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- [实用新型]测试针板-CN202020819379.X有效
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柳初发
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深圳市金锐显数码科技有限公司
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2020-05-15
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2021-02-09
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G01R31/28
- 一种测试针板，包括测试针板本体，并通过在测试针板本体上设有与信号源可插拔连接的音频信号测试端口、功放信号测试端口、视频信号测试端口以及按键信号测试端口，从而可以根据相应的待测板的测试需求而插拔信号源与测试针板本体上的部分或全部的测试端口的连接，从而使得测试针板可适用于不同的待测板的测试需求，解决了传统的测试针板中存在的仅能适用一种板型的PCBA板卡的特定功能测试的问题。
- 测试
- [实用新型]一种陶瓷电容器耐电压测试夹具-CN202021232875.1有效
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蒋小明;杨啸;姚飞;张骞
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陕西华星电子开发有限公司
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2020-06-29
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2021-02-19
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G01R1/04
- 本实用新型公开了一种陶瓷电容器耐电压测试夹具，属于电子陶瓷技术领域。该测试夹具包括：测试盒、动测试针和静测试针；测试盒的侧壁上设置有穿线孔，内部装有绝缘油，并设置有第一连接板和第二连接板；静测试针固定连接在第一连接板上，动测试针活动连接在第二连接板上，且静测试针和动测试针针头相对应；静测试针和动测试针的末端均连接有接线片；两根耐压测试仪输出引线穿过穿线孔分别连接在静测试针和动测试针的接线片上。本实用新型中，在检测盒的第一连接板上固定连接静测试针，第二连接板上活动连接动测试针，通过调节动测试针的针头与静测试针的针头之间的距离，从而可以适应不同厚度规格的陶瓷电容器银片。
- 一种陶瓷电容器电压测试夹具
- [实用新型]一种线路板微型测试针治具-CN202021652911.X有效
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王克长
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江苏洲旭电路科技有限公司
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2020-08-11
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2021-05-25
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G01R31/28
- 本实用新型公开了一种线路板微型测试针治具，包括：底座；治具载板；上盖板；治具下针板；测试针机构，所述测试针机构设有若干个，所述测试针机构包括测试针套筒，所述测试针套筒内部固定安装有隔板，所述隔板将测试针套筒分隔成滑动腔和检测腔，且滑动腔位于检测腔上方，所述滑动腔内部滑动安装有活塞，所述活塞顶端固定安装有测试针，所述活塞底端固定安装有弹簧，且弹簧底端固定连接于隔板顶端表面；本实用新型通过安装的测试针机构，相比于传统的刚性接触，能够降低测试针对线路板造成的刮痕损伤，同时弹簧的弹力也能将测试针抵在线路板上，能够确保测试针与线路板之间的紧密接触，从而能够保证该装置的测试精准度。
- 一种线路板微型测试针治具
- [实用新型]一种球型栅格阵列活动测试座-CN200320117705.9无效
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白锦添
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白锦添
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2003-11-04
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2004-12-22
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H01L21/66
- 本实用新型公开了一种球型栅格阵列活动测试座，包括符合BGA器件锡珠阵列排列的测试针，所述BGA定位板、测试针上定位板、测试针下定位板和PCB引线板从上至下依次由定位螺丝连接固定，BGA定位板通过定位板弹簧实现上下移动，所述BGA定位板、测试针上定位板和测试针下定位板均设有与测试针相对应的定位孔阵列，引线板设有与测试针相对应的焊盘阵列；测试针的针头位于BGA定位板的定位孔阵列内，位于焊盘阵列的测试针底部通过引线板的印刷线路与引线插座连通本实用新型采用定位孔阵列定位测试针，免模具生产，可大幅度降低生产成本，维修且使用方便，适用于BGA封装器件的测试、BGA封装的储存器的烧写。
- 一种栅格阵列活动测试
- [发明专利]半导体测试治具的形成方法-CN201410607154.7有效
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石磊
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通富微电子股份有限公司
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2014-10-30
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2017-12-08
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H01L21/66
- 一种半导体测试治具的形成方法，包括提供基底；在所述基底上形成若干相互分离的若干测试针头；在所述基底上形成介质层，所述介质层填充相邻测试针头之间的空间且覆盖测试针头的侧壁表面，所述介质层的表面与测试针头的顶部表面齐平在介质层和测试针头上形成过渡板，所述过渡板中具有若干与测试针头顶部表面电接触的金属块。本发明方法形成的半导体测试治具中的介质层用于测试针头之间的电学隔离并提高测试针头的机械强度，所述介质层上具有过渡板，所述过渡板作为测试针头与被测试端子之间的过渡结构，以方便电学性能的测试，以及防止测试针头与被测试端子直接接触，对测试端子造成损伤或者容易使得测试针头发生变形。
- 半导体测试形成方法
- [发明专利]半导体测试治具-CN201410605254.6有效
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石磊
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通富微电子股份有限公司
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2014-10-30
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2017-11-10
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G01R31/26
- 一种半导体测试治具，包括基底；位于基底上若干相互分离的若干测试针头；位于基底上的介质层，所述介质层填充相邻测试针头之间的空间且覆盖测试针头的侧壁表面，所述介质层的表面与测试针头的顶部表面齐平；位于介质层和测试针头上的过渡板，所述过渡板中具有若干与测试针头顶部表面电接触的金属块。半导体测试治具中的介质层用于测试针头之间的电学隔离并提高测试针头的机械强度，所述介质层上具有过渡板，所述过渡板作为测试针头与被测试端子之间的过渡结构，以方便电学性能的测试，以及防止测试针头与被测试端子直接接触，对测试端子造成损伤或者容易使得测试针头发生变形。
- 半导体测试
- [实用新型]一体化在线测试仪和测试夹具-CN201621180764.4有效
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陈春璋;陈金保
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恒诺微电子(嘉兴)有限公司
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2016-10-28
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2017-04-19
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G01R1/04
- 一体化在线测试仪和测试夹具，包括测试针套、测试针、载板、托盘、牛角、上模夹具、培林、穿孔电木和夹具本体，所述载板与上模夹具通过培林和定位柱固定连接，所述夹具本体上安装有穿孔电木，所述穿孔电木上安装有测试针套，所述测试针套上连接有测试针，所述测试针与牛角电连接，所述测试针的上部设置有托盘，所述牛角位于上模夹具侧面，所述载板位于穿孔电木的背面，所述测试针与PCB板紧密接触，所述测试针包括长针和短针。本实用新型采用组合一体化，实现合站测试并相互间不受影响，减少PCB板测试点位多次针扎，避免PCB板损伤，减少工作站，节省人力，提高效率。
- 一体化在线测试仪测试夹具
- [实用新型]压敏电阻器测试头夹具-CN201720045881.8有效
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尧巍华;宋秀鹏
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东莞易力禾电子有限公司
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2017-01-16
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2017-08-11
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G01L25/00
- 本实用新型公开了一种压敏电阻器测试头夹具，其包括测试板、限位板、导向柱及测试机构，导向柱设置在测试板一侧，限位板卡持在导向柱上并设置在测试板上方，测试机构卡持在导向柱上；限位板上开设有第二测试针孔，测试机构设置有导向块、支撑板及测试针头组，导向块卡持在导向柱上，支撑板设置在导向块一侧，测试针头组卡持在支撑板上，测试针头组包括测试针，测试针对应第二测试针孔设置。本实用新型通过导向块带动测试针头组移动，进而带动针头穿过第二测试针孔后，通过弹簧的调节作用，自动调节测试针头末端表面与待测样品银电极表面的接触强度，实现稳定的无悬空接触，不会出现未接触的高阻态，使得测试准确率高
- 压敏电阻测试夹具
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