[发明专利]一种GaN基LED超晶格缓冲层结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201210051922.6 申请日: 2012-03-01
公开(公告)号: CN103296161A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 邢志刚;彭昀鹏 申请(专利权)人: 上海蓝光科技有限公司
主分类号: H01L33/04 分类号: H01L33/04;H01L33/12;H01L33/00
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 201210 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 gan led 晶格 缓冲 结构 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种GaN基LED超晶格缓冲层结构,其特征在于,所述超晶格缓冲层结构为由多个GaN层及多个Al1-xGaxN层相互交替层叠的层叠结构,其中,0.01≤x≤1,且各该Al1-xGaxN层中Ga组分x随层叠数的增加而递增。

2.根据权利要求1所述的GaN基LED超晶格缓冲层结构,其特征在于:所述交替层叠数为2~30。

3.根据权利要求1所述的GaN基LED超晶格缓冲层结构,其特征在于:随着层叠数的增加,所述Al1-xGaxN层与所述GaN层的厚度比递增。

4.根据权利要求3所述的GaN基LED超晶格缓冲层结构,其特征在于:同一层叠的所述Al1-xGaxN层与所述GaN层的厚度比为0.1∶1~20∶1。

5.一种GaN基LED超晶格缓冲层结构的制备方法,其特征在于,所述制备方法至少包括:

提供蓝宝石衬底,并在所述蓝宝石衬底上形成由多个GaN层及多个Al1-xGaxN层相互交替层叠的层叠结构,其中,0.01≤x≤1,且各该Al1-xGaxN层中Ga组分x随层叠数的增加而递增。

6.根据权利要求5所述的GaN基LED超晶格缓冲层结构的制备方法,其特征在于,所述交替层叠数为2~30。

7.根据权利要求5所述的GaN基LED超晶格缓冲层结构的制备方法,其特征在于,通过控制通入的Al原子数与Ga原子数的比值来控制所述Al1-xGaxN层中x的取值。

8.根据权利要求5所述的GaN基LED超晶格缓冲层结构的制备方法,其特征在于,随着层叠数的增加,所述Al1-xGaxN层与所述GaN层的生长时间比值递增。

9.根据权利要求8所述的GaN基LED超晶格缓冲层结构的制备方法,其特征在于,同一叠层的所述Al1-xGaxN层与所述GaN层的生长时间比值为0.1∶1~20∶1。

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