[发明专利]校正量子计数探测器中计数率漂移的方法和X射线系统

权利要求书

1.一种用于在具有多个平面布置的量子计数探测器元件（D_n，m）的电离辐射探测器中校正计数率漂移的方法，其中每个探测器元件（D_n，m）具有带有明显不同的能量门限（S1，S2，S3）的至少两个计数器（Z_S1，Z_S2，Z_S3）的组合，所述能量门限被组合地分析以用于确定入射辐射剂量，其特征在于，基于前面确定的计数率彼此的函数依赖关系并且在每个探测器元件使用至少一个计数器（Z_S1，Z_S2，Z_S3）作为参考的情况下对具有不同能量门限的各个其它计数器的计数率进行校正。

2.根据上述权利要求1所述的方法，其特征在于，在透射不同厚度的相同的或关于其吸收特征等效的材料的情况下测量每个探测器元件（D_n，m）的各个计数器（Z_S1，Z_S2，Z_S3）的计数率的函数依赖关系，该材料在之后的X射线检查中至少近似在待检查的测量对象（7）中还存在。

3.根据上述权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于，为了确定探测器（D）的探测器元件（D_n，m）的计数率漂移的函数依赖关系，确定至少两个计数器（Z_S1，Z_S2，Z_S3）之间的线性回归系数，并且由此校正至少一个计数器（Z_S1，Z_S2，Z_S3）的计数率。

4.根据上述权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于，为了确定探测器的探测器元件（D_n，m）的计数率漂移的函数依赖关系，确定至少两个计数器（Z_S1，Z_S2，Z_S3）之间的多项式回归系数，并且由此校正至少一个计数器（Z_S1，Z_S2，Z_S3）的计数率。

5.根据上述权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所测量的计数率（I_i）和/或其对数等效L_i在其使用之前进行标准化。

6.根据上述权利要求5所述的方法，其特征在于，平场校正被用于标准化。

7.根据上述权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法用于X射线探测器。

8.根据上述权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法用于CT探测器。

9.一种X射线系统，特别是CT系统（1），具有带有量子计数探测器元件（D_n，m）的探测器（3，5），其中具有明显不同的能量门限（S1，S2，S3）的至少两个计数器（Z_S1，Z_S2，Z_S3）的组合配备给每个探测器元件（D_n，m），以及具有程序存储器的控制和计算单元（10），在该程序存储器中存储了计算机程序（Prg₁-Prg_n），所述计算机程序在运行中执行根据上述权利要求中任一项所述的方法。

10.一种用于量子计数探测器元件（D_n,m）的电路布置，其这样运行，即在运行中执行根据权利要求1至8中任一项所述的方法。