[发明专利]检测体处理装置以及检测体处理方法有效

专利信息
申请号: 201110266130.6 申请日: 2011-09-09
公开(公告)号: CN102435761A 公开(公告)日: 2012-05-02
发明(设计)人: 尾道博美;山崎充生 申请(专利权)人: 希森美康株式会社
主分类号: G01N35/02 分类号: G01N35/02;G01N35/10
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 许海兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 检测 处理 装置 以及 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及吸引检测体容器内的检测体,并对所吸引的检测体依次执行多种处理的检测体处理装置以及用于它的检测体处理方法。

背景技术

以往,作为吸引检测体并对该检测体依次执行多种处理的检测体处理装置,已知有吸引检测体并在显微镜载片上制作涂抹标本的涂抹标本制作装置、以及吸引检测体并收容于试管(cuvette)以对试管内的检测体进行分析的检测体分析装置等检测体处理装置。在这种检测体处理装置中,在检测体的处理中发生了异常的情况下使处理可以继续的检测体的处理继续进行亦为人所知。

例如,在日本专利公开特开平3-183955号公报的自动分析装置中,在判断为异常内容为与试样分注部、试剂分注部、搅拌部中的某一个有关的异常时,就停止反应台以及与测光相关联的部分以外的机构部分,自动分析装置成为部分停止状态。然后,对处于仅剩下测光作业的状态的多个检测体而言,如果测光作业结束自动分析装置就控制成停止所有的部分。

在如上述那样的当异常发生时部分停止的自动分析装置中,当异常发生后,作为部分停止对象的检测体的处理,就必须在对于仅剩下测光作业的所有检测体而言测光作业结束后才能够再次开始。因此,在日本专利公开特开平3-183955号公报的自动分析装置中,就有异常发生时的检测体处理的中断时间较长之类的问题。

发明内容

本发明就是鉴于这种课题而完成的发明,其目的是提供一种可以缩短异常发生时的检测体处理的中断时间的检测体处理装置以及检测体处理方法。

从而,本发明由以下技术方案组成。

(1)一种对检测体执行包含多个工序的一套处理的检测体处理装置,该检测体处理装置通过将针对一个检测体的处理与针对其他检测体的处理并列执行而依次处理多个检测体,所述检测体处理装置包括:

多个单元,各单元执行上述处理中所包含的各工序;

移送部,按照上述工序的流程将检测体移送到各单元;以及

控制部,监视上述移送部以及多个单元的状态,并控制上述移送部以及多个单元,

其中,在上述移送部以及多个单元未成功地执行动作的情况下,上述控制部如下控制上述移送部以及多个单元:

一边继续针对已经通过未成功地进行动作的单元或者移送部的位置的检测体的处理,一边中断针对尚未到达上述单元或者上述移送部的位置的检测体的处理;

使上述单元或移送部重试未成功地进行的动作;以及

在成功地进行了重试的动作的情况下,再次开始曾中断的处理。

(2)在技术方案(1)所记载的检测体处理装置中,

上述控制部使未成功地进行动作的单元或者移送部执行用于消除异常的恢复动作,之后重试不成功的动作。

(3)在技术方案(1)所记载的检测体处理装置中,

上述控制部控制多个单元以及移送部,以便在对尚未到达未成功地进行动作的单元或者移送部的位置的检测体正在执行由其它单元进行的工序的情况下,在完成由该其他单元进行的工序以后,中断对该检测体接着应当进行的工序。

(4)在技术方案(1)所记载的检测体处理装置中,

多个单元进一步包括:吸引部,从检测体容器吸引检测体,上述控制部在未成功地进行动作时,中断从检测体容器吸引新的检测体,如果成功地进行上述重试的动作,就再次开始从检测体容器吸引新的检测体。

(5)在技术方案(4)所记载的检测体处理装置中,

上述控制部在未成功地进行动作时,中断针对已从检测体容器吸引完毕且尚未到达上述单元或者上述移送部的吸引完毕检测体的处理,如果成功地进行上述重试的动作,就再次开始针对被中断的上述吸引完毕检测体的处理。

(6)在技术方案(5)所记载的检测体处理装置中,

上述控制部在未成功地进行动作时,中断作为上述吸引完毕检测体的处理的试剂向试管的分注,如果成功地进行上述重试的动作,就再次开始曾中断的上述试剂的分注。

(7)在技术方案(5)所记载的检测体处理装置中,

上述控制部如果成功地进行上述重试的动作,就基于处理的中断时间,判断可否再次开始处理,如果能够再次开始,就再次开始针对曾中断的检测体的处理。

(8)在技术方案(5)所记载的检测体处理装置中,

上述控制部依照处理的中断时间,变更被中断处理的上述吸引完毕检测体中的、成为再次开始对象的检测体。

(9)在技术方案(1)所记载的检测体处理装置中,还包括:

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