[发明专利]发光二极管贴片机及其对位系统无效
申请号: | 201210069269.6 | 申请日: | 2012-03-16 |
公开(公告)号: | CN103311383A | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
发明(设计)人: | 赖志成 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光二极管 贴片机 及其 对位 系统 | ||
1.一种发光二极管对位系统,用于对贴装在电路板上的发光二极管芯片进行对位,该电路板上具有至少两个板体对位点,每个发光二极管芯片具有一个光学识别点,该发光二极管对位系统包括:
感测装置,用于感测电路板的板体对位点的位置以及每个发光二极管芯片的光学识别点的位置;
中央处理器,该中央处理器接收该感测装置感测到电路板的板体对位点的位置以及每个发光二极管芯片的光学识别点的位置,并根据该板体对位点的位置与光学识别点的位置进行比较,从而得出该发光二极管芯片是否偏位,并将比较结果传送至该微调装置;以及
微调装置,该微调装置接收该中央处理器的比较结果,并根据比较结果选择性调整该发光二极管芯片的位置,以使发光二极管芯片的光学识别点与该电路板的板体对位点对准。
2.如权利要求1所述的发光二极管对位系统,其特征在于,该感测装置为影像感测器,其放大倍率为大于等于50倍。
3.如权利要求2所述的发光二极管对位系统,其特征在于,该影像感测器的放大倍率为小于等于100倍。
4.如权利要求1所述的发光二极管对位系统,其特征在于,该感测装置感测该微调装置的调整结果,并将该结果反馈至该中央处理器。
5.如权利要求4所述的发光二极管对位系统,其特征在于,该影像感测器实时连续捕捉该发光二极管芯片在微调过程中的影像,并将其传送至该中央处理器,该中央处理器根据该影像感测器感测的结果判断是否需要对该发光二极管芯片的位置进行微调,从而控制该微调装置的工作状态。
6.如权利要求1所述的发光二极管对位系统,其特征在于,该光学识别点位于该发光二极管芯片内部。
7.如权利要求1所述的发光二极管对位系统,其特征在于,每个发光二极管芯片的光学识别点位于发光二极管芯片的同一位置。
8.如权利要求1所述的发光二极管对位系统,其特征在于,该电路板上具有两个板体对位点,且位于该电路板的相对两端。
9.一种发光二极管贴片机,其特征在于,该发光二极管贴片机包括如权利要求1-8中任意一项中的发光二极管对位系统。
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