[发明专利]一种制备p型CuAlO2透明导电薄膜的方法无效
申请号: | 201210059150.0 | 申请日: | 2012-03-08 |
公开(公告)号: | CN102560362A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 黄延伟;席俊华;季振国 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | C23C14/08 | 分类号: | C23C14/08;C23C14/30 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 杜军 |
地址: | 310018 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 制备 cualo sub 透明 导电 薄膜 方法 | ||
技术领域
本发明属于半导体材料制备技术领域,具体涉及一种制备p型CuAlO2透明导电薄膜的方法。
背景技术
透明导电氧化物(TCO)是平板显示器、太阳电池、光电子器件等领域中不可或缺的材料,如In2O3:Sn (ITO), ZnO:Al (AZO), 和SnO2:F (FTO)等,它们均为n型导电材料,其薄膜仅作为单一的电学或光学涂层使用,而pn结是半导体器件的基础,p型TCO材料是制作透明pn结的必不可少的材料,但p型TCO发展较为缓慢,制约了半导体相关器件的开发和应用。
1997年Kawazoe等人首次报道了具有p型铜铁矿结构的CuAlO2透明导电氧化物薄膜,引发了人们对p型透明导电薄膜的研发热情,但至今CuAlO2薄膜的性能仍有待于提高。目前CuAlO2薄膜主要是采用脉冲激光沉积设备制得,该方法制得的薄膜均匀性差,制备设备复杂,成本太高,很难实现p型CuAlO2薄膜在工业上的应用与推广。磁控溅射方法制备的薄膜尽管有着大面积均匀成膜、易于工业化的优点,但其所制备的薄膜结晶性差,而且难以保持薄膜成分与靶材的一致性,不适合制备具有多元素化学计量比的薄膜。因此,开发高质量p型CuAlO2薄膜的低成本、高效率制备具有重要的应用价值。
电子束蒸发镀膜技术具有简单易操作的优点,且其制备薄膜过程中具有电子束能量高、蒸发速率快等特点,对于氧化物薄膜的制备,可以不通入任何反应气体,直接从陶瓷靶材上蒸发在衬底上成膜,是一种低成本、高效率沉积氧化物薄膜的方法和生产工艺。合成晶相纯净的适合于电子束蒸发镀膜设备使用的CuAlO2陶瓷靶材对成膜质量非常关键。通常电子束蒸发镀膜设备的源材料(即靶材)是放在一个可以转动的口径约为3.6cm铜坩埚或碳坩埚内,利用磁场控制电子束达到源材料上蒸发在基板上成膜,是一种低成本的可以保持靶材和薄膜的成分一致的镀膜方法。靶材的制备不能太大或太厚,否则,压片时成形难增加附加工序,另在烧结时易受热不均导致靶材晶相不纯,且不易放入源坩埚内。CuAlO2靶材在制备过程中所需温度在1000oC以上,由原材料Cu2O和Al2O3发生固相反应制得,合成CuAlO2所需原材料Cu2O和Al2O3具有价格低廉、环保等优点。
发明目的
本发明的目的在于提出一种简单易行、成本低、效率高的制备p型CuAlO2透明导电薄膜的方法。
本发明方法具体为:首先,采用Cu2O和Al2O3为原料,经过人工研磨或机械球磨4小时以上,使之混合均匀,将混合粉末装入压片机在30~50 MPa的压力下保持1~3分钟,制成直径为1.4 cm、厚度为 2.1 mm的圆柱状靶材坯料,将靶材坯料放入刚玉坩埚中盖好后置于单晶炉中,控制温度为1100oC~1200oC烧结10~15小时即得到CuAlO2陶瓷靶材;然后,将烧制好的CuAlO2陶瓷靶材放入电子束蒸发镀膜设备的铜坩埚或碳坩埚内,抽真空至1×10-4Pa以下,在不通入任何反应气体的条件下,进行电子束蒸发镀膜,控制电子束流为20mA~250mA,蒸发时间为5~45 分钟,即得到p型CuAlO2透明导电薄膜。
本发明的有益效果:
本发明所制备的靶材由于体积小,烧结过程中受热均匀,易得到晶相纯净的靶材,同时易于覆盖电子束蒸发镀膜设备的坩埚底部,不致于被电子束击穿,适用于对靶材形状没有固定要求的真空镀膜系统使用。
本发明使用单晶炉进行一次多批量的靶材烧结,且无需二次烧结,即得结晶优良的靶材。
电子束蒸发镀膜时不通入任何工作气体,减少了复杂气路管道设施,本底压强为1×10-4Pa,试验过程简单。
电子束蒸发镀膜时,蒸镀条件为:蒸镀高压为6 kV或8kV档位,电子束流为20~250mA,蒸镀时间5~45分钟。
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