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[发明专利]一种致密砂岩杨氏模量修正方法及装置-CN201811186028.3有效
发明人：马辉;王飞龙;杨春文;蒋新立;吴天乾;贾光亮;郑道明;温伟 -专利权人：中石化石油工程技术服务有限公司;中石化华北石油工程有限公司
申请日： 2018-10-11 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： G01N29/07 文献下载
摘要：本发明涉及一种致密砂岩杨氏模量修正方法及装置，该方法首先根据阵列声波波速，计算动态杨氏模量；然后采集致密砂岩的硅元素含量、铁元素含量、泥质含量和孔隙度；根据硅元素含量、铁元素含量、泥质含量和孔隙度，对计算出来的动态杨氏模量进行修正，得到修正后的杨氏模量。本发明对计算出来的动态杨氏模量加入反映石英含量的硅元素含量、反映岩屑含量的铁元素含量、以及反映塑性的泥质含量和孔隙度作为修正系数，对计算出来的动态杨氏模量进行修正，使得修正后的动态杨氏模量更准确，与静态杨氏模量的相关性较高
一种致密砂岩杨氏模量修正方法装置

[发明专利]一种测量镶嵌薄膜杨氏模量的方法-CN201110378267.0有效
发明人：肖夏;孙远;单兴锰 -专利权人：天津大学
申请日： 2011-11-24 - 公布日： 2012-06-27 - 主分类号： G01N29/07 文献下载
摘要：本发明属于材料物理特性检测技术领域，涉及一种测量镶嵌薄膜杨氏模量的方法，包括下列步骤：(1)建立镶嵌薄膜及硅衬底的仿真模型；(2)确定镶嵌薄膜及硅衬底的参数；(3)确定镶嵌薄膜及硅衬底的边界条件；(3)利用有限元的方法绘制一系列镶嵌薄膜基体取不同杨氏模量时的理论频散曲线；(5)对待测样本的镶嵌薄膜的实际频散曲线进行测量；(6)将测量得到的待测样本的镶嵌薄膜的实际频散曲线与理论频散曲线进行匹配，得到镶嵌薄膜的杨氏模量本发明能够无损、快速、准确的测量电介质材料的杨氏模量，解决了以前方法不能测量镶嵌结构薄膜中电介质杨氏模量的问题。
一种测量镶嵌薄膜杨氏模量方法

[发明专利]保护结构以及电子装置-CN201711331818.1有效
发明人：郑莛薰;张志嘉;张凱铭;庄瑞彰 -专利权人：财团法人工业技术研究院;创智智权管理顾问股份有限公司
申请日： 2017-12-07 - 公布日： 2021-08-03 - 主分类号： B32B9/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种保护结构包括基板、硬质涂层以及辅助层。辅助层位于基板上，硬质涂层位于辅助层上，所述辅助层位于所述基板与所述硬质涂层之间，其中所述辅助层的杨氏模量大于所述硬质涂层的杨氏模量，所述硬质涂层的杨氏模量大于所述基板的杨氏模量。
保护结构以及电子装置

[发明专利]绝缘衬底上的硅材料顶硅层杨氏模量的测试结构-CN201310184389.5有效
发明人：孙超;周再发;黄庆安;李伟华 -专利权人：东南大学
申请日： 2013-05-17 - 公布日： 2013-08-14 - 主分类号： G01N3/38 文献下载
摘要：本发明公开了一种绝缘衬底上的硅材料顶硅层杨氏模量的测试结构，包括：由绝缘衬底上的硅材料中的硅衬底形成的衬底，在衬底上设有由绝缘衬底上的硅材料中的绝缘层形成的第一绝缘区、第二绝缘区、第三绝缘区及第四绝缘区，在第一绝缘区、第二绝缘区、第三绝缘区及第四绝缘区上分别设有由绝缘衬底上的硅材料中的顶硅层形成的第一锚区、检测电极、第二锚区及激励电极，在检测电极与激励电极之间设有由绝缘衬底上的硅材料中的顶硅层形成的谐振梁本发明能够提高绝缘衬底上的硅材料顶硅层杨氏模量的测量准确性。
绝缘衬底材料顶硅层杨氏模量测试结构

[发明专利]压电元件及其制造方法、超声波探测器、超声波测定装置-CN201610950546.2在审
发明人：山崎清夏;田村博明 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2016-10-26 - 公布日： 2017-06-20 - 主分类号： H01L41/113 文献下载
摘要：压电元件具备压电体；以及振动板，将具有杨氏模量相对高的高杨氏模量取向与杨氏模量相对低的低杨氏模量取向的各向异性的单晶硅作为振动用材料，所述压电体和所述振动板以使所述低杨氏模量取向处于沿着根据所述压电体的支承构造产生的伸缩程度相对高的高伸缩方向与伸缩程度相对低的低伸缩方向中的高伸缩方向的方向上的方式层叠
压电元件及其制造方法超声波探测器测定装置

[发明专利]半导体器件及其制造方法-CN200780052224.5有效
发明人：岛昌司 -专利权人：富士通微电子株式会社
申请日： 2007-03-19 - 公布日： 2010-01-27 - 主分类号： H01L21/8238 文献下载
摘要：半导体器件具有：N型晶体管30，其具有N型源极/漏极区域24n和栅电极16n；侧壁绝缘膜18a，其形成在栅电极16n的侧壁部分，其杨氏模量比硅的杨氏模量小；P型晶体管30p，其具有P型源极/漏极区域24p和栅电极16p；侧壁绝缘膜36，其形成在栅电极16p的侧壁部分，其杨氏模量比硅的杨氏模量大且比侧壁绝缘膜18a的杨氏模量大；拉伸应力膜32，其覆盖N型晶体管30n；以及压缩应力膜38，其覆盖所述P型晶体管
半导体器件及其制造方法

[发明专利]一种基于力学非均质性的页岩脆性评价方法-CN201910757761.4有效
发明人：赵志红;赵玉航;郭建春 -专利权人：西南石油大学
申请日： 2019-08-16 - 公布日： 2021-06-25 - 主分类号： E21B43/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于力学非均质性的页岩脆性评价方法，包括步骤：根据页岩矿物组成确定矿物组分偏差系数；确定各种矿物的动态杨氏模量和动态泊松比；根据各种矿物的动态杨氏模量和动态泊松比，利用组分模型确定储层的估算杨氏模量和估算泊松比，通过线性拟合，得到由动态杨氏模量和动态泊松比计算对应的拟合杨氏模量和拟合泊松比线性拟合式；通过线性拟合数据、实测数据计算对应的倍数下限和倍数上限，确定估算杨氏模量倍数、估算泊松比倍数、估算杨氏模量、估算泊松比该方法考虑页岩力学非均质性对脆性评价的影响，利用该方法可以确定所在地层的各个层段脆性大小，为压裂提供理论指导。
一种基于力学非均质性页岩脆性评价方法

[发明专利]基于常规测井资料的页岩储层杨氏模量与泊松比获取方法-CN201410313206.X有效
发明人：张建平;冯爱国;任元;赵红燕;石文睿;田芳;石元会 -专利权人：中石化江汉石油工程有限公司测录井公司
申请日： 2014-07-01 - 公布日： 2014-11-19 - 主分类号： E21B49/00 文献下载
摘要：本发明涉及基于常规测井资料的页岩储层杨氏模量与泊松比获取方法，获取已知测井资料，并按步长连续取值；处理获取页岩储层段杨氏模量、泊松比参数；确定杨氏模量地区经验参数Ay、By，确定泊松比地区经验参数Ap、Bp、Cp，获取待评价井常规测井资料，并按步长连续取值；根据公式YMOD＝Ay×△T+By，POIS＝Ap×△T+Bp×ρb+Cp，求取页岩储层杨氏模量YMOD，页岩储层泊松比POIS；根据用户要求输出待评价井目标层段的杨氏模量本发明已在中扬子地区建南气田、涪陵页岩气田、湘鄂西地区应用页岩气井36口井，获取的杨氏模量、泊松比与测井获得值接近，误差<10％。
基于常规测井资料页岩储层杨氏模量泊松比获取方法

[发明专利]一种砾岩油藏储层分类方法-CN202210960758.4在审
发明人：李艺;郑是竞;陈静;王焱;李畅;李佳俊 -专利权人：天津市正方科技发展有限公司
申请日： 2022-08-11 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： G16C20/70 文献下载
摘要：本发明提供了一种砾岩油藏储层分类方法，属于油气开发勘探的技术领域，解决了现有的油层分类方法无法准确的预测不同井的产油量及开发潜力。一种砾岩油藏储层分类方法，包括：根据所有井的实测纵波数据、部分井的实测横波数据和部分井的实测静态杨氏模量，计算得到所有井的静态杨氏模量；根据部分井的实测矿物含量数据和部分井的实测静态杨氏模量，得到静态杨氏模量与岩石脆性指数的拟合关系；根据所有井的静态杨氏模量，基于静态杨氏模量与岩石脆性指数的拟合关系，计算所有井的岩石脆性指数；根据评级参数和所有井的岩石脆性指数，建立油藏储层四象限分类标准，确定油藏储层类别。
一种砾岩油藏分类方法

[发明专利]粘合片、使用该粘合片的被粘物的加工方法及粘合片剥离装置-CN200980116996.X无效
发明人：西尾昭德;木内一之 -专利权人：日东电工株式会社
申请日： 2009-05-01 - 公布日： 2011-04-20 - 主分类号： C09J7/02 文献下载
摘要：本发明提供一种粘合片，其为依次层叠下述材料而成的：基材层A：25℃下的杨氏模量与基材厚度的积为1.0×105～4.0×105N/m、80℃下的杨氏模量与基材厚度的积为2.8×105N/m以下；粘合剂层A：80℃下的剪切模量为0.2MPa以下；基材层B：25℃下的杨氏模量与基材厚度的积小于25℃下的基材层A的杨氏模量与基材厚度的积、在80℃下加热所引起的MD收缩率和TD收缩率均为20％以上；粘合剂层B：80℃下的杨氏模量为10MPa以上、对晶片的粘合力为0.2N/10mm以下。
粘合使用被粘物加工方法剥离装置

[发明专利]多晶硅薄膜材料杨氏模量测试结构及方法-CN201410243632.0有效
发明人：李伟华;王雷;张璐;周再发 -专利权人：东南大学
申请日： 2014-06-03 - 公布日： 2017-01-11 - 主分类号： G01N3/00 文献下载
摘要：本发明提出了一种多晶硅薄膜材料杨氏模量的测试结构及方法，主要用于多晶硅结构层的材料测试。该测试结构由两组结构组成，第一组结构包括静电驱动的多晶硅悬臂梁(101)、由待测薄膜材料制作的带有对准结构的第一非对称十字梁(102)、由待测薄膜材料制作的第二非对称十字梁(103)；第二组结构是第一组结构去除第二非对称十字梁后的剩余结构；测量材料的杨氏模量通常需要知道结构受力大小和结构受力所产生的形变或弯曲的挠度。本发明通过几何参数设计控制测试结构的弯曲挠度，通过两组测试结构的相同部分受力相同的原理提取出杨氏模量测试结构所受到的力，利用力和挠度计算得到多晶硅薄膜材料的杨氏模量。
多晶薄膜材料杨氏模量测试结构方法

[实用新型]绝缘衬底上的硅材料顶硅层杨氏模量的测试结构-CN201320271904.9有效
发明人：孙超;周再发;黄庆安;李伟华 -专利权人：东南大学
申请日： 2013-05-17 - 公布日： 2013-10-16 - 主分类号： G01N3/38 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种绝缘衬底上的硅材料顶硅层杨氏模量的测试结构，包括：由绝缘衬底上的硅材料中的硅衬底形成的衬底，在衬底上设有由绝缘衬底上的硅材料中的绝缘层形成的第一绝缘区、第二绝缘区、第三绝缘区及第四绝缘区，在第一绝缘区、第二绝缘区、第三绝缘区及第四绝缘区上分别设有由绝缘衬底上的硅材料中的顶硅层形成的第一锚区、检测电极、第二锚区及激励电极，在检测电极与激励电极之间设有由绝缘衬底上的硅材料中的顶硅层形成的谐振梁本实用新型能够提高绝缘衬底上的硅材料顶硅层杨氏模量的测量准确性。
绝缘衬底材料顶硅层杨氏模量测试结构

[发明专利]一种提高碳酸岩动静态杨氏模量转换模型精度的方法-CN202010452423.2有效
发明人：张冉;孙天威;闫伟超;张鹏云 -专利权人：中国石油大学（华东）
申请日： 2020-05-26 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种提高碳酸岩动静态杨氏模量转换模型精度的方法，具体涉及碳酸岩储层测井领域。该方法包括：第一步，根据岩石物理实验数据，建立动静态杨氏模量转换模型；第二步，利用动静态杨氏模量转换模型与岩石物理实验数据，建立实验动静态杨氏模量差值S2——静态杨氏模量拟合值与实验值差值S1的回归模型M1；第三步，根据岩石物理实验数据，建立实验动静态杨氏模量差值S2——孔隙度的回归模型M2；第四步，建立校正量模型M3；第五步，计算待测点的拟合静态杨氏模量，利用回归模型M1、回归模型M2和校正量模型M3进行校正，得到校正后的静态杨氏模量。该方法提高了碳酸岩动静态杨氏模量转换模型的精度，有利于碳酸岩储层的测井评价及油田开发。
一种提高碳酸静态杨氏模量转换模型精度方法

[发明专利]覆盖窗-CN202211331560.6在审
发明人：成秀珍;朴英民 -专利权人：三星显示有限公司
申请日： 2022-10-28 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： C03C17/36 文献下载
摘要：根据实施例的覆盖窗包括具有第一杨氏模量的第一层，以及设置在第一模量层上并且具有大于第一杨氏模量的第二杨氏模量的第二模量层。第一模量层和第二模量层中的每一个包括聚合物树脂和玻璃纤维，并且第一模量层中的玻璃纤维的体积比小于第二模量层中的玻璃纤维的体积比。
覆盖

[发明专利]墨水喷射头及其制造方法-CN200410057467.6无效
发明人：渡边修;松尾幸治;富田健二;神野伊策 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2000-05-24 - 公布日： 2005-03-09 - 主分类号： B41J2/045 文献下载
摘要：一种墨水喷射头及其制造方法，为使利用压电执行机构21将压力室3内的墨水喷出的喷墨印头小型化，并提高其生产性及可靠性，让振动板22以杨氏模量互相不同的小杨氏模量层27和大杨氏模量层28这两层构成。并将各层27、28的杨氏模量分别设在50～350GPa，同时将整个振动板22的厚度设在1～7μm。
墨水喷射及其制造方法

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