[发明专利]一种真空填孔技术无效
申请号: | 201010281567.2 | 申请日: | 2010-09-15 |
公开(公告)号: | CN102403262A | 公开(公告)日: | 2012-04-04 |
发明(设计)人: | 涂嘉晋;李应煌 | 申请(专利权)人: | 涂嘉晋;李应煌 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 龚燮英 |
地址: | 中国台湾台北县板桥市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 真空 技术 | ||
技术领域:
本发明涉及一种晶圆填孔技术,尤其涉及一种真空填孔技术。
背景技术:
终端产品的发展趋势和规格需求,始终是组件技术发展的驱动力。若以三大信息产品类别——信息、通讯和消费性产品的发展以及其对组件的主要需求来看,始终仍不脱离小型化、高速/高效能、低成本、高容量、同/异质性整合等几个构面区追求。在整个WLCSP或者是3D IC成本中,填充孔洞占总成本41%,是非常重要的一环。
TSV即是将晶圆穿孔(镭射贯孔或蚀刻)后,将电子回路经由此孔由晶圆表面贯穿至晶圆背后,以达到使用晶圆背面制作回路的目的,并达到WLCSP的目的。
目前的填孔技术主要有挤压法和电镀法:挤压法是将充满纳米金属的导电金属胶以涂布挤压的方式,将银胶挤入孔中,形成导通状况。其无法解决的问题是在挤压(数次)的过程中无法避免气泡或孔中银胶不连续链接的问题;电镀法是先行以Sputter电镀或Plasma电浆方式将导电物质打入孔中,在利用电镀electroplate方式将导电金属镀入孔中;难度非常高,有时会破坏晶圆,亦有不均匀的状况产生,成本及设备非常高,有污染性。
发明内容:
本发明的目的是提供一种真空填孔技术,它无须以电镀方式进行加工,可依降低对环境的冲击,且投资成本大幅降低;挤压法无法处里的不连续见面和气孔,真空填孔技术可以轻易解决;真空填孔技术完全以物理特性方式进行加工,无化学反应中隐含的不稳定因素。
为了解决背景技术所存在的问题,本发明是采用以下技术方案:它的工艺流程为:1)将充满纳米金属液体,倒在晶圆表面,以晶圆旋转方式,使得纳米金属液体漫布在晶圆表面;2)在晶圆背面以覆盖一层滤网,利用真空方式将纳米金属液体经由贯孔吸出液体,而将纳米金属留在贯孔中;3)移除滤网,清除表面残留纳米金属;4)将整个晶圆,以真空将剩余液体升华,另一方面以高温,纳米金属则融化并固化。
本发明的优点是:它无须以电镀方式进行加工,可依降低对环境的冲击,且投资成本大幅降低;挤压法无法处里的不连续见面和气孔,真空填孔技术可以轻易解决;真空填孔技术完全以物理特性方式进行加工,无化学反应中隐含的不稳定因素。
具体实施方式:
本具体实施方式采用以下技术方案:它的工艺流程为:1)将充满纳米金属液体,倒在晶圆表面,以晶圆旋转方式,使得纳米金属液体漫布在晶圆表面;2)在晶圆背面以覆盖一层滤网,利用真空方式将纳米金属液体经由贯孔吸出液体,而将纳米金属留在贯孔中;3)移除滤网,清除表面残留纳米金属;4)将整个晶圆,以真空将剩余液体升华,另一方面以高温,纳米金属则融化并固化。
本具体实施方式的优点是:它无须以电镀方式进行加工,可依降低对环境的冲击,且投资成本大幅降低;挤压法无法处里的不连续见面和气孔,真空填孔技术可以轻易解决;真空填孔技术完全以物理特性方式进行加工,无化学反应中隐含的不稳定因素。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造