[发明专利]一种真空填孔技术无效

专利信息
申请号: 201010281567.2 申请日: 2010-09-15
公开(公告)号: CN102403262A 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 涂嘉晋;李应煌 申请(专利权)人: 涂嘉晋;李应煌
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 龚燮英
地址: 中国台湾台北县板桥市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 一种 真空 技术
【说明书】:

技术领域:

发明涉及一种晶圆填孔技术,尤其涉及一种真空填孔技术。

背景技术:

终端产品的发展趋势和规格需求,始终是组件技术发展的驱动力。若以三大信息产品类别——信息、通讯和消费性产品的发展以及其对组件的主要需求来看,始终仍不脱离小型化、高速/高效能、低成本、高容量、同/异质性整合等几个构面区追求。在整个WLCSP或者是3D IC成本中,填充孔洞占总成本41%,是非常重要的一环。

TSV即是将晶圆穿孔(镭射贯孔或蚀刻)后,将电子回路经由此孔由晶圆表面贯穿至晶圆背后,以达到使用晶圆背面制作回路的目的,并达到WLCSP的目的。

目前的填孔技术主要有挤压法和电镀法:挤压法是将充满纳米金属的导电金属胶以涂布挤压的方式,将银胶挤入孔中,形成导通状况。其无法解决的问题是在挤压(数次)的过程中无法避免气泡或孔中银胶不连续链接的问题;电镀法是先行以Sputter电镀或Plasma电浆方式将导电物质打入孔中,在利用电镀electroplate方式将导电金属镀入孔中;难度非常高,有时会破坏晶圆,亦有不均匀的状况产生,成本及设备非常高,有污染性。

发明内容:

本发明的目的是提供一种真空填孔技术,它无须以电镀方式进行加工,可依降低对环境的冲击,且投资成本大幅降低;挤压法无法处里的不连续见面和气孔,真空填孔技术可以轻易解决;真空填孔技术完全以物理特性方式进行加工,无化学反应中隐含的不稳定因素。

为了解决背景技术所存在的问题,本发明是采用以下技术方案:它的工艺流程为:1)将充满纳米金属液体,倒在晶圆表面,以晶圆旋转方式,使得纳米金属液体漫布在晶圆表面;2)在晶圆背面以覆盖一层滤网,利用真空方式将纳米金属液体经由贯孔吸出液体,而将纳米金属留在贯孔中;3)移除滤网,清除表面残留纳米金属;4)将整个晶圆,以真空将剩余液体升华,另一方面以高温,纳米金属则融化并固化。

本发明的优点是:它无须以电镀方式进行加工,可依降低对环境的冲击,且投资成本大幅降低;挤压法无法处里的不连续见面和气孔,真空填孔技术可以轻易解决;真空填孔技术完全以物理特性方式进行加工,无化学反应中隐含的不稳定因素。

具体实施方式:

本具体实施方式采用以下技术方案:它的工艺流程为:1)将充满纳米金属液体,倒在晶圆表面,以晶圆旋转方式,使得纳米金属液体漫布在晶圆表面;2)在晶圆背面以覆盖一层滤网,利用真空方式将纳米金属液体经由贯孔吸出液体,而将纳米金属留在贯孔中;3)移除滤网,清除表面残留纳米金属;4)将整个晶圆,以真空将剩余液体升华,另一方面以高温,纳米金属则融化并固化。

本具体实施方式的优点是:它无须以电镀方式进行加工,可依降低对环境的冲击,且投资成本大幅降低;挤压法无法处里的不连续见面和气孔,真空填孔技术可以轻易解决;真空填孔技术完全以物理特性方式进行加工,无化学反应中隐含的不稳定因素。

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