专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]测试-CN202110065158.7在审
  • 李家宇;范伟海;李纪周 - 中芯国际集成电路制造(天津)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2021-01-18 - 2022-07-29 - G01R31/28
  • 一种测试,用于与多个测试板相配合进行测试,所述测试板具有功能测试端;所述测试包括:底座,包括配置区和位于所述配置区端部的扩展区;阵列排布的引脚,位于所述底座上,所述引脚用于与所述测试板的插座匹配使用;所述引脚包括:位于所述配置区且与所述功能测试端对应的第一测试引脚,以及位于所述扩展区且与所述功能测试端对应的第二测试引脚;焊盘,设置于所述底座中且与所述引脚一一对应相连;互连结构,包括位于所述底座中的至少一条互连线,所述互连线用于连接所述第一测试引脚和第二测试引脚对应的焊盘。本发明实施例提供的测试能够与多个测试板相配合进行测试,提高了所述测试的通用性。
  • 测试装置
  • [实用新型]测试-CN200820176287.3无效
  • 崔磊;吕昭融 - 名硕电脑(苏州)有限公司;和硕联合科技股份有限公司
  • 2008-11-20 - 2009-12-23 - G06F11/00
  • 本实用新型提供一种测试测试包括连接部、供电电路、比较器、第一发光单元、开关模块以及光控制单元。测试通过连接部、供电电路、比较器、第一发光单元、开关模块以及光控制单元来对一主机板的显示卡连接器的测试点进行量测。当显示卡连接器内部出现短路时,测试自动对主机板开机进行保护动作,防止出现短路时,误开机烧毁主机板与显示卡。
  • 测试装置
  • [发明专利]测试-CN201310155561.4无效
  • 沈皓然 - 苏州工业园区高登威科技有限公司
  • 2013-04-28 - 2013-07-17 - G01B21/02
  • 本发明揭示了一种测试,其中,所述测试包括:工作台,气缸、夹持工位和传感装置,所述传感装置设置在夹持工位上。与现有技术相比,本发明的测试上设置有位移传感器,可以快速测量测试工件中某一活动段的位移变化值,结构简单,解决了人工测量产生的误差问题,提高了测量的精度。
  • 测试装置
  • [发明专利]测试-CN202210001589.1在审
  • 聂大文 - 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
  • 2022-01-04 - 2022-04-29 - G01N3/20
  • 本申请实施例提供一种测试,包括第一支撑板、第二支撑板、旋转臂组件以及转轴组件,旋转臂组件分别与第一支撑板以及第二支撑板固定连接,转轴组件与旋转臂组件固定连接,第二支撑板通过转轴组件与第一支撑板可转动连接;上述测试的支撑机构用于放置待测折叠显示装置,当转动转轴组件时,待测折叠显示装置跟随支撑机构弯折,使得待测折叠显示装置测试上进行弯折寿命测试,针对不同弯折轨迹或者不同尺寸大小的待测折叠显示装置测试可以通过更换转轴组件或者支撑机构来实现对其进行弯折寿命测试,从而使测试能够实现对不同弯折轨迹或者不同尺寸大小的待测折叠显示装置进行弯折寿命测试
  • 测试装置
  • [实用新型]测试-CN202121802508.5有效
  • 田龙 - 深圳宏芯宇电子股份有限公司
  • 2021-08-03 - 2022-05-17 - G01R19/25
  • 本实用新型涉及产品测试的技术领域,公开了一种测试,所述测试包括:测试电路、主机接口和存储装置接口;所述主机接口用于连接测试主机,所述存储装置接口用于连接存储装置,所述测试电路的一端连接主机接口以使所述测试电路连接所述测试主机的电源接点,另一端连接存储装置接口以使所述测试电路连接所述存储装置的电源接点,所述测试电路用于检测所述存储装置的电源接点以获取所述存储装置的电流数据。通过此测试,直接将存储装置与存储装置接口连接即可进行测试使得对存储装置测试操作简单。
  • 测试装置
  • [发明专利]测试-CN202111619098.5在审
  • 郝康赟;江京;周德祥;郝宇昊;魏莉玲 - 天芯互联科技有限公司
  • 2021-12-27 - 2022-11-01 - G01R31/28
  • 本申请公开了测试,其中,测试包括:母板,母板上设置有多个测试区域;多个子板,各子板分别包括可拆卸连接的芯片安装电路板以及外围电路集成电路板;各子板分别通过芯片安装电路板与母板上的一测试区域对应可拆卸连接通过上述结构,本申请的测试能够利用芯片安装电路板以及外围电路集成电路板的可拆卸连接,灵活更换芯片安装电路板和外围电路集成电路板以应对不同的芯片测试,从而避免整个更换整个子板才能实现不同芯片的测试,提高测试的兼容性,进而降低子板制造成本和时长,并提高芯片测试的效率。
  • 测试装置
  • [发明专利]测试-CN201880069228.2有效
  • 宋昌炫;郑宰欢 - 李诺工业股份有限公司
  • 2018-11-22 - 2023-07-11 - G01R1/067
  • 本发明公开一种用于高速/高频测试测试。所述测试包括:导电块,包括探针孔;至少一个信号探针,无接触地支撑在所述探针孔的内壁中,包括将与待测试对象的测试接触点接触的第一端,且能够沿长度方向缩回;以及同轴缆线,包括将与所述信号探针的第二端电接触的芯线通过此测试,所述同轴缆线直接接触所述信号探针,因而完全阻挡测试电路板中的噪声。
  • 测试装置
  • [实用新型]测试-CN202023350910.2有效
  • 陈晓杰;徐莎莎;王伟 - 瑞声科技(南京)有限公司;瑞声声学科技(深圳)有限公司
  • 2020-12-31 - 2022-01-25 - G01N25/20
  • 本实用新型提供了一种测试,用于测试均温板的传热性能。测试包括测试组件和设于均温板的一端的加热组件。测试组件包括分别与均温板两端抵接的第一温度传感器和第二温度传感器。本实用新型提供的测试能够防止加热件的热量损失,同时减少了导热件的体积,使得导热件上升到预设温度的时间减少,提高了测试的加热效率。同时在测试连续工作过程中,导热件降温更快,减少了两次测试过程中需要的等待时间,提高了测试效率。
  • 测试装置
  • [发明专利]测试-CN201010609017.9无效
  • 李辉 - 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
  • 2010-12-28 - 2012-07-04 - G01R31/40
  • 一种测试,其在电脑系统中连接电源供应器和电脑主板以测试所述电源供应器的电气参数,所述电源供应器用于给电脑提供电能,所述电源供应器包括输入端和输出端,所述输入端与外部电源相连,所述电源供应器的输出端有若干个输出电压,所述测试包括输入端、输出端和连接所述输入端和输出端的若干组测试接口,所述测试的输入端与所述电源供应器的输出端相连接,所述测试的输出端与所述电脑相连,每一组所述若干组测试接口与所述电源供应器的一个输出电压相对应以测试所述输出电压的电气参数
  • 测试装置
  • [实用新型]测试-CN202221401581.6有效
  • 刘宇强;宋传宇;何永健;巫辉燕;张其东;黎文炬 - 广州汽车集团股份有限公司
  • 2022-06-06 - 2023-01-31 - G01R31/385
  • 本申请涉及一种测试测试用于对待测电池包进行电磁兼容性测试测试包括屏蔽箱体及测试电路模块,屏蔽箱体设有输入端,输入端用于连接待测电池包,测试电路模块设置于屏蔽箱体内,测试电路模块电性连接于输入端,测试电路模块包括负载电路及传感器电路上述测试测试电路模块通过屏蔽箱体的输入端与待测电池包相连,使待测电池包接入测试电路模块的工作回路,通过模拟搭建新能源汽车的待测电池包的测试环境,实现对待测电池包的电磁兼容性测试,保证了测试结果的准确性
  • 测试装置
  • [发明专利]测试-CN201980027605.0有效
  • 朴东鑂;郑宰欢 - 李诺工业股份有限公司
  • 2019-05-22 - 2023-09-05 - G01R1/18
  • 揭露一种用于测试高频高速半导体的测试。所述测试包括:探针支撑区块,沿测试方向形成有管容纳部;可导电的屏蔽管,容纳于所述管容纳部中;以及探针,以不接触的方式容纳并支撑于所述屏蔽管中,所述管容纳部包括用于将接地信号传输至所述屏蔽管的导电接触部当测试高频高速半导体或类似受试者时,所述测试轻易地且廉价地防止相邻信号探针之间发生串扰并改善阻抗特性。
  • 测试装置

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