[发明专利]双线激光量测系统及方法在审

专利信息
申请号: 201310369717.9 申请日: 2013-08-22
公开(公告)号: CN104422387A 公开(公告)日: 2015-03-18
发明(设计)人: 张滋;李博;柳庆 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/03;G01B11/06;G01B11/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 双线 激光 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种量测系统及方法,特别是关于一种双线激光量测系统及方法。

背景技术

在量测设备中,一般都安装有一个或多个传感器用于对待测物体进行尺寸量测,包括待测物体的长度、宽度、厚度、角度等。对于使用多个传感器量测的量测设备,必须将每个传感器采集的数据拟合在同一坐标系下才能进行量测计算,来获得待测物体的量测结果。然而,不同的量测设备根据其传感器的数量以及安装方式,传感器采集数据坐标的也不同,因此将不同数据进行拟合的方法也不尽相同,从而造成对待测物体的最终量测结果存在偏差。

发明内容

鉴于以上内容,有必要提供一种双线激光量测系统及方法,能够为安装在量测设备中的每一个激光传感器分别建立一个坐标系,将每一个激光传感器所采集的量测数据进行数据拟合,并基于坐标拟合关系来量测待测物体。

所述的一种双线激光量测系统运行于量测设备中,该量测设备安装有第一激光传感器和第二激光传感器。该双线激光量测系统包括:初始化模块,用于获取第一激光传感器的第一有效扫描区域及第二激光传感器的第二有效扫描区域,以及判断量测设备是开启其中之一个还是两个激光传感器对待测物体进行量测;坐标系建立模块,用于当量测设备同时开启第一激光传感器和第二激光传感器时,为第一有效扫描区域建立第一坐标系,为第二有效扫描区域建立第二坐标系,将第一坐标系作为参考坐标系,以及设置第二坐标系的坐标旋转参数及坐标平移参数;坐标拟合模块,用于根据坐标旋转参数将第二坐标系下的测量数据以第二坐标系的原点为中心进行坐标旋转,以及将第二坐标系下的测量数据按照坐标平移参数进行坐标平移来建立第一坐标系下的测量数据与第二坐标系下的测量数据的坐标拟合关系;量测模块,用于根据建立的坐标拟合关系利用第一激光传感器采集的量测数据与第二激光传感器采集的量测数据进行坐标量测计算来产生待测物体的量测结果。

所述的双线激光量测方法应用于量测设备中,该量测设备安装有第一激光传感器和第二激光传感器。该方法包括步骤:获取第一激光传感器的第一有效扫描区域及第二激光传感器的第二有效扫描区域;判断量测设备是开启其中之一个还是两个激光传感器对待测物体进行量测;当量测设备同时开启第一激光传感器和第二激光传感器时,为第一有效扫描区域建立第一坐标系,并为第二有效扫描区域建立第二坐标系;将第一坐标系作为参考坐标系,并设置第二坐标系的坐标旋转参数及坐标平移参数;根据坐标旋转参数将第二坐标系下的测量数据以第二坐标系的原点为中心进行坐标旋转;将第二坐标系下的测量数据按照坐标平移参数进行坐标平移来建立第一坐标系下的测量数据与第二坐标系下的测量数据的坐标拟合关系;根据建立的坐标拟合关系利用第一激光传感器采集的量测数据与第二激光传感器采集的量测数据进行坐标量测计算来产生待测物体的量测结果。

相较于现有技术,本发明所述的双线激光量测系统及方法,当量测设备只开启其中之一激光传感器时,为其中之一激光传感器的有效扫描区域建立一个单一坐标系,并基于该单一坐标系下对待测物体进行量测。当量测设备同时开启多个激光传感器时,则为安装在量测设备中的每一个激光传感器分别建立一个坐标系,将每一个激光传感器所采集的量测数据进行坐标拟合,并基于坐标拟合关系来计算待测物体的量测结果。

附图说明

图1是本发明双线激光量测系统较佳实施例的运行环境示意图。

图2是本发明双线激光量测方法较佳实施例的流程图。

图3是为单一激光传感器建立单一坐标系的示意图。

图4是将双线激光传感器采集的量测数据进行数据拟合的示意图。

主要元件符号说明

量测设备          1

双线激光量测系统  10

初始化模块        101

坐标系建立模块    102

坐标拟合模块      103

量测模块          104

第一激光传感器    11

第二激光传感器    12

存储设备          13

微处理器          14

待测物体          2

具体实施方式

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