Ag、Al或Rh中的任意一种,与所选的反射金属搭配的保护金属所使用的材料为Cr、Ni、Pt、Au、W或Ti中的至少一种。
15.如权利要求8所述的制造方法,其特征在于:还包括:在上述结构表面但除所述n电极和p电极的部分区域之外覆盖一绝缘层,所述绝缘层使用的材料为SiO2、SiON或Si3N4中的任意一种。
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