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[发明专利]温度测定装置、温度测定方法以及温度衰减测定方法-CN202180040773.0在审
发明人：圆山重直;冈部孝裕;井関祐也;野中崇;古川琢磨;细川靖;田畑裕太郎;松舘直史;中岛利宪;东雅也;折戸学 -专利权人：世美特株式会社;独立行政法人国立高等专门学校机构;国立大学法人弘前大学
申请日： 2021-06-15 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01K7/22 文献下载
摘要：本发明提供一种温度测定装置、温度测定方法以及温度衰减测定方法，能够以高精度、高准确性以及高速响应性来测量被测定体的温度，并且可将测定用薄膜感温元件的温度保持为比被测定体的温度低的关系。温度测定装置(10)包括：感温部(41)，探测温度；测定用薄膜感温元件(1)，通过使所述感温部(41)接触至被测定体，从而可测定温度；保护加热用薄膜感温元件(2)，与所述测定用薄膜感温元件(1)隔着隔热层(S1)可进行热交换地配置，且受到控制，以使温度变得与所述测定用薄膜感温元件(1)相等；温度控制元件(3)，可将所述测定用薄膜感温元件(1)设为比所述被测定体的温度低固定温度的温度状态；以及控制处理部(5)，控制所述测定用薄膜感温元件(1)、所述保护加热用薄膜感温元件(2)以及所述温度控制元件(3)。
温度测定装置方法以及衰减

[发明专利]镶嵌成形品合格与否判断装置-CN201811170919.X有效
发明人：石滨孝规 -专利权人：卡西欧计算机株式会社
申请日： 2018-10-08 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： H01M10/00 文献下载
摘要：镶嵌成形品具备：锂离子电池(30)；配置于锂离子电池(30)的近旁、测定镶嵌成形时的锂离子电池(30)周围的温度的温度测定元件(50)以及测定压力的压力测定元件(60)；和覆盖锂离子电池(30)、温度测定元件(50)、压力测定元件(60)、外罩构件(70)的成形树脂(80)。
镶嵌成形合格与否判断装置

[发明专利]湿度测定装置-CN202210702357.9在审
发明人：仓田敏德 -专利权人： SMC 株式会社
申请日： 2022-06-21 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： G01N33/00 文献下载
摘要：本发明提供一种湿度测定装置(10)，具备：温度湿度测定部(26)，该温度湿度测定部具有测定温度的感温元件及测定湿度的感湿元件；壳体(12)，该壳体具有收容温度湿度测定部的收容部(20)和将测定部位的气体供给到收容部的供给配管(22)；以及显示部(14)，该显示部具有显示器(54)，该显示部固定于壳体，显示部(14)具有显示控制部(52)，该显示控制部控制显示器(54)，显示气体的露点温度、以及感湿元件测定出的气体的湿度中的至少一方，气体的露点温度是基于感温元件测定出的气体的温度和感湿元件测定出的气体的湿度而算出的。
湿度测定装置

[发明专利]体液成分测定设备-CN200780008706.0有效
发明人：菅原吉久 -专利权人：泰尔茂株式会社
申请日： 2007-03-26 - 公布日： 2009-04-01 - 主分类号： G01N33/52 文献下载
摘要：一种体液成分测定设备，用于通过保持稳定的发光元件的光量来适当地测定体液成分。该体液成分测定设备包括：发光元件，用于向滴有体液的试纸发射光；光接收元件，用于接收从发光元件发射的光的反射光；温度测定单元，用于测定发光元件附近的温度；确定单元，用于根据温度测定单元测定的温度来确定用于稳定从发光元件发射的光量的光发射条件；以及驱动控制单元，用于根据确定单元所确定的光发射条件来控制发光元件的驱动，该体液成分测定设备的特征在于，在从发光元件发射的光量稳定之后，开始体液成分测定。
体液成分测定设备

[发明专利]电动压缩机-CN201180046834.0有效
发明人：渡边丰 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2011-09-30 - 公布日： 2013-06-05 - 主分类号： F04B49/10 文献下载
摘要：公开了即使离开功率元件地配置温度测定单元，也能够跟踪功率元件的温度变化的电动压缩机。在该电动压缩机中，温度测定单元(34)测定配置有功率元件(31)的基板(36)的温度。控制单元(33)根据由转速检测单元(35)检测出的电动机的转速及由温度测定单元(34)测定出的温度，估计功率元件(31)的温度。
电动压缩机

[发明专利]电子元件装置的电气特性测定方法、筛选方法及测定装置-CN201710826905.8有效
发明人：增渕元臣;赤穗贞广;加文字优;户田圭 -专利权人：株式会社村田制作所
申请日： 2017-09-14 - 公布日： 2020-08-28 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明提供校正了由基准温度和测定温度的差异引起的测定误差的电子元件的电气特性测定方法。分别对温度区域(3S、3T)进行温度控制，并且通过第1温度传感器(6)、第2温度传感器(8)、第3温度传感器(9)测定温度，算出测定电气特性时被测定电子元件装置X的测定时推定温度，使用该测定时推定温度，校正由基准温度和测定温度的差异引起的测定误差。校正后的电气特性在规定的范围内时，判断被测定电子元件装置(X)为合格品。
电子元件装置电气特性测定方法筛选

[发明专利]激光光源装置-CN201780014109.2有效
发明人：清水昭宏 -专利权人：优志旺电机株式会社
申请日： 2017-03-08 - 公布日： 2020-07-14 - 主分类号： H01S5/024 文献下载
摘要：本发明提供能够更高精度地使半导体激光元件的温度稳定于所希望的范围的激光光源装置。激光光源装置具有：光源部，包括半导体激光元件而构成，该半导体激光元件在从允许下限温度到允许上限温度为止的温度下射出规定的波段的激光；冷却部，连结于光源部；元件温度测定部，对半导体激光元件的温度即元件温度进行测定；冷却部温度测定部，对作为冷却部的温度的冷却部温度进行测定，所述冷却部温度是从元件温度离开的位置的温度；以及控制部，对冷却部进行控制。控制部是以使冷却部温度接近设定温度的方式控制冷却部的结构，在元件温度超过允许上限温度的情况下，使设定温度降低，在元件温度低于允许下限温度的情况下，使设定温度提高。
激光光源装置

[发明专利]温度测定电路及温度测定装置-CN202210016131.3在审
发明人：柴田浩平 -专利权人：三美电机株式会社
申请日： 2022-01-07 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G01K11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种温度测定电路及温度测定装置，其能够应对大范围的感温元件常数。温度测定电路使用感温元件来测定温度，其具备：电压控制电路，其向所述感温元件施加控制电压；第一切换电路，其基于流过所述感温元件的电流来切换所述控制电压的值；转换电路，其将流过所述感温元件的电流以预定的转换增益转换为与测定温度对应的电压值
温度测定电路装置

[发明专利]温度传感器-CN201010287798.4有效
发明人：中村贤蔵;石川元贵 -专利权人：三菱综合材料株式会社
申请日： 2010-09-17 - 公布日： 2012-04-04 - 主分类号： G01K7/22 文献下载
摘要：本发明提供一种温度传感器，其即使在与测定对象物的附着度不足的状态下也可以准确地进行测温，同时也可以探知对测定对象物的设置状态的变化。该温度传感器(1)安装于测定对象物而测定该测定对象物的温度，其具备有：第1传感器元件(2)，接收从测定对象物放射的红外线而检测测定对象物的温度；第2传感器元件(4)，通过与测定对象物成为接触状态的同时遮断从测定对象物放射的红外线的导热部(3)，由从测定对象物传递的热来检测测定对象物的温度；及框体(5)，容纳第1传感器元件(2)和第2传感器元件(4)，同时安装于测定对象物。
温度传感器

[发明专利]电力变换装置以及制冷剂冻结检测方法-CN201310478432.9无效
发明人：森祐挥;佐川哲;山中文雄;冈安刚;寺门秀一;菱田昭裕;安田阳介 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2013-10-14 - 公布日： 2014-04-16 - 主分类号： H02M1/00 文献下载
摘要：本发明的课题在于，检测制冷剂的冻结，实现早期抑制电力变换用半导体元件的负荷的控制。为此，本发明的电力变换装置具有多个电力变换用半导体元件、受热构件、多个热管、多个温度测定元件、多个散热片，电力变换用半导体元件设置于受热构件的一面，温度测定元件安装于电力变换用半导体元件表面或与电力变换用半导体元件的设置面相同的受热构件面，多个热管安装于受热构件的另一面，多个热管的至少一部分具有散热部，多个散热片安装于多个热管的散热部，电力变换装置通过监视由多个温度测定元件的至少一部分测定的温度和由配置于其他部位的至少一部分温度测定元件测定的温度的差来检测在多个热管中装入的制冷剂的冻结
电力变换装置以及制冷剂冻结检测方法

[发明专利]电梯控制装置-CN201110181550.4无效
发明人：野岛秀一 -专利权人：东芝电梯株式会社
申请日： 2011-06-30 - 公布日： 2012-04-11 - 主分类号： B66B1/34 文献下载
摘要：本发明涉及在开关元件破损之前进行更换的即具有开关元件的寿命诊断功能的电梯控制装置。本发明实施方式涉及的电梯控制装置具备：变换器(2)、平滑电容器(3)、逆变器(4)、对开关元件的散热面温度进行测定的温度测定部(8)和寿命判定部(10)，该寿命判定部(10)将由温度测定部(8)所测定的散热面温度的测定结果作为实测值，将作为散热面温度预先确定的预定值与实测值进行比较，检测开关元件是否异常。
电梯控制装置

[发明专利]热式流量计以及流量校正方法-CN201810818576.7有效
发明人：柳川雄成;山崎吉夫;松永晋辅;长谷部亘 -专利权人：阿自倍尔株式会社
申请日： 2018-07-24 - 公布日： 2020-11-03 - 主分类号： G01F1/69 文献下载
摘要：热式流量计具备：热阻元件，其配设于配管，检测作为测定对象的流体的第1温度；热阻元件，其配设于相比热阻元件更靠下游侧的配管的部位，检测作为测定对象的流体的第2温度；控制部，其以使第2温度比第1温度高出恒定值的方式，使热阻元件发热；电力测定部，其测定施加到热阻元件的电力；温度差梯度计算部，其计算第2温度与第1温度的温度差的梯度；电力校正部，其基于在配管内没有流体的情况下的电力的已知的值以及温度差的梯度来校正由电力测定部测定出的电力；以及流量计算部，其基于由电力校正部校正后的电力，计算作为测定对象的流体的流量。
流量计以及流量校正方法

[发明专利]进行处理装置的检查的系统和检查方法-CN202010875893.X在审
发明人：杉田吉平;永井健治 -专利权人：东京毅力科创株式会社
申请日： 2020-08-27 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：进行处理装置的检查的系统具备：温度调整机构，其调整处理装置的处理室内的部件温度；光源，其产生测定光；多个光学元件，在温度调整机构对部件进行温度调整的期间，所述多个光学元件将通过光源产生的测定光作为出射光射出至处理装置的处理室内的部件，并且反射光射入所述多个光学元件；以及控制部，其基于反射光，针对与光学元件对应的每个测定部位测定部件温度，基于测定部位的部件温度的各温度的比较来判定处理装置的异常。
进行处理装置检查系统方法

[发明专利]半导体发光元件的温度特性检查装置和温度特性检查方法-CN201210082180.3有效
发明人：山本宏明;渡边信幸;近江晋 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2012-03-26 - 公布日： 2012-09-26 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种半导体发光元件的温度特性检查装置和温度特性检查方法。温度特性检查装置包括电流施加/电压测定装置和测定对象的半导体发光元件。电流施加/电压测定装置包括电流施加部、电压检测部。电流施加/电压测定装置例如是芯片探针，将探针对准晶圆状态的半导体发光元件的电极来进行电流施加、电压测定。使用所测定的正向电压值和光输出值，例如通过外部的运算部、判定部来进行半导体发光元件的温度特性的好坏判定。由此，能够提供一种不增加芯片面积、能够以低成本实现的温度特性检查装置和温度特性检查方法。
半导体发光元件温度特性检查装置方法

[发明专利]液面检测电路、液位计、含有液位计的容器以及使用该容器的气化器-CN201580054407.5有效
发明人：平田薰;杉田胜幸;日高敦志;西野功二;池田信一 -专利权人：株式会社富士金
申请日： 2015-11-24 - 公布日： 2019-09-24 - 主分类号： G01F23/22 文献下载
摘要：本发明涉及的液位计(30)具备第一测温电阻元件(R11)；配置在第一测温电阻元件的附近的第一温度测定元件(R12)；根据第一测温电阻元件及第一温度测定元件的温度检测液面的位置的液面检测部(39)，检测第一测温电阻元件及第一温度测定元件的温度的温度检测部(37)，按照温度检测部检测到的第一测温电阻元件的温度与第一温度测定元件的温度的差成为第一定值的方式，决定施加到第一测温电阻元件的电流值的电流控制部(38)；和将所决定的电流值的电流施加到第一测温电阻元件的电源部(32)，液面检测部使用施加到第一测温电阻元件的电流值，判定第一测温电阻元件存在于液体中还是存在于液体外。由此，能够不受周围温度的影响地进行液面检测，由于按固定温度差进行温度控制，所以不会对测温电阻元件施加必要以上的电力，能够实现长寿命化。
测温电阻元件温度测定元件液位计温度检测部液面检测部施加液面检测电路电流控制部电流施加温度检测液面检测长寿命电源部气化器温度差检测判定配置

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