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[发明专利]一种基于ADRC-Smith算法的波前控制方法-CN202010205762.0在审
发明人：孔令曦;程涛;杨平;王帅 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2020-03-23 - 公布日： 2020-06-16 - 主分类号： G05B13/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于ADRC‑Smith算法的波前控制方法，由于自适应光学系统波前探测的速度和波前处理的速度有限，导致自适应光学系统中存在有2～3倍采样周期的时间延迟，基于ADRC(自抗扰控制)是一种鲁棒性强，且不依赖于被控系统模型的控制方法，本发明提出将ADRC算法与Smith预估算法相结合，应用于自适应光学系统的波前控制环节，以补偿自适应光学系统中存在的时间延迟，提升系统性能。
一种基于 adrc smith 算法控制方法

[发明专利]一种基于深度学习的细胞显微二维成像像差自适应校正方法-CN202211281184.4在审
发明人：陈慧婷;何勇桢;吴敏 -专利权人：佳琼生物科技（厦门）有限公司
申请日： 2022-10-19 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于深度学习的细胞显微二维成像像差自适应校正方法。在自适应光学系统中，采用基于深度学习的卷积神经网络模型，实现对成像像差的校正，完成光学成像系统的自适应像差校正，降低自适应光学系统的使用成本，将自适应光学系统应用于光学显微成像研究中，对于自适应光学系统的推广具有重大的意义
一种基于深度学习细胞显微二维成像自适应校正方法

[发明专利]一种基于太阳自适应光学系统的大视场扫描成像装置-CN201210519563.2有效
发明人：饶长辉;顾乃庭;刘洋毅;朱磊;张兰强;郑联慧;钟立波 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2012-12-06 - 公布日： 2013-03-20 - 主分类号： G02B26/06 文献下载
摘要：本发明提供一种基于太阳自适应光学系统的大视场扫描成像装置，包括：准直器（1）、波前校正器DM（2）、光学中继器（3）、扫描反射镜（4）、分光镜（5）、波前探测器（6）、成像系统（7）、波前控制器（8）和数据处理计算机本发明通过在传统自适应光学系统中创造一个共轭于地面层的出瞳位置，并在该位置增加一个扫描反射镜。通过对扫描反射镜两个维度角度的控制，实现对大视场目标的有效分割和分别校正；最终通过数据融合的办法，实现太阳自适应光学系统对大视场活动区的校正能力。本发明没有明显增加太阳自适应光学系统复杂性，扩展了太阳自适应光学系统的校正能力。
一种基于太阳自适应光学系统视场扫描成像装置

[发明专利]基于太阳地表层共轭自适应光学系统的大视场高分辨力成像装置-CN201210375584.1有效
发明人：饶长辉;张兰强;朱磊;钟立波;顾乃庭;饶学军 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2012-09-29 - 公布日： 2013-01-16 - 主分类号： G02B26/06 文献下载
摘要：基于太阳地表层共轭自适应光学系统的大视场高分辨力成像装置，由地表层共轭自适应光学系统和高分辨图像重建系统组成，其中地表层共轭自适应光学系统包括跟踪子系统、多视线波前探测器、地表层大气波前校正器、波前控制器、成像子系统。其特征在于：该装置先利用地表层共轭自适应光学系统对地表层湍流进行探测和校正，在大视场范围内改善成像质量；部分校正图像再经过高分辨图像重建系统进行重建，得到高分辨力太阳图像。该装置利用地表层共轭自适应光学系统消除地表层湍流的影响，提高大气视宁度，增强成像信噪比，改善成像质量，使得太阳图像高分辨重建更加精确和高效，对太阳物理研究具有重要意义。
基于太阳表层共轭自适应光学系统视场分辨力成像装置

[发明专利]兼具开环与闭环的液晶自适应光学系统-CN200910218116.1有效
发明人：宣丽;穆全全;胡立发;曹召良;彭增辉;刘永刚;李大禹;鲁兴海 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2009-12-25 - 公布日： 2010-06-09 - 主分类号： G02B26/06 文献下载
摘要：本发明属于自适应光学领域，是一种在开环自适应校正与闭环自适应校正功能之间能够进行切换的液晶自适应光学系统，涉及液晶校正器、波前探测器、波片和PBS分束器等光学元件的组合。提出了一种操作简单、装调难度低，稳定性能好的开环液晶自适应光学系统，且兼容闭环自适应校正模式。系统采用PBS偏振分束器替代普通偏振片，使液晶自适应光学系统的能量利用效率很高；由于PBS设置于液晶校正器之后进行偏振分束，并与旋光机构相结合，使得探测校正器的响应矩阵时无需旋转PBS，避免了由于这一动作造成的光轴复位误差另外系统可以切换为闭环自适应校正光学系统，可以在闭环模式下定量检测系统的校正性能，为装调开环液晶自适应系统提供了便利条件。
兼具开环闭环液晶自适应光学系统

[发明专利]光学系统闭环条件下的实时大气湍流强度分布测量方法-CN202211702651.6在审
发明人：饶长辉;冉弦;张兰强;饶学军;鲍华;郭友明 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2022-12-29 - 公布日： 2023-04-21 - 主分类号： G01W1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学系统闭环条件下的实时大气湍流强度分布测量方法。该方法包括：在大视场自适应光学系统闭环条件下实时获取系统的各部分数据和参数；实时数据传输至数据预处理程序中进行开环重建；利用重建的实时开环数据测量大气湍流的强度分布信息；输出实时的大气湍流强度分布信息。利用本发明，可以在大视场自适应光学系统闭环条件下实时获取大气湍流强度分布信息。在闭环条件下实现大气湍流强度分布的测量可以保证在大视场自适应光学系统不同条件下全天候地监测大气湍流的状态，从而更好地调整大视场自适应光学系统参数。
光学系统闭环条件下实时大气湍流强度分布测量方法

[发明专利]用于玻璃体视网膜手术的自适应光学系统和方法-CN202080055897.1在审
发明人： S·T·查尔斯 -专利权人：爱尔康公司
申请日： 2020-07-28 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： A61B3/00 文献下载
摘要：本披露内容提供了一种自适应光学系统，该自适应光学系统包括至少一个有源像素传感器阵列，该有源像素传感器阵列检测光并向处理器发送信号。自适应光学系统还包括波前矫正系统，该波前矫正系统包括至少一个波前控制结构和该处理器，并且在该处理器上执行指令以产生数字图像，在该数字图像中，由有源像素传感器阵列检测的光中的至少一个波前畸变被部分或完全矫正本披露内容还提供了使用自适应光学系统的方法。
用于玻璃体视网膜手术自适应光学系统方法

[发明专利]一种自适应光学电控系统自检及故障诊断专家系统-CN201510229067.7有效
发明人：周璐春;高国庆;李梅;郑文佳;李文茹 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2015-05-07 - 公布日： 2017-10-20 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种自适应光学电控系统自检及故障诊断专家系统。本发明基于自适应光学系统电控系统的故障树分析，建立了系统的自检及故障诊断专家系统，其主要包括人机接口模块、数据库模块，推理机模块，以及解释模块。所述通过对自适应光学系统电控系统故障分析的基础上，设计生成系统故障树，通过故障树知识生成故障诊断专家系统的知识库，再依据故障树生成的知识库进行故障诊断推理，最后实现光学系统、电控系统、故障诊断专家系统的功能本发明适用于自适应光学系统电控系统的日常维护和故障诊断工作。
一种自适应光学系统自检故障诊断专家系统

[发明专利]一种太阳望远镜光学系统及装置-CN202111531547.0有效
发明人：饶长辉;忻歌;饶学军;杜芝茂;王志勇;林清;顾乃庭;杨金生;李程;贾丹;鲍华;郭友明;张兰强;蒲毅;钟立波;李潇;王成;李欣;陈克乐;童定康 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2021-12-15 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G02B23/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种太阳望远镜光学系统及装置，系统具有望远镜主光路系统和后端光学系统。望远镜主光路系统包括主镜、次镜、热光阑。后端光学系统包括中继光路、自适应光学系统、高分辨成像系统、光谱仪系统以及光束投影系统。望远镜主光路系统将接收的太阳光束传递给后端光学系统的中继光路，中继光路进一步地将太阳光束传递给自适应光学系统、高分辨成像系统、光谱仪系统以及光束投影系统。本发明能够合理分配可见光到红外波段太阳光束的光谱和能量，能够同时兼具自适应光学和太阳高分辨成像研究，以及太阳磁场、速度场和偏振测量等多学科研究；另外，光束投影可实现太阳黑子直接投影或/和将太阳光经过棱镜色散后投影
一种太阳望远镜光学系统装置

[发明专利]基于改进相位差算法的自适应光学系统-CN202111333005.2有效
发明人：常欢;忻向军;高然;姚海鹏;张琦;周思彤 -专利权人：常州北邮新一代信息技术研究院有限公司;北京理工大学
申请日： 2021-11-11 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G02B26/06 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于改进相位差算法的自适应光学系统，包括：接收模块，接收模块用于接收畸变的复用光束并使用解复用器将信息光束与探针光束解复用；自适应光学模块，自适应光学模块用于探测探针光束的波前畸变，并采用改进相位差算法计算探针光束传输过程中的畸变相位信息根据本发明的基于改进相位差算法的自适应光学系统，不仅大大降低了自适应光学系统的复杂性和成本，而且采用改进相位差算法，收敛速度更快，重建精度更高，能够应用于自适应光学高精度实时校正领域。
基于改进相位差算法自适应光学系统

[发明专利]一种自适应光学系统变形镜与哈特曼波前传感器对准方法-CN202111213152.6有效
发明人：王帅;赵旺;赖柏衡;杨康建;金睿炎;程涛;何星;谭毅;杨平 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2021-10-19 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种自适应光学系统变形镜与哈特曼传感器对准方法，利用自适应光学系统中的传递函数测量过程，通过虚拟像差模式斜率，根据系统测定的传递函数重构变形镜对应的模式电压，进而分析解算的模式电压中倾斜向量投影系数大小，确认系统中变形镜与哈特曼传感器是否对准。本发明不改变自适应光学系统的硬件结构和数据处理流程，仅需要系统定标结果中的复原矩阵，即可通过数学计算判断变形镜与哈特曼传感器之间的对准情况，因而具有实现简便、通用性强的特点，可以作为一种系统状态确认方法，应用于目前各类自适应光学系统。
一种自适应光学系统变形哈特曼波前传感器对准方法

[发明专利]使用分段相位剖面液晶透镜的光学系统-CN201980083055.4有效
发明人：阿夫苏恩·贾迈利;迟万里;道格拉斯·兰曼 -专利权人：元平台技术有限公司
申请日： 2019-01-30 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G02B27/10 文献下载
摘要：提供了一种光学系统。该光学系统包括电子显示器、自适应透镜组件和眼睛跟踪设备。电子显示器为光学系统的用户显示虚拟场景；自适应透镜组件在电子显示器和用户眼睛之间光学耦合到电子显示器；并且眼睛跟踪设备提供用户眼睛的眼睛跟踪信息。自适应透镜组件包括排列成阵列的多个可调节液晶(LC)透镜，并且可调节LC透镜基于眼睛跟踪信息被单独激活。
使用分段相位剖面液晶透镜光学系统

[发明专利]一种用于大视场自适应光学系统成像质量评价方法-CN202110785616.4有效
发明人：杨颖;张兰强;饶长辉 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2021-07-12 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于大视场自适应光学系统成像质量评价方法。该方法提出以全视场内成像质量的一致程度作为大视场自适应光学系统成像质量的评价依据，并设计一种同时兼顾大视场平均校正效果与校正一致程度的成像质量评价指标。该方法包括：以自适应光学系统校正输出图像的处理数据集为输入；按全视场平均校正效果与校正一致程度对数据集分类；训练评价模型并对输入图像数据集的成像质量进行评价；输出评价结果。利用本发明，可以更好地评估大视场自适应光学系统的校正性能，同时有助于图像处理以得到更高质量的复原图像。
一种用于视场自适应光学系统成像质量评价方法

[发明专利]一种基于深度学习的自适应光学系统自主控制方法-CN202310865660.5在审
发明人：孙浩峻;徐月;陈莫;兰斌;刘超;鲜浩 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2023-07-14 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G05B13/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于深度学习的自适应光学系统自主控制方法，首先利用夏克‑哈特曼波前探测器采集其子孔径图像数据集，并依据该图像对自适应光学系统开闭环的影响，划分为开环数据集和闭环数据集，通过数据集离线训练合理的开闭环判断模型，然后将判断模型嵌入自适应光学系统的控制系统中；并将自适应光学系统中实时采集的子孔径图像，送入控制系统的开闭环判断模块；完成对当前状态的判定后，向波前控制器发送开环或闭环指令，波前控制器会根据开闭环指令向波前校正器发送控制信号，实现自适应光学自主控制系统的自主控制；该发明利用神经网络在图像识别上的优秀能力，提升了系统开闭环控制的准确性，保证了关键器件的安全性。
一种基于深度学习自适应光学系统自主控制方法

[发明专利]基于自适应理论光学系统加工误差的检测装置-CN201810197931.3有效
发明人：汪志斌;张云龙;张峰;李军琪;苏瑛;赵敏;麦玉莹 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2018-03-12 - 公布日： 2020-07-14 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于自适应理论光学系统加工误差的检测装置，采用点光源经扩束系统产生标准平面波，经透射被测光学系统，分光棱镜、移相器，以可变性反射镜作为反射波面，获取光学系统的干涉条纹，通过控制可变性反射镜的变形量获取均匀干涉条纹，则反射镜的变形量则为光学系统的系统加工误差。本发明的检测装置可以检测任意透射式光学系统，包含非球面、自由曲面等单个光学元件。本发明基于自适应理论采用干涉仪作为评判依据，通过移相器实现干涉条纹，采用可控变形反射镜的精确控制，调制出均匀的干涉条纹，采集反射镜的控制信息获取系统误差。本发明克服了以往光学系统无法测量系统加工误差的难点。
基于自适应理论光学系统加工误差检测装置