专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于电磁超声与3D相控阵的螺栓监测系统及方法-CN202111206115.2在审
  • 王烁程 - 北京创程科技有限公司
  • 2021-10-16 - 2022-01-14 - G01N29/06
  • 本发明公开了一种基于电磁超声与3D相控阵的螺栓监测系统及方法,包括成像采集单元,成像采集单元与成像分析单元对接,成像分析单元与损伤数据分析单元对接,成像采集单元用于采集叶根螺栓数据,进行螺栓成像,并将采集的螺栓成像数据发送到成像分析单元中,成像分析单元用于接收成像采集单元发送的螺纹成像数据,做出螺纹损伤情况的分析,本发明涉及风电机组监测技术领域。该基于电磁超声与3D相控阵的螺栓监测系统及方法,集成螺栓数据采集系统、螺栓损伤数据分析、螺栓故障诊断和处理的系统性体系结构,实现螺栓损伤的数据收集与分析,从而制定相关的螺栓施工工艺、运行维护操作规范,以减少运维工作量及运维次数
  • 一种基于电磁超声相控阵螺栓监测系统方法
  • [发明专利]自动多通道类流式图像荧光分析系统-CN201510452591.0在审
  • 陈睿;颜海波;黄海清;罗浦文;夏浩涵;张莹莹 - 上海睿钰生物科技有限公司
  • 2015-07-28 - 2015-10-21 - G01N21/64
  • 本发明公开了一种自动多通道类流式图像荧光分析系统,包括:集成式荧光激发光源装置、样品台装置、显微成像装置、自动控制系统分析处理系统;其中:自动控制系统分别与集成式荧光激发光源装置、样品台装置和显微成像装置相连,分别对集成式荧光激发光源装置、样品台装置和显微成像装置进行控制;集成式荧光激发光源装置、样品台装置和显微成像装置构成显微光学系统分析处理系统与显微成像装置相连,对显微成像装置采集的图像进行分析处理。本发明能够以显微成像技术为基础、快速采集和分析大量样品的成像信息,并采用密度函数的算法进行分析,以同时获得每个细胞的形态影像学分析结果和基于大样本量的密度函数的类流式数据分析结果。
  • 自动通道类流式图像荧光分析系统
  • [发明专利]一种成像质量分析系统-CN202210590444.X在审
  • 王宇飞;詹福赐 - 南宁市迈越软件有限责任公司
  • 2022-05-26 - 2022-09-20 - G06T7/00
  • 本发明涉及视觉成像分析技术领域,公开了一种成像质量分析系统,所述成像质量分析系统由静态图像获取模块、动态图像获取模块、图像处理模块、图像分析模块、图像比对模块以及数据管理模块组成,所述静态图像获取模块、本发明通过对视觉成像的静态、动态的比对分析,能够对视觉成像系统进行实际运转的检测、对比工作,进而对视觉成像系统进行线下校正处理,且通过其静态、动态的检测、比对,不仅能够清晰的观察检测视觉成像系统成像特性,同时能够便于对成像系统进行线下校正、调节,降低线上装配调节的操作强度。
  • 一种成像质量分析系统
  • [发明专利]光学成像系统中光学系统与机械系统集成仿真方法-CN200410011346.8无效
  • 陈长征;杨洪波 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2004-12-13 - 2005-06-01 - G06F17/50
  • 本发明涉及光学成像系统的光学系统与机械系统一体化设计方法。利用工程分析系统对整个光学成像系统进行机械结构性能分析,得到光学表面变形后新节点几何位置;并对新节点几何位置进行曲面拟合,求出其曲面方程作为新曲面并输入到光学设计系统分析光学成像系统成像质量,如不能满足设计要求,则利用光学设计系统对新曲面进行优化得到新光学表面并输入到工程分析系统中,使光学成像系统修改成含有新光学表面的新光学成像系统并利用工程分析系统进行机械结构优化。重复以上各步骤,直到成像质量满足设计要求为止。由于本发明使机械设计与光学设计联系起来,统筹考虑影响光学成像系统成像质量的综合敏感因子,使光学成像系统的设计仿真集成化。
  • 光学成像系统光学系统机械系统集成仿真方法
  • [实用新型]自动多通道类流式图像荧光分析系统-CN201520556514.5有效
  • 陈睿;颜海波;黄海清;罗浦文;夏浩涵;张莹莹 - 上海睿钰生物科技有限公司
  • 2015-07-28 - 2016-01-06 - G01N21/64
  • 本实用新型公开了一种自动多通道类流式图像荧光分析系统,包括:集成式荧光激发光源装置、样品台装置、显微成像装置、自动控制系统分析处理系统;其中:自动控制系统分别与集成式荧光激发光源装置、样品台装置和显微成像装置相连,分别对集成式荧光激发光源装置、样品台装置和显微成像装置进行控制;集成式荧光激发光源装置、样品台装置和显微成像装置构成显微光学系统分析处理系统与显微成像装置相连,对显微成像装置采集的图像进行分析处理。本实用新型能够以显微成像技术为基础、快速采集和分析大量样品的成像信息,并采用密度函数的算法进行分析,以同时获得每个细胞的形态影像学分析结果和基于大样本量的密度函数的类流式数据分析结果。
  • 自动通道类流式图像荧光分析系统
  • [发明专利]高速行驶列车在线铁路轨道路面异常智能检测系统装置-CN201711306454.1在审
  • 张光群 - 株洲中车轨道交通装备有限公司
  • 2017-12-11 - 2018-05-04 - B61L23/04
  • 高速行驶列车在线铁路轨道路面异常智能检测系统装置,包括机车和路面监测系统装置,路面监测系统装置安装在机车头部上,通过路面监测系统装置对机车运行前方的路面状况进行适时监测;所述的路面监测系统装置包括扫描装置、成像装置和成像分析控制系统,其中扫描装置安装在机车头部顶面或侧面,成像装置和成像分析控制系统安装在机车头部内面;通过路面监测系统装置的扫描装置适时对高速行驶列车行驶前方的铁路轨道路面状况进行扫描,并在捕捉铁路轨道路面异常状况后,再通过路面监测系统装置的成像装置进行成像,并将成像发送到成像分析控制系统成像分析控制系统根据成像的属性来进行路面状况的适时监测。
  • 高速行驶列车在线铁路轨道路面异常智能检测系统装置
  • [发明专利]便携式CNC铣床刀具检测仪-CN201510049075.3有效
  • 阳朝晖 - 深圳市眼之杰光电科技有限公司
  • 2015-01-30 - 2018-03-13 - G01B11/00
  • 本发明涉及检测设备领域,公开了便携式CNC铣床刀具检测仪,其包括支架装置、刀具成像系统和图像分析系统;支架装置可以安装在CNC铣床的工作台上铣床刀具的近处,可以纵向移动;刀具成像系统安装在支架装置上可以横向移动,可以动态拍摄铣床刀具的成像;图像分析系统固定在支架装置上,连接刀具成像系统,并将铣床刀具的成像转换为铣床刀具的参数。本发明为小型的便携式检测仪,通过刀具成像系统成像,图像分析系统分析铣床刀具的图像和显示铣床刀具的参数,实现铣床刀具的在线检测和预调。该检测仪还包括机外检测刀架,通过该机外检测刀架模拟机床,将支架装置、刀具成像系统和图像分析系统放置在机外检测刀架上实现机外检测和预调刀具。
  • 便携式cnc铣床刀具检测
  • [实用新型]便携式CNC铣床刀具检测仪-CN201520067197.0有效
  • 阳朝晖 - 深圳市眼之杰光电科技有限公司
  • 2015-01-30 - 2015-06-17 - G01B11/00
  • 本实用新型涉及检测设备领域,公开了便携式CNC铣床刀具检测仪,其包括支架装置、刀具成像系统和图像分析系统;支架装置可以安装在CNC铣床的工作台上铣床刀具的近处,可以纵向移动;刀具成像系统安装在支架装置上可以横向移动,可以动态拍摄铣床刀具的成像;图像分析系统固定在支架装置上,连接刀具成像系统,并将铣床刀具的成像转换为铣床刀具的参数。本实用新型为小型的检测仪,通过刀具成像系统成像,图像分析系统分析铣床刀具的图像和显示铣床刀具的参数,实现铣床刀具的在线检测和预调。检测仪还包括机外检测刀架,通过该机外检测刀架模拟机床,将支架装置、刀具成像系统和图像分析系统放置在机外检测刀架上实现机外检测和预调刀具。
  • 便携式cnc铣床刀具检测
  • [发明专利]基于DMD的超分辨成像光学系统公差分析方法-CN202110483284.4有效
  • 王超;邢思远;李英超;徐淼;史浩东 - 长春理工大学
  • 2021-04-30 - 2022-09-09 - G06T3/40
  • 基于DMD的超分辨成像光学系统的公差分析方法,属于光学系统装调技术领域,为了解决现有技术存在的问题,建立基于DMD的超分辨成像光学系统基本成像模型;根据建立的基于DMD超分辨成像光学系统成像模型,对系统进行公差分析:给出所要分析的公差类型,包括镜片偏心、倾斜、镜片间隔误差和离焦;给出各公差项的公差预定值,按照重建图像PSNR值下降至所能接受的最低值给定公差预定值;通过反向灵敏度法对超分辨成像光学系统进行公差分析,将引入随机误差后的超分辨成像光学系统的PSF代入仿真模型,通过仿真模型进行重建,并对重建结果进行分析,得到基于DMD的超分辨成像光学系统的公差范围。
  • 基于dmd分辨成像光学系统公差分析方法

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