[发明专利]均匀域测试装置及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及电磁场测试领域，尤其涉及一种电磁场辐射抗扰度均匀域测试装置及测试方法。

背景技术

在进行电磁兼容测试的射频电磁场辐射抗扰度试验之前需要对测试场地进行验证，进行均匀域的量测以确保测试场地中电磁场强分布充分均匀。一般来说，测试所使用的均匀域尺寸为1.5m×1.5m，其中包含十六个用于均匀域场强量测的测试点。在进行均匀域的量测时，将场强探头放置在其中一个测试点上，使用信号发生器、功率放大器及发射天线在每个预定的发射频率段中分别以不同的天线极性（例如水平与垂直极性）发射不同频率的测试信号。场强探头在所选的测试点分别接收具有不同极性及频率点测试信号，从而感测到对应各个测试信号的场强读值。在该测试点获得对应每个预订极性及频率点测试信号的场强读值后，将该场强探头移至其他测试点，一一重复上述测试操作，最后汇整所有测试点对应具有不同极性及频率点测试信号的场强读值，以考察该均匀域中场强的均匀度。

在上述测试过程中，当场强探头位于每个测试点时，都要分别调节天线极性及测试信号的发射频率，以在该测试点分别获取对应具有不同极性及频率点测试信号的场强读值，而且该操作需要重复多次。因此，上述现有测试方法显然耗费时间较长，操作繁琐，且多次移动场强探头容易导致定位精度不够而使测量的结果不准确。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种操作简单的均匀域测试装置。

另外，有必要提供一种操作简单的均匀域测试方法。

一种均匀域测试装置，适用于电磁场辐射抗扰度均匀域测试。该均匀域测试装置包括测试架与安装于测试架的若干场强探头。该若干场强探头位于同一平面内并呈阵列排布，位于同一行或同一列的相邻的场强探头的间距不小于电磁场辐射抗扰度均匀域测试中相邻测试点的最小间距。

一种上述均匀域测试装置进行均匀域测试的方法，包括如下步骤：a.将所述均匀域测试装置放入第一频段均匀域验证平面区域中，使若干场强探头分别对应该频段均匀域验证平面区域中的测试点；b.进行第一频段的均匀域的量测；c. 更换发射天线以使其适应第二频段的均匀域的量测；d.进行第二频段的均匀域的量测；e.判定测试结果。

使用所述均匀域测试装置进行电磁场辐射抗扰度均匀域测试，可拆卸地安装多个场强探头于该均匀域测试装置上，该多个场强探头位于同一平面内并呈阵列排布。该等场强探头分别对应电磁场辐射抗扰度均匀域测试的多个测试点。从而在测试时无须多次调节场强探头的位置，也无须多次调节发射频率及更换发射天线的极性，相比大大缩短了量测的时间并简化了操作过程。

附图说明

图1为本发明较佳实施例的均匀域测试装置的示意图。

图2为图1所示均匀域测试装置的进行均匀域测试的示意图。

图3为本发明较佳实施例的均匀域测试装置进行电磁场辐射抗扰度均匀域测试的方法流程图。

图4为本发明较佳实施例均匀域测试的方法中各频段测试的方法流程图。

主要元件符号说明

均匀域测试装置100测试架10底座12立柱14横杆16场强探头20发射天线200

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式