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[发明专利]非球面透镜模具加工方法-CN202310265342.5在审
发明人：林树良 -专利权人：深圳市汉辉光电有限公司
申请日： 2023-03-13 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G02B3/02 文献下载
摘要：本发明涉及数值模拟计算技术领域，尤其涉及一种非球面透镜模具加工方法。该方法包括以下步骤：获取非球面透镜基础特征信息；根据非球面透镜基础特征信息构建非球面透镜预估模型；获取修正加工参数数据并根据修正加工参数数据对非球面透镜基础特征信息对进行辅助修正，以生成辅助非球面透镜基础加工数据；根据辅助非球面透镜基础加工数据进行非球面透镜辅助加工作业，生成非球面透镜加工数据信息；根据非球面透镜加工数据信息进行评估，生成非球面透镜性能数据，以供非球面透镜模具加工维护作业。本发明通过非球面透镜建模以及非球面透镜数值模拟计算，减少加工成本以及周期，避免由于加工误差带来的经济风险，提高加工质量可靠性。
球面透镜模具加工方法

[发明专利]一种基于模式展开的球面近场采样点相位还原方法及系统-CN201910452784.4在审
发明人：王卫民;韩亚;吴永乐;刘元安;张志华 -专利权人：北京邮电大学
申请日： 2019-05-28 - 公布日： 2020-12-18 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：一种基于模式展开的球面近场采样点相位还原方法及系统，该方法包括：获取测试天线辐射近场区域相隔一定距离的第一球面的幅值数据和第二球面幅值数据；基于第一球面的幅值数据计算第一球面的初始迭代场分布，进而得到第二球面的迭代场分布；基于第二球面的迭代场分布，通过幅值替代后，再通过球模式展开得到第一球面的迭代场分布，第一球面的迭代场分布含有计算得到的幅值数据；计算第一球面的幅值数据和第一球面的迭代场分布的幅值数据的误差值；若误差值小于预设值，输出还原的第一球面的电场相位分布。上述方法通过基于模式展开的无相位球面近场的相位还原算法，还原出近场的相位，能够有效解决球面近场测量中近场相位难以测量等的问题。
一种基于模式展开球面近场采样相位还原方法系统

[发明专利]未知参数非球面光学元件的非球面方程获取方法及装置-CN202211563390.4在审
发明人：付艳丽;李成杰;袁乔 -专利权人：上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2022-12-07 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： G06F17/11 文献下载
摘要：一种未知参数非球面光学元件的非球面方程获取方法及装置，方法包括步骤：S100：测量待测非球面光学元件的轮廓曲线，并基于轮廓曲线获取若干个采样点的二维数据；S200：对二维数据进行拟合获得非球面拟合方程；S300：对非球面拟合方程所表征的非球面面形进行检测，获得面形PV值，非球面检测仪重新输出二维数据；S400：将重新输出的二维数据通过步骤S200获得新的非球面拟合方程，及通过步骤S300进行检测获得面形PV值，非球面检测仪再次重新输出二维数据，依次类推，直到获取最小面形PV值，并将最小面形PV值作为最佳的非球面方程。利用非球面检测仪对多项式构造的非球面方程进行三维面形轮廓测试和验证，对二维数据反复迭代和逐步逼近，快速高效的得到非球面方程。
未知参数球面光学元件方程获取方法装置

[发明专利]一种计算二次非球面最佳拟合球面曲率半径的方法-CN202210445416.9在审
发明人：潘宝珠;龚天林;吴迪;黄世文;惠梓敬;皇奕宇;赵伟;吴洁 -专利权人：南通大学杏林学院
申请日： 2022-04-26 - 公布日： 2022-07-26 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明公开一种计算二次非球面最佳拟合球面曲率半径的方法，包括步骤一、获取传统算法的历史计算数据整理成训练数据集合验证数据集，步骤二、确定待计算二次非球面的最佳拟合球面，步骤三、建立最佳拟合球面曲率半径通用计算模型并进行训练和验证，步骤四、计算获得通用计算模型的输入数据值，步骤五、将计算出的数据值导入训练验证后的模型输出最终曲率半径值；本发明得到的计算表达式仅与二次非球面自身参数有关，各项物理意义清晰，利用非球面参数可直观、快速地计算出环形孔径二次非球面最佳拟合球面曲率半径，可计算所有二次非球面的最佳拟合球面曲率半径，适用范围广，能大大提高工作效率。
一种计算二次球面最佳拟合曲率半径方法

[发明专利]混合表面光学系统的设计方法-CN201710059418.3有效
发明人：朱钧;龚桐桐;金国藩;范守善 -专利权人：清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司
申请日： 2017-01-24 - 公布日： 2020-04-28 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：一种混合表面光学系统的设计方法，建立初始系统，选K条特征光线；求解其中m条特征光线与球面a的m个交点，得到m个特征数据点，将m个特征数据点拟合得到球面Am；求解第m+1个特征数据点，将m+1个特征数据点拟合得到球面Am+1；以此类推，求解第K个特征数据点，将K个特征数据点拟合得到球面a；以此类推，获得所有球面；以球面光学系统为初始系统，将K条特征光线与球面a的交点作为K个特征数据点；将K个特征数据点进行拟合，得到非球面b；以此类推，获得所有非球面，得到第一混合表面光学系统；第一混合表面光学系统为初始系统，将K条特征光线与非球面b的交点作为K个特征数据点；将K特征数据点进行拟合，得到待求自由曲面c；以此类推，获得所有自由曲面。
混合表面光学系统设计方法

[发明专利]球面干涉检测中待测球面调整误差的高精度校正方法-CN201210207116.3无效
发明人：王道档 -专利权人：中国计量学院
申请日： 2012-06-19 - 公布日： 2012-10-17 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种球面干涉检测中待测球面调整误差的高精度校正方法。首先利用干涉仪测得同时包含待测球面调整误差及其实际面形误差的原始波面数据，利用待测球面的数值孔径以及原始波面数据拟合多项式的离焦项，将离焦调整误差所引入的高阶像差从原始波面数据中分离出来，并通过消除原始波面数据拟合多项式的常数项、倾斜项、离焦项以及所分离出对应的高阶像差项，即可实现对球面干涉检测中待测球面倾斜和离焦调整误差的高精度校正，进而获得高精度的待测球面面形数据。本发明为精密球面、特别是大数值孔径球面的干涉检测中待测球面的调整误差提供了一种高精度的校正方法，在光学球面元件的精密加工、检测中具有重要应用价值。
球面干涉检测中待测调整误差高精度校正方法

[发明专利]基于三次样条插值法进行天线远场测量的方法及装置-CN201710093495.0有效
发明人：王卫民;刘元安;李梦;吴永乐;黎淑兰;于翠屏;苏明;徐世峰 -专利权人：北京邮电大学
申请日： 2017-02-21 - 公布日： 2019-03-19 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种基于三次样条插值法进行天线远场测量的方法及装置，该方法包括：采集天线的第一球面近场数据；利用三次样条插值法对该第一球面近场数据对应的采样点进行插值，并确定插值所生成的各个插值节点对应的球面近场数据；将插值所生成的各个插值节点对应的球面近场数据和该第一球面近场数据组合，得到该天线的第二球面近场数据；根据该天线的第二球面近场数据，求得该天线的远场方向图。
基于三次样条插值法进行天线测量方法装置

[发明专利]基于球面坐标的地理信息系统-CN200910236468.X无效
发明人：宫鹏;俞靓 -专利权人：北京秀英环境信息技术发展有限公司
申请日： 2009-10-22 - 公布日： 2011-05-04 - 主分类号： G06F17/30 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于球面坐标的地理信息系统，所述系统包括：球面WebGis单元，其用于数据的集中管理，用户通过Web浏览器与插件来使用基本的球面Gis功能；球面Desktop单元，其适用于本地海量数据分析、本地数据与远程数据的交互融合；后台服务集群与管理工具，其用于实现与球面WebGis单元、球面Desktop单元的交互，同时对海量的地理信息及相关数据进行集中管理；其中，基于地球球面坐标实现显示、测量、
基于球面标的地理信息系统

[发明专利]采用激光跟踪仪测量非球面顶点曲率半径偏差的方法-CN201110128177.6无效
发明人：李锐刚;王孝坤;郑立功;张学军 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2011-05-18 - 公布日： 2011-12-21 - 主分类号： G01B11/255 文献下载
摘要：采用激光跟踪仪测量非球面顶点曲率半径偏差的方法，涉及一种补偿检验中非球面顶点曲率半径偏差的测量方法，它解决现有非球面曲率半径的测量精度低、稳定性差，并且测量过程繁琐的问题，使补偿器、干涉仪和待检测非球面同轴；采用激光跟踪仪获得补偿器的光轴位置数据；根据光轴位置数据和补偿器的机械设计参数，获得补偿器后顶点的空间位置数据；采用激光跟踪仪测量待检测非球面的基准面数据，根据获得的基准面数据、机械设计参数和待检测非球面的设计参数，获得待测非球面顶点的空间位置数据；采用激光跟踪仪检测待检测非球面与补偿器之间的光学间隔，即待检测非球面顶点曲率半径的偏差。
采用激光跟踪测量球面顶点曲率半径偏差方法

[发明专利]基于球面Shearlet的三维标量信息压缩重构方法-CN202310337079.6有效
发明人：孙逸之 -专利权人：浙江大学
申请日： 2023-03-31 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G06T17/00 文献下载
摘要：本发明公开一种基于球面Shearlet的三维标量信息压缩重构方法。该方法用于处理三维空间中满足某种概率分布的数据，尤其适用于处理极坐标下有球面环绕式分布特征且在球面上各向异性的随机数据或确定性标量数据，包括具物理意义的空间数据分布和生物医学中临床观测数据。本发明在将三维空间合理划分为多个同心球层的基础上，将三维数据分布分解为多层球面数据，于各层中利用球面Shearlet系统的数学特性，分解、提取并压缩存储球面相关关键信息，并能从所提取的关键数据重建或逼近还原原始三维数据信息
基于球面 shearlet 三维标量信息压缩方法

[发明专利]地磁测量设备-CN201210331455.2有效
发明人：半田伊吹 -专利权人：雅马哈株式会社
申请日： 2012-09-07 - 公布日： 2013-03-27 - 主分类号： G01V3/40 文献下载
摘要：在地磁测量设备中，磁传感器检测磁数据，存储单元存储从所述磁传感器顺序输出的磁数据。椭球面产生单元计算第一椭球面、第二椭球面和第三椭球面中的每一个椭球面中心点，这三个椭球面中的每一个在其附近具有由存储在所述存储单元中的多个磁数据指示的坐标。椭球面中心点判定单元判定各个椭球面中心点之间的距离是否等于或小于阈值。校正值产生单元根据判定结果并且基于表示所述第一椭球面、第二椭球面和第三椭球面中一个椭球面的形状的系数矩阵来计算用于将椭球面上的坐标转换为球面上的坐标的椭球面校正矩阵。
地磁测量设备

[发明专利]一种基于二维插值提高球面近场相位测量效率的方法及装置-CN202310481023.8在审
发明人：王卫民;刘橦;吴永乐;杨清华 -专利权人：北京邮电大学
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明提供一种基于二维插值提高球面近场相位测量效率的方法及装置，所述方法的步骤包括：获取第一测量幅值数据和第二测量幅值数据；分别对第一测量幅值数据和第二测量幅值数据进行二维插值，得到第一插值幅值数据和第二插值幅值数据；计算所述第一球面的初始迭代场分布，基于第一球面的初始迭代场分布计算所述第二球面的迭代场分布；基于第二球面的迭代场分布计算第一球面的迭代场分布，分解得到第一球面的迭代幅值数据和迭代相位数据；计算第一插值幅值数据和所述迭代幅值数据的误差值；将误差值与预设的误差阈值进行比较，基于误差阈值确定进行下一次迭代或跳出迭代，若跳出迭代则以第一插值幅值数据与当前的迭代相位数据组合得到电场数据。
一种基于二维提高球面近场相位测量效率方法装置

[发明专利]基于风电数据升维与球面数据拟合的故障诊断方法-CN202010453836.2在审
发明人：于文新;陆洋;王俊年;李瑞奇;蒋丹;刘俊;周躦波;钟国亮 -专利权人：湖南科技大学
申请日： 2020-05-26 - 公布日： 2020-09-15 - 主分类号： G06Q50/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于风电数据升维与球面数据拟合的故障诊断方法，包括以下步骤：关于曲线拟合后取样的小样本扩展，建立以风电数据为基础的映射关系，将扩展样本数据映射至高维空间；建立球面数据模型，在模型的基础上设计球面数据拟合方法；将映射后的风电数据导入数据模型，输出可视化图形，定性得出故障类型及故障发生时的范围与临界条件。本发明首先设计了风电数据升维方法，然后建立球面数据模型并设计了球面数据拟合的推导过程，通过将升维后的风电数据在高维空间中进行球面拟合从而实现风电故障类型的判别及故障发生时的范围，具有算法简单、诊断精确度高的优点
基于数据球面拟合故障诊断方法

[发明专利]基于三次样条插值算法的球面近场相位测量方法及系统-CN202110649744.6在审
发明人：王卫民;王佳鑫;吴永乐 -专利权人：北京邮电大学
申请日： 2021-06-10 - 公布日： 2021-10-29 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本申请具体涉及一种基于三次样条插值算法的球面近场相位测量方法及系统，该方法包括：获取测试天线辐射近场区的第一近场幅度数据和第二近场幅度数据；使用三次样条插值算法得到第一插值幅度数据和第二插值幅度数据；基于第一插值幅度数据计算第一球面的迭代场分布，并基于第一球面的迭代场分布计算第二球面的初始迭代场分布；基于初始迭代场分布，通过幅值替代后，再通过球模式展开得到第一球面的迭代场分布，第一球面的迭代场分布含有计算得到的待校验幅度数据；计算第一近场幅度数据和待校验幅度数据的误差值；若误差值小于预设值，输出还原的第一球面的电场相位分布，本文有效解决了球面近场测量中近场相位难以测量的技术问题。
基于三次样条插值算法球面近场相位测量方法系统

[发明专利]非球面镜面集成加工系统及方法-CN200710202345.5有效
发明人：李军旗;欧阳渺安;刘庆 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2007-10-31 - 公布日： 2009-05-06 - 主分类号： G02B5/10 文献下载
摘要：本发明提供一种非球面镜面集成加工系统及方法，该方法包括如下步骤：根据用户需求设计非球面模具加工数据；根据上述加工数据对非球面镜面加工；对加工出来的非球面镜面模具进行测量；根据测量结果与设计的加工数据进行误差分析；判断误差是否位于误差范围内；若误差在误差范围内，进行最小二乘法拟合，以得到一个测量数据与所述设计的加工数据间的最小收敛条件，最终得到一个精度更高的非球面镜面曲线。通过本发明，提高非球面镜面加工的精度并提高加工效率。
球面镜集成加工系统方法

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