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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]基于离子阱对样品进行淌度分析的方法、离子阱质谱仪及其用途-CN202310686382.7在审
发明人：周晓煜;欧阳证;王卓凡;范菁津 -专利权人：清华大学
申请日： 2023-06-09 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N27/622 文献下载
摘要：本发明提出了基于离子阱对样品进行淌度分析的方法、离子阱质谱仪及其用途。基于离子阱对样品进行淌度分析的方法包括：对待测样品进行离子化处理，以获得所述待测样品的多个待测离子；使多个所述待测离子进入离子阱；对所述待测离子进行AC振幅线性扫描，以令所述待测离子的一部分自所述离子阱中脱离；使探测器获取所述脱离所述离子阱的所述待测离子，以便获得所述待测样品的分析结果。该方法可以利用离子阱质谱仪实现高分辨率的淌度分析，适于分析复杂的生物、化学大分子同分异构体，且实施方式简单，利用微型离子阱质谱仪即可实现待测样品的精准分析。
基于离子样品进行分析方法质谱仪及其用途

[发明专利]用于分子离子反应的线性离子阱复合质谱分析系统及方法-CN201810745806.1有效
发明人：何洋;肖育;徐骏;丁正知;齐晓军 -专利权人：上海裕达实业有限公司
申请日： 2018-07-09 - 公布日： 2020-05-22 - 主分类号： H01J49/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于分子离子反应的线性离子阱复合质谱分析系统及方法，包括两个相同或不同的线性离子阱质量分析器，两个线性离子阱质量分析器相互垂直放置，且中心轴线位于同一平面；所述线性离子阱质量分析器包括两组相同的射频电极和一组对称置于所述射频电极两侧的端盖电极，在其中一组射频电极的中心开设有用于离子出射的狭缝，所述端盖电极的中心位置开有用于离子通过的小孔，所述小孔位于两组射频电极构成的旋转体的旋转轴上。
用于分子离子反应线性复合谱分析系统方法

[发明专利]多重环绕飞行时间型质量分析装置-CN202080053175.2在审
发明人：上野良弘;前田竜五;立石勇介;三浦宏之 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2020-08-11 - 公布日： 2022-03-11 - 主分类号： H01J49/42 文献下载
摘要：本发明的一方案的MT‑TOFMS具备：线性离子阱(2)，将作为分析对象的离子暂时保持，并通过沿一个方向呈细长形状的离子射出开口(211)射出该离子；环绕飞行部(3)，形成能够使离子反复飞行的环绕轨道(P)；狭缝部(5)，配设在从线性离子阱(2)射出的离子直到被导入环绕轨道期间的离子路径，屏蔽离子射出开口(211)在长度方向上的一部分离子。
多重环绕飞行时间质量分析装置

[实用新型]一种ICP-MS分析系统-CN201220756835.6有效
发明人：梁炎;刘立鹏;郑毅 -专利权人：聚光科技(杭州)股份有限公司
申请日： 2012-12-29 - 公布日： 2013-07-10 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本实用新型公布了一种ICP-MS分析系统，所述分析系统包括ICP源、检测器；所述分析系统进一步包括：线性离子阱，所述线性离子阱设置在所述ICP源和检测器之间。本实用新型具有更高的碰撞碎裂效率、更多的离子-分子反应通道、以及提供高灵敏度的测量模式等优点。
一种 icp ms 分析系统

[实用新型]一种可提高离子探测效率的质谱分析系统-CN201620390291.4有效
发明人：李晓旭;张在越;袁广洲;钱洁;张曙光;何洋;姚如娇 -专利权人：苏州大学
申请日： 2016-05-04 - 公布日： 2016-09-21 - 主分类号： H01J49/42 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种可提高离子探测效率的质谱分析系统，包括线性离子阱和电子倍增器，所述线性离子阱包括两对相对平行放置的柱状电极和一对端盖薄片电极，其中至少一对所述柱状电极的中央设置有离子引出槽。所述两对柱状电极中的三个电极至离子阱中心轴的距离均相等，均设为R0，所述两对柱状电极中的剩下的一个电极沿着背离所述离子阱中心轴的方向向外平移构成平移电极，所述平移电极至所述离子阱中心轴的距离设为R0+Δr，所述平移电极的中央设有离子引出槽，所述电子倍增器设置在所述平移电极所相对的电极旁侧。该系统提高了离子探测效率，同时有利于质谱分析系统的小型化，并且更加经济。
一种提高离子探测效率谱分析系统

[发明专利]一种研究离子反应的串级质谱仪-CN200710144397.1无效
发明人：王其冬;水新国;丁传凡 -专利权人：宁波大学;宁波杉杉源创科技研发有限公司;复旦大学
申请日： 2007-09-29 - 公布日： 2008-02-20 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明提供的是一种研究离子反应的串级质谱仪。它包括线性四极离子阱，在线性四极离子阱的至少一端设置四极杆质量分析器，在四极杆质量分析器的另一端设置可产生正/负离子流的离子源。使用这种串级质谱实验系统，可以首先对感兴趣的正离子或负离子进行质量选择，然后再让这些选择过的离子与其他离子或分子进行反应。反应产物由离子阱质量分析器进行质量分析测量。本发明给出的实验系统还可以对感兴趣的正离子或负离子进行串级质谱分析。
一种研究离子反应质谱仪

[发明专利]降低线性离子阱中空间电荷效应的系统和方法-CN201510662982.5在审
发明人：徐伟;胡莉莉;王玉琢 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2015-10-14 - 公布日： 2017-04-26 - 主分类号： H01J49/00 文献下载
摘要：本发明提供一种降低线性离子阱中空间电荷效应的系统和方法，该系统包括：线性离子阱，第一交流电源，第二交流电源，射频电源；所述线性离子阱包括相同的四个电极杆，第一交流电源的两极分别连接至离子阱中的间隔设置的两个电极杆
降低线性离子空间电荷效应系统方法

[发明专利]串联离子阱飞行时间质谱仪-CN200580005746.0有效
发明人：迈克尔·苏达科夫;丁力 -专利权人：岛津欧州研究所
申请日： 2005-02-23 - 公布日： 2007-03-07 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：一种串联线性离子阱和飞行时间质谱仪，其中，离子阱具有与质谱仪的飞行轨道正交的直线中心轴。离子阱包括：一组电极(401、403、402、404)，至少一个所述电极具有用于向质谱仪发射离子的开口；一组DC电压电源(+V、－V、V1、V2)，用于提供离散DC电平，以及一定数目的快速电子开关(409)，用于使DC电源与至少两个所述电极连接/断开；中性气体，填充离子阱；以及数字控制器，提供用于离子捕获、操作离子、冷却的切换过程，并且包括从离子阱向质谱仪发射所有离子的状态。
串联离子飞行时间质谱仪

[发明专利]直线式离子阱及质量分析器系统和方法-CN200380110126.4无效
发明人：罗伯特·G·库克斯;欧阳政 -专利权人：珀杜研究基金会
申请日： 2003-12-31 - 公布日： 2006-06-14 - 主分类号： H01J49/42 文献下载
摘要：描述了一种新形状的离子阱及其作为质谱仪的使用。可以线性地及并联地组合离子阱而形成用于质量储存、分析、打断、分隔等的系统。离子阱具有简单的直线几何形状，并具有高的陷获能力。多个离子阱的阵列允许对陷获离子应用多个气相过程的组合以在离子分析中达到高灵敏度、高选择性及/或更高的处理量。
直线离子质量分析器系统方法

[发明专利]具有实时分析和信号优化的电荷检测质谱分析-CN201980051680.0在审
发明人： M·F·贾罗德;B·E·德拉普尔 -专利权人：印地安纳大学理事会
申请日： 2019-01-11 - 公布日： 2021-04-16 - 主分类号： H01J49/42 文献下载
摘要：电荷检测质谱仪可以包括静电线性离子阱（ELIT）或轨道阱、向其供应离子的离子源、可操作地耦合到ELIT或轨道阱的至少一个放大器、耦合到ELIT或轨道阱和放大器的处理器、以及被编程为控制ELIT或轨道阱作为俘获事件的一部分以试图在其中俘获由离子源供应的单个离子的处理器，以基于在俘获事件的持续时间内由放大器产生的输出信号来记录离子测量信息，基于测量信息确定对ELIT或轨道阱的控制是否导致俘获单个离子、无离子或多个离子，并且仅当单个离子在俘获事件期间被俘获的情况下，根据测量信息计算离子质量或质荷比
具有实时分析信号优化电荷检测谱分析

[发明专利]一种线性离子阱中激发离子的方法-CN201510099378.6在审
发明人：党乾坤;谢小东;徐福兴;陈银娟;丁传凡 -专利权人：复旦大学
申请日： 2015-03-06 - 公布日： 2015-07-29 - 主分类号： H01J49/10 文献下载
摘要：本发明属于质量分析仪器的技术领域，具体为一种在线性离子阱中激发离子的方法。本发明是在线性离子阱中，在离子碰撞诱导解离阶段，在其径向X和Y方向同时施加辅助激发信号，提高离子两个方向的动能，进一步与中心气体碰撞而发生解离，将动能转换为内能，以实现串级质谱分析。本发明方法的优点在于，离子X方向和Y方向的动能都得到增强，较传统的离子主要在一个方向激发的解离方式，有更多动能转换为内能，从而可以提高解离效率，缩短反应时间，改善离子阱中低质量截止效应。
一种线性离子激发方法

[发明专利]直线式离子阱及质量分析器系统和方法-CN201310275894.0有效
发明人：罗伯特.G.库克斯;欧阳政 -专利权人：珀杜研究基金会
申请日： 2003-12-31 - 公布日： 2013-10-16 - 主分类号： H01J49/42 文献下载
摘要：本发明公开了一种直线式离子阱及质量分析器系统和方法。一种新形状的离子阱及其作为质谱仪的使用。可以线性地及并联地组合离子阱而形成用于质量储存、分析、打断、分隔等的系统。离子阱具有简单的直线几何形状，并具有高的陷获能力。它可操作为既在质量选择稳定模式下也在质量选择不稳定模式下提供质量分析。多个离子阱的阵列允许对陷获离子应用多个气相过程的组合以在离子分析中达到高灵敏度、高选择性及/或更高的处理量。
直线离子质量分析器系统方法

[发明专利]优化场形线性离子阱及其质量分析器-CN200510093519.X无效
发明人：方向;丁传凡 -专利权人：方向
申请日： 2005-08-30 - 公布日： 2007-03-07 - 主分类号： H01J49/26 文献下载
摘要：本发明涉及一种具有优化场形且易于加工的大容量线性离子阱及其质量分析器。该优化场形线性离子阱及其质量分析器包括离子捕获室、RF射频信号和DC直流信号，其中，RF电极为柱面体结构，其柱面是由平行于z轴并沿电极准线f(x，y)＝0移动的电极母线L所描绘出的轨迹，具有分段函数的形式此类可解析为多个薄层单元的电极易于加工与装配，通过调整薄层单元的参数可获得优化的四极场场形，从而改善大容量线性离子阱及其质量分析器的分析性能。
优化线性离子及其质量分析器

[发明专利]一种制备大量冷分子离子的装置和方法-CN202110947642.2有效
发明人：王飞;吕双飞;张熙;贾凤东;薛平;钟志萍 -专利权人：中国科学院大学
申请日： 2021-08-18 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：本发明涉及一种制备大量冷分子离子的装置及方法，属于冷分子离子制备技术领域，所述装置将冷却囚禁中性原子的磁光阱与囚禁离子的线性Paul阱集成于一体，并且磁光阱中心和离子阱中心重合，以保证离子云中心和原子云中心重合，同时使用微通道板作为离子飞行时间质谱的探测装置。所述方法在磁光阱中通过激光冷却制备大量冷原子，然后通过连续光电离冷原子产生大量离子，离子与冷原子碰撞产生冷分子离子并被离子阱囚禁，由此获得大量的冷分子离子，最后通过离子飞行时间质谱获得清晰可辨的分子离子信号本发明解决了冷分子离子制备和甄别困难的问题。
一种制备大量分子离子装置方法

[发明专利]混合型线性离子阱质量分析器-CN201010116432.0无效
发明人：姜杰;乔晓林;周志权;赵占锋;陈焕文 -专利权人：哈尔滨工业大学(威海)
申请日： 2010-03-03 - 公布日： 2010-08-04 - 主分类号： H01J49/26 文献下载
摘要：一种混合型线性离子阱质量分析器，涉及线性离子阱质量分析器，设有固定架，固定架上设有四极电极，四极电极两端分别设有端电极，电极之间设有绝缘层，四极电极由一组平行的平面电极和一组对称的曲面电极组成，曲面电极的曲面中心开有狭缝由于平面电极的存在，装配难度低，装配精度高，制造成本低；中心开有狭缝的曲面电极的存在，使离子在辅助射频电压作用下在曲面电极方向上有聚焦作用，提高了离子扫描出离子阱的效率。适用于做质谱仪质量分析器。
混合线性离子质量分析器

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