[发明专利]发光二极管与成长基板分离的方法无效

专利信息
申请号: 201210301116.X 申请日: 2012-08-22
公开(公告)号: CN103633194A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 颜伟昱;陈复邦;张智松 申请(专利权)人: 联胜光电股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;常大军
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 发光二极管 成长 分离 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种发光二极管的制造方法,尤其涉及一种分离发光二极管与成长基板的方法。

背景技术

发光二极管(Light Emitting Diode,LED)主要由发光的半导体材料多重外延而成,以蓝光发光二极管为例,其主要是由氮化镓基(GaN-based)外延薄膜组成,其内部结构为一个PN结构,具有单向导电性。

其在制作上一般是使用蓝宝石基板,用以成长出较高品质的氮化镓基(GaN-based)外延薄膜。然而蓝宝石基板的导电性及导热性不良,限制传统蓝光LED仅能采用正负电极在基板同一侧的横向结构。如此一来,除了减少元件的发光面积之外,更因电流拥挤效应(current crowding effect)使元件导通电阻及顺向压降增加。

请参阅图1A及图1B所示,分别为现有发光二极管元件的蓝宝石基板移除前及移除后示意图,为了改善上述缺失,目前高功率的发光二极管元件的作法是使用蓝宝石基板1成长氮化镓基外延薄膜2后,接着成长一结合层3,在该结合层3上形成一新的基板4,并使用激光剥离方法(Laser Lift-Off)或是化学机械研磨的方式(Chemical Mechanical Polishing,CMP)来移除蓝宝石基板1,使氮化镓基外延薄膜2最后是位于新的基板4上。新基板4通过其高散热系数与良好的导电性,更适应于高驱动电流领域,可解决发光二极管元件高流明通量下散热等问题。

然而,上述移除蓝宝石基板的方法中,激光剥离方法不但成本昂贵,还具有产生应力不易控制,而容易造成破片的问题,而化学机械研磨的方式则具有研磨精度低,难以掌握研磨范围,容易造成过度研磨或是研磨不足的问题。

发明内容

本发明的主要目的,在于解决现有分离发光二极管元件与成长基板的方法,具有成本昂贵及不易控制的问题。

为达上述目的,本发明提供一种发光二极管与成长基板分离的方法,包含以下步骤:

步骤S1:提供一成长基板,该成长基板具有一连接面及一远离该连接面的底面;

步骤S2:于该连接面上形成多个孔洞;

步骤S3:于该连接面上成长一发光二极管结构,并于该发光二极管结构形成一与该连接面连接的连接部;

步骤S4:研磨该底面,使该底面内缩与该孔洞连通;以及

步骤S5:将一蚀刻液由该孔洞导入该连接部以进行蚀刻,分离该发光二极管结构及该成长基板。

如此一来,本发明利用该孔洞的形成,并以研磨的方式使该孔洞导通后,即可将该蚀刻液由该孔洞导入该连接部进行蚀刻,以分离该发光二极管结构及该成长基板,因此容易控制研磨过程而具有高工艺良率及降低制造成本的优点。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述,但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1A,为现有发光二极管元件的蓝宝石基板移除前示意图;

图1B,为现有发光二极管元件的蓝宝石基板移除后示意图;

图2,为本发明第一实施例的步骤流程示意图;

图3A至图3D,为本发明第一实施例的工艺流程示意图;

图4,为本发明第二实施例的步骤流程示意图;

图5A至图5F,为本发明第二实施例的工艺流程示意图;

图6A至图6F,为本发明第三实施例的工艺流程示意图。

具体实施方式

有关本发明的详细说明及技术内容,现就配合附图说明如下:

请搭配参阅图2及图3A至图3D所示,图2为本发明第一实施例的步骤流程示意图,图3A至图3D为本发明第一实施例的工艺流程示意图,本发明为一种发光二极管与成长基板10分离的方法,包含以下步骤:

请参阅图3A,于步骤S1及步骤S2中,首先提供一成长基板10,该成长基板10具有一连接面11及一远离该连接面11的底面12,并以蚀刻的方式于该连接面11上形成多个孔洞13,在此实施例中,该成长基板10为一蓝宝石基板,该孔洞13具有一介于10至50微米之间高度,以及一介于2至6微米的宽度,且该孔洞13的宽度因为受蚀刻的影响,由该连接面11朝该底面12渐缩,不过该孔洞13并未贯穿该成长基板10。

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