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[发明专利]用于管理盘缺陷的方法和设备及其盘-CN200610092281.3有效
发明人：李坰根;高祯完;黄盛凞 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2004-02-27 - 公布日： 2009-07-29 - 主分类号： G11B20/18 文献下载
摘要：一种一次写入盘，包括存在于导入区和导出区的至少一个中的缺陷管理区；存在于导入区和导出区的至少一个中的临时缺陷管理区；以及存在于导入区和导出区的至少一个中的驱动器和盘信息区。关于临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的位置的信息记录在驱动器和盘信息区中，临时缺陷信息和包括驱动器和盘信息的临时缺陷管理信息被记录在临时缺陷管理区中，并且为了盘完成，最后记录在临时缺陷管理区中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息被记录在缺陷管理区中
用于管理缺陷方法设备及其

[发明专利]用于管理盘缺陷的方法和设备及其盘-CN200610080191.2有效
发明人：李坰根;高祯完;黄盛凞 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2004-02-27 - 公布日： 2006-11-01 - 主分类号： G11B7/007 文献下载
摘要：一种一次写入盘包括存在于导入区和导出区的至少一个中的缺陷管理区；存在于导入区和导出区的至少一个中的临时缺陷管理区；以及存在于导入区和导出区的至少一个中的驱动器和盘信息区。关于临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的位置的信息记录在驱动器和盘信息区中，临时缺陷信息和包括驱动器和盘信息的临时缺陷管理信息被记录在临时缺陷管理区中，并且为了盘完成，最后记录在临时缺陷管理区中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息被记录在缺陷管理区中
用于管理缺陷方法设备及其

[发明专利]用于管理盘缺陷的方法和设备及其盘-CN200480000874.1有效
发明人：李坰根;高祯完;黄盛凞 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2004-02-27 - 公布日： 2005-11-23 - 主分类号： G11B7/007 文献下载
摘要：一种一次写入盘包括存在于导入区和导出区的至少一个中的缺陷管理区；存在于导入区和导出区的至少一个中的临时缺陷管理区；以及存在于导入区和导出区的至少一个中的驱动器和盘信息区。关于临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的位置的信息记录在驱动器和盘信息区中，临时缺陷信息和包括驱动器和盘信息的临时缺陷管理信息被记录在临时缺陷管理区中，并且为了盘完成，最后记录在临时缺陷管理区中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息被记录在缺陷管理区中
用于管理缺陷方法设备及其

[发明专利]处理缺陷区和链接区的方法-CN200510056826.0有效
发明人：李坰根;高祯完;金荣润;朴仁植;金伦基 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2000-04-28 - 公布日： 2008-09-03 - 主分类号： G11B20/10 文献下载
摘要：一种处理存储链接类型信息的记录介质中缺陷区和链接区的方法。记录介质存储表示紧跟在缺陷区后进行链接的信息，该信息将发生在一般递增记录模式中的链接类型和发生在缺陷区后的链接类型区别开。在用户数据记录前或用户数据正在记录时检测缺陷区并登记在预定区中。链接不仅应用到递增记录模式或有限重写记录模式，还应用到紧跟在缺陷区后的区域，提高了用户数据的可靠性。
处理缺陷链接方法

[发明专利]光盘、记录装置、读取装置、记录方法及读取方法-CN200810099110.2无效
发明人：甲斐田优;伊藤基志 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2006-01-13 - 公布日： 2008-09-17 - 主分类号： G11B20/18 文献下载
摘要：光盘1包括缺陷管理区(DMA)。在该缺陷管理区(DMA)的临时缺陷管理区(TDMS)中记录多个缺陷区列表(TDFL)和结构信息(TDDS)。所述多个缺陷区列表(TDFL)表明在访问该光盘1期间检测到的至少一个缺陷区。该结构信息(TDDS)包括表明所述缺陷区列表(TDFL)位置的多条位置信息。一对一地对应于所述缺陷区列表的所述多条位置信息，按照读取与所述多条位置信息对应的缺陷区列表(TDFL)的顺序，排列在该结构信息(TDDS)中。
光盘记录装置读取方法

[发明专利]光盘、记录装置、读取装置及方法-CN200680000033.X有效
发明人：甲斐田优;伊藤基志 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2006-01-13 - 公布日： 2007-04-04 - 主分类号： G11B20/12 文献下载
摘要：光盘1包括缺陷管理区(DMA)。在该缺陷管理区(DMA)的临时缺陷管理区(TDMS)中记录多个缺陷区列表(TDFL)和结构信息(TDDS)。所述多个缺陷区列表(TDFL)表明在访问该光盘1期间检测到的至少一个缺陷区。该结构信息(TDDS)包括表明所述缺陷区列表(TDFL)位置的多条位置信息。一对一地对应于所述缺陷区列表的所述多条位置信息，按照读取与所述多条位置信息对应的缺陷区列表(TDFL)的顺序，排列在该结构信息(TDDS)中。
光盘记录装置读取方法

[发明专利]盘形记录介质、记录方法和盘片驱动设备-CN03801017.8无效
发明人：小林昭荣 -专利权人：索尼株式会社
申请日： 2003-06-04 - 公布日： 2004-12-08 - 主分类号： G11B20/12 文献下载
摘要：本发明能够提高缺陷管理的可靠性。在盘片内圆周预定径向部分的区如导入区(zone)中，提供包括缺陷管理区的多个管理数据区以便得到可靠的缺陷管理。进一步，包括缺陷管理区(信息区Info1，Info2)的多个管理数据区是在盘片径向彼此分开的位置上形成的，以便将作为相对较大部分的记录/再现条件调节区(OPC)夹在中间。而且，在缺陷管理区中，提供包括交换区的多个记录区作为记录缺陷管理信息的区，这样，依据缺陷管理区更新数量和错误状态，就可以改变记录区。
记录介质方法盘片驱动设备

[发明专利]一种评价复合材料结构R区缺陷超声检出概率的方法-CN201711290134.1有效
发明人：刘菲菲;刘松平;傅天航;李治应;李乐刚 -专利权人：中航复合材料有限责任公司
申请日： 2017-12-07 - 公布日： 2020-09-22 - 主分类号： G01N29/30 文献下载
摘要：本发明属于无损检测技术领域，涉及一种评价复合材料结构R区缺陷超声检出概率的方法。评价的步骤如下：获取R区缺陷检测信息；R区缺陷检出的判别方法；R区缺陷大小加权；R区缺陷深度加权；计算R区缺陷等效漏检数计算R区缺陷大小检出概率区缺陷的检出概率因素和R区缺陷重复性问题，能给出有关所选用的超声检测仪器设备及检测人员等对R区缺陷检出概率定量的信息，能给出判断不同的超声检测法的R区缺陷检出概率，能给出复合材料结构R区不同R区缺陷的漏检对超声检出概率的影响程度，从而提高了超声检测结果的可靠性和准确性。
一种评价复合材料结构缺陷超声检出概率方法

[发明专利]一种自动光学检测伪缺陷去除方法及系统-CN202010268258.5有效
发明人：李凡;杨海东;徐康康;朱成就;印四华 -专利权人：广东工业大学
申请日： 2020-04-08 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种自动光学检测伪缺陷去除方法及系统，包括：将模板图和待检图均划分成轮廓区和非轮廓区；对轮廓区进行空间滤波，采用阈值分割的方法剔除轮廓区的伪缺陷，保留真实缺陷；采用几何均值滤波器对非轮廓区进行滤波；差影几何均值滤波后的非轮廓区，获取非轮廓区的疑似缺陷，将缺陷允许的最小面积作为阈值，删除疑似缺陷中小于阈值的噪点；将剔除伪缺陷的轮廓区以及删除噪点后的非轮廓区合并，提取图像的真实缺陷。本申请能够去除配准时产生的轮廓伪影，同时不会影响真实缺陷造成缺陷漏检。
一种自动光学检测缺陷去除方法系统

[发明专利]一次性写入光盘和用于管理一次性写入光盘上的缺陷区的方法及装置-CN200710194086.6有效
发明人：朴容徹;金成大 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 2003-09-26 - 公布日： 2008-05-21 - 主分类号： G11B20/18 文献下载
摘要：提供了一种一次性写入记录介质以及一种用于管理该记录介质上的缺陷区的方法和装置。该方法包括：在数据写操作中，当数据被写到数据区上时检测记录介质的数据区中的缺陷区的存在；如果检测到缺陷区，则把写在缺陷区中的数据写到另一数据用户区上；以及把与该缺陷区相关的缺陷管理信息写到记录介质上的至少一个缺陷管理区上
一次性写入光盘用于管理缺陷方法装置

[发明专利]一次性写入光盘和用于管理一次性写入光盘上的缺陷区的方法及装置-CN03801864.0有效
发明人：朴容徹;金成大 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 2003-09-26 - 公布日： 2005-04-27 - 主分类号： G11B7/00 文献下载
摘要：提供了一种一次性写入记录介质以及一种用于管理该记录介质上的缺陷区的方法和装置。该方法包括：在数据写操作中，当数据被写到数据区上时检测记录介质的数据区中的缺陷区的存在；如果检测到缺陷区，则把写在缺陷区中的数据写到另一数据用户区上；以及把与该缺陷区相关的缺陷管理信息写到记录介质上的至少一个缺陷管理区上
一次性写入光盘用于管理缺陷方法装置

[发明专利]一次写入型光盘以及用于管理该光盘上的缺陷信息的方法和设备-CN200380109313.0无效
发明人：朴容徹;金成大 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 2003-10-01 - 公布日： 2006-03-08 - 主分类号： G11B7/00 文献下载
摘要：利用临时缺陷管理区(TDMA)提供了一种一次写入型光盘、一种用于管理该一次写入光盘，例如，BD－WO上的缺陷信息的方法和设备。该方法包括：准备临时缺陷管理区(TDMA)，在该临时缺陷管理区上，将临时缺陷列表(TDFL)记录为用于管理光盘上的缺陷区的缺陷管理信息；在临时缺陷管理区上，利用先前的临时缺陷列表累积记录最近临时缺陷列表；以及除了临时缺陷列表，还在临时缺陷管理区上记录用于指出最近临时缺陷列表的位置的位置信息，一更有效地管理临时缺陷列表。
一次写入光盘以及用于理该缺陷信息方法设备

[发明专利]通过控制LMD工艺预制熔合不良缺陷的方法-CN202010319683.2有效
发明人：付俊;雷力明;李雅莉;周新民;付鑫 -专利权人：中国航发上海商用航空发动机制造有限责任公司;中国航发商用航空发动机有限责任公司
申请日： 2020-04-22 - 公布日： 2020-07-28 - 主分类号： B22F3/105 文献下载
摘要：本发明提供一种通过控制LMD工艺来预制熔合不良缺陷的方法，其中，获得包括成形区和预制缺陷区的模型，预制缺陷区具有预设缺陷；对模型进行分层切片处理，对于预制缺陷区的每一沉积层，预设缺陷具有在垂直方向上的最大尺寸a0；对于成形区，采用LMD工艺的预定成形工艺参数进行成形；对于预制缺陷区，控制成形工艺参数如下：a0＜D时，相对于成形区，在沉积层内改变成形路径之间的扫描间距及送粉率，借此预制熔合不良缺陷；a0≥D时，相对于成形区，在沉积层内降低激光的能量输入，借此预制熔合不良缺陷；其中，D是激光在预制缺陷区的沉积层内的光斑直径。通过上述方法，可以在任意位置预制熔合不良缺陷。
通过控制 lmd 工艺预制熔合不良缺陷方法

[发明专利]管理记录介质中的缺陷的方法和设备-CN200710139130.3有效
发明人：黄盛;高祯完;李坰根 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2004-04-22 - 公布日： 2007-12-05 - 主分类号： G11B7/0037 文献下载
摘要：一种管理记录介质缺陷的方法、设备和计算机可读介质以及一种缺陷被管理的记录介质。所述记录介质包括：备用区，在其中形成有作为所述记录介质的缺陷区的替代的替换区；和临时缺陷管理区，在其中记录有用于指定所述缺陷区和对应的替换区的临时管理信息，其中，关于所述缺陷区的位置信息和状态信息被记录在所述替换区中因此，即使对所述记录介质的记录介质缺陷管理被异常结束，也可恢复缺陷信息。
管理记录介质中的缺陷方法设备

[发明专利]管理记录介质中的缺陷的方法和设备及使用该方法获得的缺陷被管理的记录介质-CN200480011097.0有效
发明人：黃盛凞;高祯完;李坰根 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2004-04-22 - 公布日： 2006-05-31 - 主分类号： G11B7/004 文献下载
摘要：一种管理记录介质缺陷的方法、设备和计算机可读介质以及一种缺陷被管理的记录介质。所述记录介质包括：备用区，在其中形成有作为所述记录介质的缺陷区的替代的替换区；和临时缺陷管理区，在其中记录有用于指定所述缺陷区和对应的替换区的临时管理信息，其中，关于所述缺陷区的位置信息和状态信息被记录在所述替换区中因此，即使对所述记录介质的记录介质缺陷管理被异常结束，也可恢复缺陷信息。
管理记录介质中的缺陷方法设备使用获得

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