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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]测试装置-CN201980027605.0有效
发明人：朴东鑂;郑宰欢 -专利权人：李诺工业股份有限公司
申请日： 2019-05-22 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01R1/18 文献下载
摘要：揭露一种用于测试高频高速半导体的测试装置。所述测试装置包括：探针支撑区块，沿测试方向形成有管容纳部；可导电的屏蔽管，容纳于所述管容纳部中；以及探针，以不接触的方式容纳并支撑于所述屏蔽管中，所述管容纳部包括用于将接地信号传输至所述屏蔽管的导电接触部。当测试高频高速半导体或类似受试者时，所述测试装置轻易地且廉价地防止相邻信号探针之间发生串扰并改善阻抗特性。
测试装置

[发明专利]测试装置-CN201880069228.2有效
发明人：宋昌炫;郑宰欢 -专利权人：李诺工业股份有限公司
申请日： 2018-11-22 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明公开一种用于高速/高频测试的测试装置。所述测试装置包括：导电块，包括探针孔；至少一个信号探针，无接触地支撑在所述探针孔的内壁中，包括将与待测试对象的测试接触点接触的第一端，且能够沿长度方向缩回；以及同轴缆线，包括将与所述信号探针的第二端电接触的芯线。通过此测试装置，所述同轴缆线直接接触所述信号探针，因而完全阻挡测试电路板中的噪声。
测试装置

[发明专利]探针插座-CN201880020227.9有效
发明人： 郑宰欢 -专利权人：李诺工业股份有限公司
申请日： 2018-03-22 - 公布日： 2022-08-16 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明揭示一种用于检查待测试对象的电特性的探针插座。探针插座包含：多个电源接脚，用于将电源施加至待测试对象；多个接地接脚，平行于电源接脚布置；支撑块，用于容纳及支撑相平行的多个电源接脚或接地接脚；以及导电板，以横向于电源接脚及接地接脚的纵向方向的方向布置于支撑块内部，且具有用于使多个电源接脚共同电连接的电源连接图案及用于使多个接地接脚共同电连接的接地连接图案中的至少一者。
探针插座

[发明专利]测试装置-CN202080021355.2在审
发明人：宋昌炫;郑宰欢 -专利权人：李诺工业股份有限公司
申请日： 2020-04-17 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： G01R1/18 文献下载
摘要：本发明公开一种用于测试待测试对象的电特性的测试装置。所述测试装置包括：区块，包括探针孔；多个信号探针，被支撑在探针孔中且被可缩回地配置成连接待测试对象的接触点与用于施加测试信号的信号接触点；同轴缆线，包括绝缘护套、被绝缘护套围绕的主芯体以及自绝缘护套暴露且自主芯体延伸以与信号探针接触的探针接触部分，其中信号探针的轴与同轴缆线的轴间隔开，且探针接触部分包括自绝缘护套暴露且沿着同轴缆线的轴延伸的线性延伸部分以及自线性延伸部分朝向探针的轴延伸的接触部分。
测试装置

[发明专利]测试插座组件-CN201780018232.1有效
发明人： 郑宰欢 -专利权人：李诺工业股份有限公司
申请日： 2017-03-22 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明公开一种测试插座组件，用于电连接测试物体中的待测试的接触点与用于在测试电路中测试的接触点。测试插座组件包含：多个信号探针；插座块体，包含面朝测试电路的底部表面、面朝测试物体的顶部表面、用于在多个信号探针的相对末端自顶部表面及底部表面曝露时容纳多个信号探针以彼此平行的多个探针孔以及自顶部表面及底部表面的排除探针孔的周界区域的至少部分区域凹入的凹入部分；以及弹性接地构件，容纳于凹入部分中且是由导电弹性材料制成以与测试物体及测试电路中的至少一者接触。
测试插座组件

[发明专利]探针插座-CN201680052420.1有效
发明人： 郑宰欢;金勤洙;申晶澈 -专利权人：李诺工业股份有限公司
申请日： 2016-09-08 - 公布日： 2020-09-08 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：一种高频(RF)用探针插座。所揭示的高频用探针插座包括：导电性的噪声屏蔽本体，以两端部露出的方式彼此平行地收容多个信号用探针而屏蔽噪声；上部噪声阻隔壁及下部噪声阻隔壁，自上述噪声屏蔽本体向上述多个信号用探针所露出的两端部之间的一部分区域延伸；及上部固定构件及下部固定构件，分别配置至上述噪声屏蔽本体的上部及下部，分别支持上述多个信号用探针所露出的两端部，且具有收容上述噪声阻隔壁的收容槽部。藉此，可通过自屏蔽区块延伸的噪声阻隔壁屏蔽，防止通过上部固定构件及下部固定构件的信号用探针引脚之间的串扰。
探针插座

[发明专利]测试探针模块与测试插座-CN201880068269.X在审
发明人： 郑宰欢;金勤洙;申晶澈 -专利权人：李诺工业股份有限公司
申请日： 2018-06-28 - 公布日： 2020-06-05 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明公开一种测试探针模块。所述测试探针模块包括：导电管；探针，被非接触式地插入于所述管中且可沿长度方向弹性伸缩；以及绝缘探针支撑部件，被配置成在所述管的内壁与所述探针的外表面之间支撑所述探针。本发明的测试探针模块在噪声屏蔽效能上得以改良且便于修理探针，乃因探针是通过被非接触式地支撑于金属管中而被安装至探针插座。
测试探针模块插座

[发明专利]测试装置-CN201880050433.4在审
发明人：金勤洙;郑宰欢 -专利权人：李诺工业股份有限公司
申请日： 2018-08-07 - 公布日： 2020-04-17 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：揭示一种用于测试待测试对象的电特性的测试装置。所述测试装置包括：测试电路板，包括绝缘基底基板、多个信号接触点及基板屏蔽部分，所述绝缘基底基板形成有印刷电路，所述多个信号接触点连接至所述印刷电路且向待测试对象施加测试信号，所述基板屏蔽部分在所述基底基板的厚度方向上形成于所述多个信号接触点之间；以及测试插座，包括多个信号引脚及导电区块，所述多个信号引脚接触所述多个信号接触点，所述导电区块以不接触的方式支撑所述多个信号引脚。此使得当高频高速半导体经历测试时在用于施加测试信号的各线路之间达成牢靠的噪音屏蔽，藉此提高测试的可靠性。
测试装置

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