“标准具”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网_专利查询网

首页在售求购查询申请展会资讯专利榜企服商城升级VIP

立即登录免费注册

在售专利
求购专利
查询专利
新闻资讯
技术展会
招商加盟
专利榜

本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

专利名称

专利名称
专利号码
专利分类
申请人
公布日期

农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

专利下载VIP

公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

钻瓜专利网为您找到相关结果828466个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种波长监控结构-CN201710976063.4在审
发明人：吴砺;赵武丽;潘忠灵;李阳 -专利权人：福州高意通讯有限公司
申请日： 2017-10-19 - 公布日： 2019-04-26 - 主分类号： H04B10/572 文献下载
摘要：本发明涉及光纤通讯技术领域，尤其是涉及一种波长监控结构，其包括设于光路上的准直器、分束器、第一标准具、第二标准具、第一光电探测器和第二光电探测器，所述第一标准具的自由光谱范围大于待监控光束波长的两倍，第二标准具的自由光谱范围小于待监控光束波长；待监控光束进入准直器准直后，穿过第一标准具，再经过分束器至少分成两路，第一路穿过第二标准具后，进入第一光电探测器，第一光电探测器将光转化为电信号并输出第一探测信号，另一路进入第二光电探测器，第二光电探测器将光转化为电信号并输出第二探测信号
光电探测器标准具监控光束波长监控探测信号自由光谱分束器准直器波长光纤通讯技术穿过输出两路转化

[发明专利]一种高稳定度光电振荡器及控制方法-CN201810884116.4有效
发明人：陈海波;王暖让;赵环;杨仁福 -专利权人：北京无线电计量测试研究所
申请日： 2018-08-06 - 公布日： 2020-09-01 - 主分类号： H01S1/02 文献下载
摘要：本申请公开了一种高稳定度光电振荡器，包括激光器、调制单元、偏振单元、第一FP标准具、第二FP标准具、光电转换单元、放大单元、滤波单元、耦合单元组成的振荡回路。调制激光信号分解为第一、第二偏振光信号，分别经第一FP标准具和第二FP标准具生成两路峰值波长不同的光信号，经光电转换单元输出微波振荡信号合并输入至放大单元；再经滤波单元、耦合单元送至调制单元。本发明还包含控制方法，调节第一偏振光、第一FP标准具、第二偏振光、第二FP标准具的角度、位置，使所述微波振荡信号的Q值最大。
一种稳定光电振荡器控制方法

[发明专利]一种光学标准具的自动优化滤波系统及方法-CN202010540529.8有效
发明人：李淑静;徐忠孝;王海 -专利权人：山西大学
申请日： 2020-06-15 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G02B5/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种光学标准具的自动优化滤波系统及方法。所述系统包括：光学标准具、温度控制系统、光功率取样装置和反馈控制装置；光功率取样装置用于采集光学标准具的输入功率值和输出功率值；光功率取样装置的输出端与反馈控制装置的输入端连接，反馈控制装置的输出端与控温仪的温度配置端连接反馈控制装置将所述光学标准具的输入功率值和输出功率值转化为光学标准具的当前透过率，并根据光学标准具的当前透过率及透过率随温度的变化状态确定出控制电压，并将控制电压发送至控温仪，控温仪将控制电压转化为设定温度
一种光学标准自动优化滤波系统方法

[发明专利]一种可调高功率激光衰减器-CN201010589774.4无效
发明人：吴砺;任策 -专利权人：福州高意光学有限公司
申请日： 2010-12-16 - 公布日： 2011-05-11 - 主分类号： G02F1/01 文献下载
摘要：一种可调高功率激光衰减器，包括底座，所述底座上部为一斜面；还包括夹持器、光学标准具；所述夹持器胶粘固接或机械固接在所述斜面，所述夹持器上部设置一凹槽，该凹槽与所述光学标准具的形状相适应，适合所述光学标准具嵌入；所述光学标准具可以为电光材料、热光材料或电致伸缩材料。与现有技术相比，本发明的有益效果是：随着光学标准具包括电光材料料、热光材料或电致伸缩材料在外加电信号或外加热源作用下，其对入射光的折射率发生变化或其自身形状发生伸缩变化导致入射光的入射角发生变化，从而改变光学标准具对入射光的透过率
一种可调功率激光衰减器

[发明专利]一种简易光谱仪-CN200810071878.9无效
发明人：吴砺;凌吉武;龚錾;马英俊;林磊 -专利权人：福州高意光学有限公司
申请日： 2008-10-06 - 公布日： 2009-02-11 - 主分类号： G01J3/30 文献下载
摘要：本发明公开了一种简易光谱仪，其包括一组滤光片、一组光电探测器，在一组滤光片和一组光电探测器之间对应设置一组标准具，一组标准具设在固定标准具支架上，固定标准具支架由马达驱动转动，采用一组台阶型滤光片对不同波长范围的光反射或透射，可以使入射光分为几个光谱区域，当马达带动一组标准具连续均匀转动时，每一个标准具所出射的光的波长也连续变化，产生稳定重复光电信号，可被光电探测器探测，由于本产品制造成本低，可以大规模制作，用来进行光纤通讯波长实时测量
一种简易光谱仪

[实用新型]低色散的TFF DWDM模块-CN200920252040.X有效
发明人：张志刚;罗勇;陈龙;付永安 -专利权人：武汉光迅科技股份有限公司
申请日： 2009-12-28 - 公布日： 2010-12-01 - 主分类号： G02F1/21 文献下载
摘要：一种低色散的TFF DWDM模块，包括有GTR标准具组件和双芯准直器组件排列设置。GTR标准具组件包括有用于多光束干涉，产生波间色散的GTR标准具，以及位于GTR标准具腔中用于调节GTR标准具的中心波长的玻璃片。双芯准直器组件包括有用于固定输入输出光纤的双芯玻璃插针，以及设置在双芯玻璃插针的位于GTR标准具组件一端的用于约束光路的Clens。
色散 tff dwdm 模块

[实用新型]一种MEMS结构的扫描标准具-CN201220672264.8有效
发明人：吴砺;贺坤;刘国宏 -专利权人：福州高意通讯有限公司
申请日： 2012-12-06 - 公布日： 2013-06-05 - 主分类号： G02B26/10 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种MEMS结构的扫描标准具，其包括光纤、微透镜、光电二极管或接受光纤，所述的光纤光输出端面设有反射膜，光输出端设有微型凸透镜，所述的微型凸透镜和微透镜之间设有MEMS活动片，所述的光纤与MEMS活动片构成共焦腔扫描标准具，扫描标准具的焦点在MEMS活动片端面上。本实用新型通过在光纤光输出端面设有反射膜，光输出端设有微型凸透镜，并在微型凸透镜与微透镜之间设有MEMS活动片，从而使光纤与MEMS活动片构成共焦腔扫描标准具，扫描标准具的焦点在MEMS活动片端面上，本实用新型结构简单，微型凸透镜采用气溶胶成型，表层设有氩层，将气溶胶技术应用到扫描标准具中，成型简单，与光纤良好的结合。
一种 mems 结构扫描标准

[实用新型]一种冲头固定板标准件组合检具-CN201120324921.5有效
发明人：郭广兴;安莹;徐方剑;刘金良 -专利权人：上海华普汽车模具制造有限公司;浙江吉利控股集团有限公司
申请日： 2011-09-01 - 公布日： 2012-05-30 - 主分类号： G01B5/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种冲头固定板标准件组合检具，包括检具底板，所述检具底板上可拆卸连接有至少一检验用销柱和多种直径的检验用冲头，检验用冲头通过对应的冲头标准固定板固定，检具底板上设置有与该冲头标准固定板位置相对应的多个固定螺孔使用该冲头固定板标准件组合检具检验，检验过程方便、快速、准确，大大提高了检验效率和检验的准确性，减少了检验员工的劳动强度，解决了目前未有专有的行冲头固定板标准件组合检具，现有冲头固定板的检验方法为使用测量工具进行冲头固定板标准件的检验工作
一种固定标准件组合

[发明专利]一种波长锁定装置-CN201510059920.5在审
发明人：黄曙亮;杨代荣 -专利权人：昂纳信息技术(深圳)有限公司
申请日： 2015-02-04 - 公布日： 2015-06-24 - 主分类号： H01S3/13 文献下载
摘要：本发明提供了一种波长锁定装置，包括第一分光器、第二分光器、第一标准具、第二标准具、第一探测器、第二探测器、第三探测器、热电致冷器和热敏电阻，所述第一标准具、第二标准具和热敏电阻分别固定粘结在热电致冷器上
一种波长锁定装置

[实用新型]锥面深度检测工具-CN201420425138.1有效
发明人：金海峰;焦斌;齐智伟 -专利权人：宁波金凌中德汽车部件有限公司
申请日： 2014-07-30 - 公布日： 2014-11-26 - 主分类号： G01B5/18 文献下载
摘要：一种锥面深度检测工具，它包括杠杆百分表(1)、检具本体(2)、标准锥台(3)和锥形内腔标准测量体(4)，所述的检具本体(2)设有中心孔，所述的杠杆百分表(1)位于检具本体(2)的上端，且杠杆百分表(1)检测端位于中心孔内，所述的标准锥台(3)分为锥台(3.1)和杆(3.2)，标准锥台(3)位于检具本体(2)的下端，且杆(3.2)滑动连接在中心孔内，锥台(3.1)位于锥形内腔标准测量体(4)的锥形内腔内，所述的检具本体(2)下端与锥形内腔标准测量体(4)插接；与现有技术相比，本实用新型具有检测效率较高，不易出现错检或漏检的情况及检出率较高的特点。
锥面深度检测工具

[实用新型]一种色散补偿器件-CN201120352507.5有效
发明人：陈立勋;陈斯杰;李阳;张华平;陈孙标 -专利权人：福州高意通讯有限公司
申请日： 2011-09-20 - 公布日： 2012-05-09 - 主分类号： H04B10/18 文献下载
摘要：一种色散补偿器件包括准直器、标准具、准直器金属套管、标准具金属套管和金属球关节，所述准直器与准直器金属套管固定，所述标准具和标准具金属套管固定；所述标准器金属套管与金属球关节的一端激光焊接，所述标准具金属套管与金属球关节的另一端激光焊接
一种色散补偿器件

[发明专利]一种波长选择结构-CN201110093688.9有效
发明人：吴砺;胡豪成;郑保忠 -专利权人：福州高意通讯有限公司
申请日： 2011-04-14 - 公布日： 2011-11-23 - 主分类号： G02B6/293 文献下载
摘要：本发明公开了一种波长选择结构，包括多个薄的可调多腔标准具组及相应的多个腔长控制元件组；多个标准具分为n级组合使用，对应第n级的标准具个数为2n-1，相应的制作成1×2n端口的波长选择结构，所述的n为大于零的整数；各个标准具的通带周期分别大于各自的输入信号带宽，且其透射带宽和反射带宽都要大于各自的输入信号带宽的一半；所述多个腔长控制元件分别控制各自标准具的腔长变化，使其透射反射通道根据需要进行变换，以实现波长选择
一种波长选择结构

[实用新型]孔位置度专用检具-CN201520492801.4有效
发明人：曹佩华 -专利权人：长沙飞斯特机械制造有限公司
申请日： 2015-07-09 - 公布日： 2015-12-02 - 主分类号： G01B5/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种孔位置度专用检具。所述孔位置度专用检具包括标准检测架、定位销、检测销、角向定位孔和中部标准孔，所述定位销设于所述标准检测架正中央，且贯穿所述标准检测架，所述检测销、所述角向定位孔和所述中部标准孔均设于所述标准检测架一面，所述角向定位孔和所述中部标准孔均贯穿所述标准检测架。本实用新型提供的孔位置度专用检具解决了现有技术的孔位置度检具定位不准确、拆装步骤繁琐的技术问题。
位置专用

[实用新型]一种检测块-CN202120566624.5有效
发明人：张国喜 -专利权人：立铠精密科技（盐城）有限公司
申请日： 2021-03-19 - 公布日： 2021-09-28 - 主分类号： G01B5/00 文献下载
摘要：本实用新型属于检具技术领域，公开了一种检测块，包括标准块、磁铁和持握部件，标准块呈条状，标准块沿其长度方向设置有测量平面，测量平面上设置有安装槽；磁铁设置于安装槽内；持握部件呈可拆卸地连接于标准块。本实用新型通过标准块内设置的磁铁将标准块磁吸固定于待测量治具上，作业人员可通过手握持握部件将标准块移动至治具的待测量位置，并使得测量平面沿待测治具轴丝杆的轴向紧贴于轴丝杆的外周面，然后借助千分表等辅助测试仪器测量出标准块的偏差数据，即可根据偏差数据校验轴丝杆精度，无需拆卸原有治具和重新架机调整，减少检测轴丝杆精度时对产能带来的影响，提高工作效率。
一种检测

[发明专利]冲击波速度测量系统中的干涉仪-CN201310704573.8无效
发明人：闫亚东;何俊华;达争尚;董晓娜;陈良益 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2013-12-19 - 公布日： 2014-04-09 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种冲击波速度测量系统中的干涉仪，包括等比分束镜、第一反射镜、合束镜、第二反射镜以及第一时间延迟标准具；多普勒频移信号光经等比分束镜后形成反射光以及透射光；第一反射镜以及合束镜依次设置在反射光所在的光路上；第一时间延迟标准具、第二反射镜以及合束镜依次设置在透射光所在的光路上；透射光依次经过第一时间延迟标准具、第二反射镜以及第一时间延迟标准具入射至合束镜；还包括第二时间延迟标准具；反射光依次经过第二时间延迟标准具、第一反射镜以及第二时间延迟标准具入射至合束镜。
冲击波速度测量系统中的干涉仪

友情链接：交换友情链接需要网站权重大于4，网站收录10W以上，如符合条件，请联系QQ：76009968。

关于我们寻求报道投稿须知广告合作版权声明网站地图友情链接企业标识联系我们

在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

版权所有钻瓜科技（天津）有限公司津ICP备15000985号津公网安备 12019202000206号http://www.vipzhuanli.com/公布日期

咨询在线客服

咨询在线客服

tel code back_top