[发明专利]一种LED外延片检测方法及装置有效
| 申请号： | 201210347164.2 | 申请日： | 2012-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN102841281A | 公开（公告）日： | 2012-12-26 |
| 发明（设计）人： | 梁秉文;张涛 | 申请（专利权）人： | 苏州纳方科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京华夏博通专利事务所(普通合伙) 11264 | 代理人： | 王锋 |
| 地址： | 215123 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 led 外延 检测 方法 装置 | ||
1.一种LED外延片检测方法，其特征在于，它包括：
在LED外延片的上、下端面之间施加一交流方波电压，并且所述交流方波电压的大小足以驱动LED外延片发光。
2.如权利要求1所述的LED外延片检测方法，其特征在于，它包括：
将LED外延片置于一导电基底上，且使所述LED外延片的上、下端面分别与一导电探针及导电基底接触，
以及，在所述导电基底和导电探针之间施加一交流方波电压，并且所述交流方波电压的大小足以驱动LED外延片发光。
3.根据权利要求1或2所述的LED外延片检测方法，其特征在于，所述交流方波电压的大小为2-250V。
4.一种LED外延片检测装置，其特征在于，它包括：
用于承载LED外延片的导电基底，且所述导电基底与LED外延片下端面接触；
导电探针，其与LED外延片的上端面接触，
以及，用于在所述导电基底与导电探针之间施加一交流方波电压的交流方波电压源，所述交流方波电压的大小足以驱动LED外延片发光。
5.根据权利要求4所述的LED外延片检测装置，其特征在于，所述交流方波电压的大小为2-250V。
6.根据权利要求5所述的LED外延片检测装置，其特征在于，所述交流方波电压的大小为3-60V。
7.根据权利要求4所述的LED外延片检测装置，其特征在于，所述LED外延片下部设有衬底，且所述衬底的下端面与导电基底接触。
8.根据权利要求4-6中任一项所述的LED外延片检测装置，其特征在于，所述导电探针与交流方波电压源的一极电连接，所述导电基底接地或与交流方波电压源的另一极电连接。
9.根据权利要求7所述的LED外延片检测装置，其特征在于，所述衬底包括绝缘衬底或导电衬底，所述绝缘衬底包括蓝宝石衬底。
10.根据权利要求4或7所述的LED外延片检测装置，其特征在于，所述导电基底包括金属盘。
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