[发明专利]一种测量固体壁面波动液膜层平均厚度的方法

权利要求书

1.一种测量固体壁面上波动液膜层平均厚度的方法，其步骤如下：

a)采用放大摄影系统对液滴产生、开始撞击固体壁面、壁面上液膜厚度增加直到液膜厚度达到动态稳定的整个过程进行可视化拍摄；

b)定位液膜厚度在原始图片高度方向上的像素范围，对选定范围内的各像素点逐一读取，得到灰度级矩阵；计算灰度级矩阵中各列上不同行间的灰度级梯度，得到各列中灰度级骤然增加的像素点，该些像素点组成的曲线是液膜表面所对应的位置；

c)采用统计方法得到液膜表面以下区域的像素点总个数a₁；

d)计算固体壁面Y方向的像素点个数Nh；

e)液膜层平均厚度为a₁与Nh的比值。

2.如权利要求1所述的测量方法，其中，步骤b中定位液膜厚度在原始图片高度方向上的像素范围是由软件CamControl完成。

3.如权利要求1所述的测量方法，其中，步骤b中对选定范围内的各像素点逐一读取，得到灰度级矩阵，是由Matlab软件完成。

4.如权利要求1所述的测量方法，其中，步骤d中固体壁面Y方向的像素点个数Nh通过下式计算得到：

Nh=Σi=1i=5Nhi5]]>

式中，Nh_i为任意选取不同固体壁面高度处像素点个数。

5.如权利要求1所述的测量方法，其中，步骤e中液膜层平均厚度H通过下式计算得到：

H=λ(a1n-Nh)]]>

式中λ为单位像素对应的实际长度，mm/pixel；n为图片上行像素数。