[发明专利]一种新结构晶体硅太阳电池及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201210141808.2 申请日: 2012-05-08
公开(公告)号: CN102709377A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 王书博;邓伟伟;杨阳 申请(专利权)人: 常州天合光能有限公司
主分类号: H01L31/068 分类号: H01L31/068;H01L31/0224;H01L31/0216;H01L27/142;H01L31/18
代理公司: 常州市维益专利事务所 32211 代理人: 王凌霄
地址: 213031 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 结构 晶体 太阳电池 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种新结构晶体硅太阳电池及其制备方法。

背景技术

目前单晶硅,多晶硅太阳电池占到全球市场的90%,基于单晶多晶的太阳电池经过长期发展,基于传统铝背场丝网印刷技术已经比较完善,但是这种电池的主要缺点是:铝背场的表面复合铝较高,对效率的提高有很大制约;由于铝,硅热膨胀系数不同在烧结时候会使得硅片弯曲,从而影响电池的封装;传统商业电池其本质是一个大的PN结,硅片本身的缺陷则会严重影响到电池的效率。

发明内容

本发明要解决的技术问题是:克服现有技术中的不足,提供一种新结构晶体硅太阳能电池,将电池物理上分割为若干子电池,实现电池板双面受光,并且显著提高电池的开路电压。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种新结构晶体硅太阳电池,包括N-Type硅片本体,N-Type硅片本体的上、下表层分别具有B掺杂区组,相邻B掺杂区之间分别刻蚀有隔离槽,N-Type硅片本体的上、下表层上分别镀有氧化铝层,氧化铝层上镀有氮化硅层,氮化硅层上丝网印刷有电极。

进一步说,所述的隔离槽分别逐个设置在相邻B掺杂区之间,隔离槽内覆盖有氧化铝层中的氧化铝,隔离槽的宽度为100~200nm,隔离槽的深度为80~120μm。

进一步说,B掺杂区的宽度为1~2cm,B掺杂区的深度为0.8~1μm。

进一步说,氧化铝层的厚度为6~10nm。

进一步说,氮化硅层的厚度为70~80nm。

进一步说,电极宽度为0.5~1cm。

一种新结构晶体硅太阳电池的制备方法,①将硅片进行双面制绒,②双面涂上掺杂剂,③使用激光掺杂在硅片上形成B掺杂区组,④使用DRIE(反应离子刻蚀)技术再在相邻B掺杂区(2)之间分别刻蚀有隔离槽(3),⑤将硅片放到1%的KOH溶液中浸泡10分钟,以去除损伤层,⑥使用ALD方法在硅片的正反面制备氧化铝,⑦使用BECVD方法再在氧化铝层(4)的基础上双面镀氮化硅,⑧使用丝网印刷的方法印刷电极(6),⑨烧结。

本发明的有益效果是:(1)将电池分成若干子电池,子电池串联可以将硅片本身缺陷带来的电性能的损害降低到最小;(2)电池双面受光,可以最大限度的吸收光子;(3)电池的两面只有两根栅线,完全避免了遮光效应;(4)钝化了所有硅片表面,使得每一个子电池都可以获得最佳性能。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是本发明的结构剖面结构示意图。

图中1.N-Type硅片本体,2.B掺杂区,3.隔离槽,4.氧化铝层,5.氮化硅层,6.电极。

具体实施方式

现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本发明的基本结构,因此其仅显示与本发明有关的构成。

如图1所示的一种新结构晶体硅太阳电池,包括N-Type硅片本体1,N-Type硅片本体1的上、下表层中分别包括B掺杂区组和隔离槽组,N-Type硅片本体1的上、下表层上分别镀有氧化铝层4,氧化铝层4上镀有氮化硅层5,氮化硅层5上丝网印刷有电极6,在隔离槽3中填覆有氧化铝层4中的氧化铝,隔离槽3分别逐个设置在相邻B掺杂区2之间。

这样的结构将电池物理上分割为若干个子电池,同时可以实现双面受光;物理分割的子电池之间串联,可以显著提高电池的开路电压,并将硅片本身的缺陷对电池性能的影响降到最低;使用ALD方法制备的氧化铝可以完全钝化电池的所有表面同时也钝化隔离槽3,将表面复合速率降到最低;尽量降低电极6的遮光。

本发明的制备方法步骤包括:①将硅片进行双面制绒,②双面涂上掺杂剂,③使用激光掺杂在硅片上形成B掺杂区组,④使用DRIE(反应离子刻蚀)技术再在相邻B掺杂区2之间分别刻蚀有隔离槽3,⑤将硅片放到1%的KOH溶液中浸泡10分钟,以去除损伤层,⑥使用ALD方法在硅片的正反面制备氧化铝,⑦使用PECVD方法再在氧化铝层4的基础上双面镀氮化硅,⑧使用丝网印刷的方法印刷电极6,⑨烧结。

通过这种制备方法,快速有效的制备电池片,提高生产效率。

以上述依据本发明的理想实施例为启示,通过上述的说明内容,相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

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