专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]电迁移测试结构-CN201611010913.7有效
  • 赵敏;陈雷刚;周柯 - 上海华力微电子有限公司
  • 2016-11-17 - 2019-11-26 - H01L21/66
  • 本发明提供了一种电迁移测试结构,包括:金属测试线、金属通孔、测试结构金属引线、连接用金属垫、最上层金属连线以及测试金属垫;其中,金属测试线的两端分别通过一个金属通孔连接至一个测试结构金属引线,而且各个测试结构金属引线分别连接至一个连接用金属垫;每个连接用金属垫连接至一个测试金属垫的最上层金属;其中每个连接用金属垫包括经由通孔依次连接的多层金属层,而且每个测试金属垫包括经由通孔依次连接的多层金属层。
  • 迁移测试结构
  • [发明专利]电源键合引线焊点的可靠性检测方法-CN201410072811.2有效
  • 章晓文;何小琦;恩云飞 - 工业和信息化部电子第五研究所
  • 2014-02-28 - 2014-05-28 - G01N17/00
  • 一种电源键合引线焊点的可靠性检测方法,包括:建立键合引线焊点可靠性的测试装置,所述测试装置置于温循箱内,包括:键合引线、过渡片、粘接层和陶瓷基板,各键合引线键合设置在过渡片上,各条键合引线串联,串联后的键合引线一端连接电源的第一接线柱,另一端连接电源的第二接线柱,所述过渡片的粘接面粘接在粘接层上,所述粘接层设置在陶瓷基板上,键合引线为与电源键合引线相同类型的键合引线;通过所述测试装置获取键合引线焊点初始阻值和当前阻值,并根据初始阻值、当前阻值和预设倍数值判断键合引线焊点是否失效,当键合引线焊点失效时获取温度循环次数;根据温度循环次数判断电源键合引线焊点的可靠性。
  • 电源引线可靠性检测方法
  • [实用新型]一种路基模量自动测试装置-CN202021159636.8有效
  • 徐平;杨露;马宗正;王士龙;赵亚兵;王志强;周国航;王程昊 - 河南工程学院
  • 2020-06-22 - 2022-02-08 - E02D1/00
  • 本实用新型涉及一种路基模量自动测试装置,该路基模量自动测试装置包括碰撞装置以及信号采集装置,碰撞装置包括安装架,安装架上固定连接有第一驱动机构,第一驱动机构的输出轴通过离合器连接有绕线轮,碰撞装置还包括引线机构,安装架上固定连接有用于驱动引线机构在水平面内转动的第二驱动机构,引线机构包括与第二驱动机构的输出轴固定连接的支架、转动装配在支架上的引线杆以及驱动引线杆转动的第三驱动机构,引线杆上设有引线槽,引线杆的端部设有引线轮,支架的转动轴线与引线杆的转动轴线垂直相交。本实用新型的路基测量装置操作更加简单,通过转动引线杆使钢球依次位于七个测点的正上方,提高了路基模量测试效率和自动化程度。
  • 一种路基自动测试装置
  • [实用新型]一种大功率电源组件测试装置-CN201720166419.3有效
  • 杨仙林 - 万诺电子(苏州)有限公司
  • 2017-02-23 - 2017-08-29 - G01R31/40
  • 本实用新型公开了一种大功率电源组件测试装置,其结构包括选频测试仪器、开模面板、测试采集模块、引线槽、主体外壳、电源组件装置、变频信号源模块、控制显示面板,选频测试仪器、引线槽和电源组件装置均装设在主体外壳的内部,选频测试仪器通过测试采集模块与电源组件装置相连接,选频测试仪器上设有信号指示灯、开关接线框体,控制显示面板固定装设在选频测试仪器的顶端上,引线槽装设在测试采集模块的后侧端上,电源组件装置由滤波处理器、电源接口窗和全段整流模块组成,本实用新型通过设置引线槽和开关接线框,能够对不同接口的电源组件进行测试,并且线束排布有序,减小了放置空间,同时降低了制造成本。
  • 一种大功率电源组件测试装置
  • [发明专利]一种低温测试探杆-CN201611127512.X在审
  • 康焱 - 北京无线电计量测试研究所
  • 2016-12-09 - 2017-03-15 - G01R1/06
  • 本申请公开了一种低温测试探杆,解决超导器件超低频电压参数测量准确度低的问题。所述低温测试探杆用于连接超导器件及常温测试仪器,包含接线盒、外管、滑动法兰、波导、偏置引线、超低频电压输出引线;滑动法兰位于外管的外壁,用于将低温测试探杆固定于低温杜瓦瓶口;外管的外壁和低温杜瓦的外壁都是金属,通过滑动法兰固定后处于导通状态;接线盒位于低温测试探杆的顶部,与外管固定;偏置引线、波导和超低频电压输出引线位于接线盒和外管内部,用于连接位于所述低温测试探杆底部的超导器件;超低频电压输出引线为双芯屏蔽线
  • 一种低温测试探杆
  • [实用新型]一种低温测试探杆-CN201621346906.X有效
  • 康焱 - 北京无线电计量测试研究所
  • 2016-12-09 - 2017-06-06 - G01R1/06
  • 本申请公开了一种低温测试探杆,解决超导器件超低频电压参数测量准确度低的问题。所述低温测试探杆用于连接超导器件及常温测试仪器,包含接线盒、外管、滑动法兰、波导、偏置引线、超低频电压输出引线;滑动法兰位于外管的外壁,用于将低温测试探杆固定于低温杜瓦瓶口;外管的外壁和低温杜瓦的外壁都是金属,通过滑动法兰固定后处于导通状态;接线盒位于低温测试探杆的顶部,与外管固定;偏置引线、波导和超低频电压输出引线位于接线盒和外管内部,用于连接位于所述低温测试探杆底部的超导器件;超低频电压输出引线为双芯屏蔽线
  • 一种低温测试探杆
  • [发明专利]一种紫外光探测器-CN201110165546.9有效
  • 赵昆;赵赛赛;赵嵩卿;达世炼 - 中国石油大学(北京)
  • 2011-06-20 - 2011-11-02 - H01L31/09
  • xMnO3薄膜;第一金属薄膜电极和第二金属薄膜电极,分别生长在LaxCa1-xMnO3薄膜的两端;第三金属薄膜电极,位于第一金属薄膜电极和第二金属薄膜电极之间,且生长在LaxCa1-xMnO3薄膜上;第一电极引线、第二电极引线和第三电极引线的各自输入端,分别连接于第一金属薄膜电极、第二金属薄膜电极和第三金属薄膜电极上;第一电极引线、第二电极引线和第三电极引线的各自输出端,分别连接于电压测试设备,其中,第一电极引线、第二电极引线的各自输出端连接于所述电压测试设备的负极,第三电极引线的各自输出端连接于电压测试设备的正极。
  • 一种紫外光探测器
  • [发明专利]用于耗尽型MOSFET高温反偏测试的装置及方法-CN201510383246.6有效
  • 马书嫏 - 无锡华润上华科技有限公司
  • 2015-07-02 - 2020-02-14 - H01L21/66
  • 本发明涉及一种用于耗尽型MOSFET高温反偏测试的装置,包括用于连接被测MOSFET的栅极的第一引线,用于连接被测MOSFET的源极的第二引线,用于连接被测MOSFET的漏极的第三引线,其特征在于,所述第一引线的一端用于连接所述栅极,另一端用于接地,所述第二引线的一端用于连接所述源极,另一端用于接地,且第二引线上串联接有分压电阻,所述第三引线的一端用于连接所述漏极,另一端用于连接一测试电压提供装置。本发明还涉及一种耗尽型MOSFET的高温反偏测试方法。本发明在传统的测试设备上进行改造,只需增加一个分压电阻就能够进行耗尽型MOSFET的HTRB测试,成本低廉、架构简单、改造方便。
  • 用于耗尽mosfet高温测试装置方法
  • [实用新型]一种QFN压测测试机构-CN201520366946.X有效
  • 谢国清 - 东莞市华越自动化设备有限公司
  • 2015-06-01 - 2015-11-11 - G01R31/00
  • 本实用新型的一种QFN压测测试机构,包括测试站底座、测试站高度调整机构、压测测试板、测试引线转换机构、引线PCB板、IC脚位金手指、IC定位机构与散热板控针。本实用新型通过调节测试站高度可适用于对不同规格、不同类型的IC元件进行测试,通用性强;其又由于设置有引线PCB板、IC定位机构、IC脚位金手指和IC散热板探针,其通过IC定位机构可对IC元件进行压测前定位,保证了IC脚位金手指与IC散热板探针对IC元件进行测试时具有良好的接触性能,从而保证了测试的准确性,其通过设置测试引线转换机构与压测测试板相配合操作,使其满足对精细的IC元件进行多脚位、多电信的测试要求
  • 一种qfn测测试机

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