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[发明专利]一种相变材料超表面光谱调制器及短波红外光谱成像系统-CN202210993516.5在审
发明人：陶陈凝;陈达如;郁张维 -专利权人：浙江师范大学
申请日： 2022-08-18 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G02F1/00 文献下载
摘要：本发明公开一种相变材料超表面光谱调制器及短波红外光谱成像系统。相变材料超表面光谱调制器是由相变材料GSST组成的全介质超表面，其结构参数可通过压缩感知相干性最小化原理设计优化。高效短波红外单像素光谱成像系统中，携带目标物体空间‑光谱信息的入射光，依次经相变材料超表面光谱调制器和数字微镜阵列进行动态光谱/空间调制，随后被单像素探测器压缩采样，最后通过OMP算法重构目标物体的光谱图像本发明具有高的可执行性，实现了短波红外光谱图像的高质量重构。
一种相变材料表面光谱调制器短波红外成像系统

[发明专利]一种LED表面结温确定方法及系统-CN202210554311.7在审
发明人：陈焕庭;张文杰;陈耀庭;李以华;甘沁雨;陈同杰 -专利权人：闽南师范大学
申请日： 2022-05-20 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种LED表面结温确定方法及系统，涉及LED表面结温领域，方法包括：获取LED表面光谱数据；根据所述LED表面光谱数据和矩阵模型确定LED表面结温。
一种 led 表面确定方法系统

[发明专利]一种原子力显微镜和表面光电压谱联用方法-CN201410617526.4有效
发明人：李灿;朱剑;范峰滔;安虹宇;陈若天 -专利权人：中国科学院大连化学物理研究所
申请日： 2014-11-05 - 公布日： 2019-02-01 - 主分类号： G01Q60/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种原子力显微镜和表面光电压谱联用方法，用于测量半导体表面微区的表面光电压谱，解决表面光电压谱不具备空间分辨能力的特点，原子力显微镜和光谱仪是通过斩波器调制可变光波长信号、表面电势变化结合锁相放大器进行联用的，可以给出半导体微区的表面光电压谱和相位角分辨谱图。
一种原子显微镜表面光电压联用方法

[发明专利]一种测量样品表面光电压谱和发光光谱的装置-CN202210002826.6在审
发明人：韩克利;郑道元 -专利权人：山东大学
申请日： 2022-01-04 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供一种测量样品表面光电压谱和发光光谱的装置，包括脉冲入射光源系统、显微镜系统、样品池及电信号采集系统和光谱采集系统，其优点在于，实现对光电材料微区瞬态表面光电压谱的测试，可通过与光谱仪器联用实现发光光谱和发光寿命谱的测量
一种测量样品表面光电压发光光谱装置

[发明专利]一种超表面光谱传感系统及光谱仪-CN202010221962.5在审
发明人：叶鑫;唐烽;李波;郑万国;吴卫东;杨李茗;李青芝;邵婷;邓青华;黄进;黎维华;吴之清;石兆华;周晓燕;孙来喜 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2020-03-26 - 公布日： 2021-09-28 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种超表面光谱传感系统及光谱仪。所述超表面光谱传感系统包括：面阵探测器和超表面分光系统，所述超表面分光系统包括多个超表面单元；多个所述超表面单元设置在所述面阵探测器的上表面；每个所述超表面单元均包括多个相同的超原子；所述超表面单元用于针对设定谐振波长值透过率和非设定谐振波长值透过率不同，起到分光的作用；一个所述超表面单元对应一个设定谐振波长值；所述面阵探测器用于探测所述超表面单元透过的光。本发明通过在面阵探测器上表面设置集成化的超表面分光系统，以缩小光谱传感系统的体积，进而减小光谱仪的体积，实现光谱仪的小型化。
一种表面光谱传感系统光谱仪

[发明专利]单籽粒玉米种子淀粉含量近红外高光谱检测方法及系统-CN201910882829.1在审
发明人：陈立平;刘宸;黄文倩;王庆艳;杨桂燕;樊书祥;田喜 -专利权人：北京农业智能装备技术研究中心
申请日： 2019-09-18 - 公布日： 2019-12-24 - 主分类号： G01N21/359 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种单籽粒玉米种子淀粉含量近红外高光谱检测方法及系统，所述方法包括：获取待检测单籽粒玉米种子的双表面光谱曲线；将所述待检测单籽粒玉米种子的双表面光谱曲线输入预先构建的单籽粒玉米种子淀粉含量预测模型通过结合胚面和非胚面的高光谱信息，在单籽粒水平上实现玉米种子淀粉含量的快速无损检测，为单籽粒玉米种子品质快速分级筛选提供新的技术手段。
玉米种子单籽粒淀粉检测表面光谱高光谱分级筛选含量预测技术手段无损检测非胚构建胚面

[发明专利]表面电子－声子交互作用光声与表面光伏探测方法-CN200410064373.1无效
发明人：李葵英 -专利权人：燕山大学
申请日： 2004-08-24 - 公布日： 2005-03-02 - 主分类号： G01N21/62 文献下载
摘要：本发明利用导体和半导体材料表面光声效应与表面光生伏特效应之间的能量互补关系，结合光声光谱和表面光电压谱所得结果，提供一种导体和半导体材料表面电子－声子的交互作用光声与表面光伏探测方法。利用检测结果，可以直接讨论导体、半导体材料表面、亚表面、和界面上电子－声子的交互作用，以及在表面、亚表面和界面上发生的无辐射退激过程的有效通道。本发明具有非接触、非预处理、快速检测和高灵敏度的特点：其灵敏度可达到5×10⁷原子/cm³，一般高于一些标准光谱或能谱，如XPS或Auger电子能谱，几个数量级尤其重要的是，该发明可以提供材料表面、亚表面和界面上的电子－声子交互作用的信息。
表面电子交互作用表面光探测方法

[发明专利]一种直流系统绝缘子表面污秽状态检测方法及检测系统-CN201910246851.7在审
发明人：马御棠;邓琴;张晓青;吴广宁;周仿荣;马仪;彭兆裕;颜冰;刘冲;黄然;张血琴 -专利权人：云南电网有限责任公司电力科学研究院
申请日： 2019-03-29 - 公布日： 2019-05-24 - 主分类号： G01N21/94 文献下载
摘要：本发明公开了一种直流系统绝缘子表面污秽状态检测方法及检测系统，包括：获取所需检测直流系统环境中污秽高光谱图像，根据污秽光谱谱线图和污秽光学目视图，创建污秽成分识别模型；获取绝缘子表面高光谱图像，根据污秽成分识别模型分别对绝缘子表面光谱谱线图进行分析和绝缘子表面光学目视图进行分析，得到污秽成分结果和污秽位置分布图；根据绝缘子表面污秽成分结果和绝缘子表面污秽位置分布图，得出绝缘子表面污秽状态可视化分布图像。
污秽绝缘子表面污秽绝缘子表面可视化高光谱图像位置分布图成分识别分布图像光谱谱线检测系统直流系统状态检测目视非接触式检测检测直流系统检测结果分析检测创建申请

[发明专利]一种火星表面光谱模拟器-CN202110367565.3在审
发明人：徐建文;金亚方;倪家伟 -专利权人：苏州馥昶空间技术有限公司
申请日： 2021-04-06 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： H02S50/15 文献下载
摘要：本发明公开了一种火星表面光谱模拟器，包括光源组件、匀光器和滤光片组；光源组件用于出射光束，匀光器和滤光片组依次位于光束的传播路径上，匀光器包括多个分立透镜组，用于对光束进行分割，并出射均匀光束，滤光片组用于对均匀光束的光谱进行调节，出射火星表面模拟光束。本发明实施例提供的火星表面光谱模拟器，通过设置匀光器包括多个分立透镜组，将高斯分布的光束分割为多束光束，多束光束叠加后形成具有高均匀度分布的均匀光束，利用滤光片组用于对均匀光束的光谱进行调节，以对均匀光束进行调制，使得均匀光束的光谱与火星表面的光谱相近，从而实现具有高均匀度分布的火星表面模拟光束。
一种火星表面光谱模拟器

[实用新型]一种火星表面光谱模拟器-CN202120696393.X有效
发明人：徐建文;金亚方;倪家伟 -专利权人：苏州馥昶空间技术有限公司
申请日： 2021-04-06 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： H02S50/15 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种火星表面光谱模拟器，包括光源组件、匀光器和滤光片组；光源组件用于出射光束，匀光器和滤光片组依次位于光束的传播路径上，匀光器包括多个分立透镜组，用于对光束进行分割，并出射均匀光束，滤光片组用于对均匀光束的光谱进行调节，出射火星表面模拟光束。本实用新型实施例提供的火星表面光谱模拟器，通过设置匀光器包括多个分立透镜组，将高斯分布的光束分割为多束光束，多束光束叠加后形成具有高均匀度分布的均匀光束，利用滤光片组用于对均匀光束的光谱进行调节，以对均匀光束进行调制，使得均匀光束的光谱与火星表面的光谱相近，从而实现具有高均匀度分布的火星表面模拟光束。
一种火星表面光谱模拟器

[发明专利]表面光源、驱动表面光源的方法和具有表面光源的背光单元-CN200710154143.8无效
发明人：潘锡模;李起渊;郑京泽;尹馨彬;李根奭;李东熙;奇元度;池龙根 -专利权人：三星康宁株式会社
申请日： 2007-09-19 - 公布日： 2008-03-26 - 主分类号： G02F1/13357 文献下载
摘要：本发明提供一种表面光源，包括其中形成密封放电空间的板型光源体、完全形成在光源体的至少一个表面上的电极单元、将电极单元分隔为多个区域并向相应区域施加电压的多路电压施加单元。该电极单元被分隔为多个区域，并且电压被施加于这些区域，从而可以局部控制表面光源的亮度，且实现了针对表面光源的本地调光。
表面光源驱动方法具有背光单元

[发明专利]背光单元-CN201610086147.6有效
发明人：车暻焄;郑承俊;郑锺勋 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2016-02-15 - 公布日： 2021-01-08 - 主分类号： G02F1/13357 文献下载
摘要：所述背光单元包括：第一表面光源阵列；第二表面光源阵列，被布置在第一表面光源阵列的上部，并且按照使得第二表面光源阵列的发光表面与第一表面光源阵列的发光表面平行的方式被排列；反射板，被布置在第一表面光源阵列的下部，并且按照使得反射板的反射表面与第一表面光源阵列的发光表面平行的方式被排列，其中，第二表面光源阵列按照以下方式被堆叠在第一表面光源阵列上：第一表面光源阵列和第二表面光源阵列在与发光表面平行的平面中彼此偏离
背光单元

[发明专利]具有集成准直结构的光子芯片-CN201880032025.6有效
发明人： S·梅内佐 -专利权人：法国原子能源和替代能源委员会
申请日： 2018-05-16 - 公布日： 2021-08-20 - 主分类号： G02B6/34 文献下载
摘要：本发明涉及在光子芯片的输入/输出处形成光束，并涉及对耦合到该芯片的光进行光谱展宽。光子芯片(1)包括支撑在衬底(10)上的光波导层(12)。该芯片包括由硅制成的光波导结构(121)和耦合表面光栅(122)。光子芯片具有在面向耦合表面光栅(122)的一侧的正面(F1)和在面向衬底(10)的一侧的背面(F2)。耦合表面光栅(122)设计成接收来自光波导结构(121)的光并形成定向到反射式准直结构(15)的光束。本发明还涉及用于制造这种芯片的方法。
具有集成结构光子芯片

[发明专利]一种衰减全反射太赫兹时域光谱系统的固体测试方法-CN202211064020.6在审
发明人：刘金鸽;吴玫晓;杨旻蔚;王丹;刘锋 -专利权人：华太极光光电技术有限公司
申请日： 2022-08-31 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： G01N21/3563 文献下载
摘要：本发明涉及一种衰减全反射太赫兹时域光谱系统的固体测试方法，步骤包括：取定量的固体测试物，置于所述衰减全反射太赫兹时域光谱系统中硅棱镜的上表面光线聚焦处；取定量的挥发性液体与所述固体测试物混合，所述固体测试物微溶于或不溶于所述挥发性液体；待混合物均匀地覆盖于所述硅棱镜的上表面光线聚焦处后，使所述挥发性液体挥发完全；利用所述衰减全反射太赫兹时域光谱系统，即可获得所述固体测试物的吸收谱线。
一种衰减全反射赫兹时域光谱系统固体测试方法

[发明专利]一种分析不规则生铁的方法-CN200810229711.0无效
发明人：陈良;赵英;林之春 -专利权人：鞍钢股份有限公司
申请日： 2008-12-15 - 公布日： 2010-06-23 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明涉及一种粉末压片-x射线荧光光谱法分析不规则生铁中的元素的方法。该方法将不规则生铁铁屑，添加粘结剂研磨制备成表面光滑、均匀、符合荧光分析要求的粉末样片，然后通过荧光光谱法测定其中的元素含量；所述的粘结剂的加入量为：每20克铁粉加入粘结剂(1-3)克；所述的粘结剂为硼酸与现有技术相比，本发明的有益效果是：将不规则生铁铁屑通过添加粘结剂进行二次制备，加压成型后制得表面光滑、均匀，符合荧光分析要求的粉末样片，进而应用X射线荧光光谱法测定其中的Si、Mn、P、S等元素。
一种分析不规则生铁方法

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