[发明专利]一种预防电磁辐射致脑损伤的标志物无效
| 申请号： | 201210058742.0 | 申请日： | 2012-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN102586243A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 胡向军;王丽峰;田大为;王长振;乔思默;邹勇 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军军事医学科学院放射与辐射医学研究所 |
| 主分类号： | C12N15/11 | 分类号： | C12N15/11;C12Q1/68 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 史双元 |
| 地址： | 100850*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 预防 电磁辐射 脑损伤 标志 | ||
1.一种预防电磁辐射致脑损伤的标志物，其特征在于，该标志物为N-甲基-D-天门冬氨酸受体单核苷酸多态性。
2.根据权利要求1所述一种预防电磁辐射致脑损伤的标志物，其特征在于，所述N-甲基-D-天门冬氨酸受体的基因为NR2B基因。
3.根据权利要求1所述一种预防电磁辐射致脑损伤的标志物，其特征在于，所述N-甲基-D-天门冬氨酸受体单核苷酸多态性为NR2B基因启动子区-217位C/T单核苷酸多态。
4.一种预防电磁辐射致脑损伤的方法，其特征在于，按照如下步骤进行：
(1)抽取静脉血100-500μl，提取基因组DNA；
(2)以步骤(1)提取的基因组DNA为模板，以如序列表所述的核苷酸序列SEQ ID NO：1和SEQ ID NO：2为引物，做PCR；
(3)将步骤(2)得到的PCR产物进行测序，测序结果与标准NR2B基因比对，若其启动子区-217位基因型为CC型，则为抗电磁辐射致脑损伤大鼠；若其启动子区-217位基因型为CT型或TT型，则为电磁辐射致脑损伤敏感型大鼠。
5.根据权利要求4所述一种预防电磁辐射致脑损伤的方法，其特征在于，所述CC型是指在同源染色体上NR2B基因启动子区-217位点均为C，即野生纯合型；CT型是指在同源染色体上NR2B基因启动子区-217位点一个为C，另一个为T，即突变杂合型；TT型是指在同源染色体上NR2B基因启动子区-217位点均为T，即突变纯合型。
6.根据权利要求4所述一种预防电磁辐射致脑损伤的方法，其特征在于，所述标准NR2B基因为genebank上公布的NR2B基因序列，其genebank登录号为NC_005103。
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