[发明专利]电路板引脚布局架构

说明书

技术领域

本发明涉及一种电路板引脚布局架构，尤其涉及一种应用于高速信号传输设备中的电路板引脚布局架构。

背景技术

为了保证电路板以及设置在电路板上的电子元件的可靠性，在电路板生产过程及组装过程中均需要对电路板上的各个引脚以及焊点进行测试。通常电路板上均会设置多个与对应电路相互联通的测试引脚以方便对电路进行测试，然而目前电路板中的信号传输速度越来越快，从而导致不能在电路板的高速信号传输线路上设置测试引脚。目前对电路板进行检测的快速检测设备通常为针床，然而，电路板的体积越来越小，集成度越来越高，因此，电路板的引脚之间的距离变得非常小，而针床中探针之间的间距限制使得采用针床测试集成度越来越高的电路板产生了极大的困难，必要时需采用具有极细探针的针床来对电路板上的引脚进行检测，但是，这具有极细的探针的针床非常昂贵，从而无法降低电路板的测试成本。

发明内容

鉴于以上情况，有必要提供一种电路板引脚布局架构以降低电路板的制造成本。

一种电路板引脚布局架构，其包括一个电路板，偶数个形成在所述电路板上的高速信号传输引脚，以及多个对应所述高速信号传输引脚的辅助测试引脚。所述高速信号传输引脚依次两两构成多组高速信号传输引脚组，其中每一组高速信号传输脚组中的两个高速信号传输引脚测试中心点之间距小于或等于50mil。所述辅助测试引脚分别贴覆在所述多个高速信号传输引脚中，所述贴覆在同一组高速信号传输引脚组中的测试中心点之间的距离大于或者等于70mil。

一种电路板引脚布局架构，其包括一个电路板，偶数个形成在所述电路板上的高速信号传输引脚，以及多个对应所述高速信号传输引脚的辅助测试引脚。所述高速信号传输引脚依次两两构成多组高速信号传输引脚组，其中每一组高速信号传输脚组中的两个高速信号传输引脚测试中心点之间距小于或等于50mil。所述辅助测试引脚分别贴覆在所述多个高速信号传输引脚中，所述贴覆在同一组高速信号传输引脚上的两个辅助测试引脚的测试中心分别朝相互背离的方向与各自所贴覆的高速信号传输引脚的测试中心偏离至少10mil。

本发明电路板引脚布局架构通过辅助测试引脚将高速信号传输引脚之间的间距扩大，从而可采用普通的针床测试电路板中的高速信号传输线路是否合格，从而避免使用昂贵的专用检测设备以降低生产成本。

附图说明

图1是本发明实施方式提供的一种电路板引脚布局架构平面示意图。主要元件符号说明

电路板引脚布局架构          100

电路板                      110

第一引脚                    120

第二引脚                    130

高速信号传输引脚            140

辅助测试引脚                150

具体实施方式

下面将结合附图，对本发明提供的电路板引脚布局架构作进一步的详细说明。

请参阅图1，本发明实施方式提供的电路板引脚布局架构100，其包括一个电路板110，两个形成在所述电路板110上的第一引脚120，三个形成在所述电路板110上的第二引脚130，四个形成在所述电路板110上的高速信号传输引脚140，以及四个对应所述高速信号传输引脚140的辅助测试引脚150。

所述电路板110上布设有用以进行信号传输的电路图案(图未示)。

所述第一引脚120，第二引脚130以及所述高速信号传输引脚140间隔地设置在所述电路板110上，并与所述电路板110上的电路图案相电连接。其中所述第一引脚120与第二引脚130为普通信号传输引脚，且第一引脚120、第二引脚130所有引脚相互之间的间隔大于70mil，因此可采用普通的针床进行测试。

所述高速信号传输引脚140并排间隔一段距离设置，且依次两两构成相互间隔的第一高速信号传输引脚组142以及第二高速信号传输引脚组144。所述第一高速信号传输引脚组142与所述第二高速信号传输引脚组144之间的间隔大于70mil(约为1.778mm)。本实施方式中，所述高速信号传输引脚140为圆环状。所述第一高速信号传输引脚组142中的两个高速信号传输引脚140测试中心点之间的间距小于或等于50mil(约为1.27mm)。所述第二高速信号传输引脚组144中的两个高速信号传输引脚140测试中心点之间距同样小于或等于50mil。可以理解，所述高速信号传输引脚140的数量并不局限于本实施方式中，其可以是任何所需的偶数个。