专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]芯片测试设备及其芯片测试过程叠料或卡料检查方法-CN202110578262.6在审
  • 曹敬芳;王天平 - 普冉半导体(上海)股份有限公司
  • 2021-05-26 - 2021-08-20 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种芯片测试设备,在FT测试模式下,如果芯片标识读取模块在开短路测试模块对放置于测试槽的待检芯片完成FT测试的开短路测试时读取的该待检芯片的FT标志寄存器中的标识为测试通过识别码,其控制器输出叠料或卡料现象发生信息;当对放置于测试槽的待检芯片的FT测试的全部测试项完成时,如果该待检芯片的FT测试的各测试项均通过,其控制器控制标识写入模块向该芯片的FT标志寄存器写入测试通过识别码,如果该待检芯片的FT测试存在失败测试项,其控制器输出测试通过信息。本发明还公开了该芯片测试设备的芯片测试过程叠料或卡料检查方法。本发明,便于及时发现芯片叠料或卡料,并方便后续追踪检查芯片是否是FT测试通过的芯片。
  • 芯片测试设备及其过程检查方法
  • [发明专利]老化测试方法、系统与电子设备-CN202111048227.X在审
  • 朱凌峰 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2021-09-08 - 2023-03-10 - G01R31/28
  • 本公开提供一种晶圆老化测试方法、系统与电子设备。晶圆老化测试方法包括:获取目标芯片颗粒的多个测试单元在第i个老化时间段结束时的测试通过率,测试通过率为多个测试单元中测试结果为通过测试单元的占比,i为大于1的整数;根据目标芯片颗粒在前i个老化时间段对应的测试通过率确定目标芯片颗粒对应的失效分布模型;根据失效分布模型确定目标芯片颗粒对应的目标老化时间;在当前时间小于目标老化时间时,继续对目标芯片颗粒进行下一个老化时间段的电流老化测试,在当前时间大于等于目标老化时间时,停止对目标芯片颗粒进行电流老化测试
  • 老化测试方法系统电子设备
  • [发明专利]代码分支管理方法及装置-CN202010247066.6有效
  • 桑京;李卓 - 中国建设银行股份有限公司
  • 2020-03-31 - 2023-03-31 - G06F8/70
  • 本发明提供了一种代码分支管理方法及装置,该方法包括:项目开发时,从开发分支获取代码,创建个人开发分支;对完成开发的个人开发分支进行本地集成测试;若本地集成测试通过,将个人开发分支的代码合并到开发分支,对开发分支进行系统集成测试;若系统集成测试通过,从开发分支获取代码,创建发布分支,对发布分支进行用户验收测试;若用户验收测试通过,将发布分支的代码合并到主分支,对主分支的代码进行投产使用。本发明通过允许创建个人开发分支,可同时支持众多开发人员同时进行项目开发,又可将开发人员的代码及时地合并到开发分支,提高了代码合并的时效性,以及可对代码分支及时地进行检测,提高了代码检测的效率。
  • 代码分支管理方法装置
  • [发明专利]数据测试方法、装置及电子设备-CN201710937226.8有效
  • 尹成;陈少杰;张文明 - 武汉斗鱼网络科技有限公司
  • 2017-09-29 - 2018-08-21 - G06F11/36
  • 本发明实施例提供一种数据测试方法、装置及电子设备,涉及测试技术领域。所述数据测试方法包括:使用MVP架构将Instrumentation Test测试工程划分为Model层、View层和Presenter层;在Java虚拟机上运行对Model层和Presenter层的测试用例的测试,得到Model层的测试用例的测试通过率和覆盖率的第一数据文件,以及Presenter层的测试用例的测试通过率和覆盖率的第二数据文件,其中,第一数据文件为ec文件,第二数据文件为ec文件;在Dalvik/ART虚拟机上运行对View层的测试用例的测试,得到View层的测试用例的测试通过率和覆盖率的第三数据文件,第三数据文件为exec文件;将第一数据文件、第二数据文件和第三数据文件进行合并,生成测试报告数据使用该数据测试方法、装置及电子设备,能够提高测试效率。
  • 数据测试方法装置电子设备
  • [发明专利]一种快速内存训练的方法及系统-CN202011470809.2在审
  • 彭星洪 - 成都海光集成电路设计有限公司
  • 2020-12-14 - 2021-04-02 - G06F11/22
  • 本发明提供一种快速内存训练的方法及系统,所述方法包括:从存储设备中读取预设参数信息,所述预设参数信息至少包括内存训练的预设状态参数和预设参数区间;当预设状态参数为预设值时,将预设参数区间作为内存训练的测试参考本发明能够根据内存训练结果的惯性原理,即外部环境在一定程度上变化时,同一个设备上内存训练的测试通过参数窗口和上一次训练的测试通过参数窗口相近的原理,在上一次内存训练结果的基础上选择参数进行测试,找到测试通过参数窗口
  • 一种快速内存训练方法系统
  • [发明专利]一种数据测试的方法和装置-CN202310033269.9在审
  • 吴斯凡 - 中国建设银行股份有限公司;建信金融科技有限责任公司
  • 2023-01-10 - 2023-04-14 - G06F11/36
  • 本发明公开了一种数据测试的方法和装置,涉及大数据技术领域。该方法的一具体实施方式包括:在测试环境中获取测试请求;根据所述测试请求获取测试数据;利用所述测试数据在所述测试环境中对测试规则进行测试;在测试通过的情况下,将所述测试规则导入所述生产环境,以利用所述测试规则对生产数据进行计算;其中,所述测试环境与所述生产环境的配置信息相同。该实施方式通过测试环境与生产环境进行相同配置,保证了测试环境与生产环境的规则部署环境相同,可以直接将测试通过测试规则部署到生产环境,无需进行规则或者内容的转换。
  • 一种数据测试方法装置
  • [发明专利]测试方法及测试系统-CN201810778121.7有效
  • 白剑 - OPPO广东移动通信有限公司
  • 2018-07-16 - 2022-09-30 - G06T7/80
  • 本发明公开了一种测试方法。测试方法用于测试结构光设备的参数,结构光设备包括深度相机,测试方法包括步骤:驱动结构光设备运动至相对于标定板的第一测试位置;控制深度相机获取标定板的深度图像;及依据深度图像判断结构光设备的深度精度是否测试通过本发明还公开了一种测试系统。本发明实施方式的测试方法及测试系统中,通过对结构光设备的深度相机获取的深度图像,可以判断结构光设备的深度精度是否测试通过,可以在结构光设备出厂前对结构光设备的参数进行测试,避免出厂的结构光设备的参数不符要求
  • 测试方法系统

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