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[发明专利]一种微粒捕捉结构及高压导体绝缘支撑结构-CN201910626663.7有效
发明人：裴涛;金光耀;柏长宇;李丽娜;郭煜敬;叶三排;王志刚;姚永其 -专利权人：平高集团有限公司;国家电网有限公司
申请日： 2019-07-11 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： H02G5/06 文献下载
摘要：本发明涉及高压绝缘技术领域，具体涉及一种微粒捕捉结构及高压导体绝缘支撑结构。微粒捕捉结构包括：薄壁筒体，使用时套在高压导体的外侧，且与外筒体之间形成微粒捕捉间隙；薄壁筒体的筒壁上设有多个捕捉孔；薄壁筒体的一端具有用于与绝缘支撑连接的连接结构，另一端设有外翻唇边，外翻唇边的外侧面上在与捕捉孔周向对应的位置处设有绝缘层薄壁筒体与外筒体之间形成微粒捕捉间隙即微粒陷阱，当导电微粒重新获得活动性能而浮起时，微粒陷阱开口附近的导电微粒将朝向微粒陷阱开口处即薄壁筒体远离连接结构的一端移动，导电微粒将首先撞击在绝缘层上，发生撞击后导电微粒被绝缘层折射而落回微粒陷阱内被重新捕获，因此能够避免微粒逃逸。
一种微粒捕捉结构高压导体绝缘支撑

[发明专利]一种GIL装置及微粒捕捉器-CN201811057787.X有效
发明人：钟建英;柏长宇;金光耀;郭煜敬;郝宝欣;叶三排;王志刚;姚永其;李丽娜;裴涛;杜丽平;李琼可 -专利权人：平高集团有限公司;国家电网有限公司;国网江苏省电力有限公司检修分公司
申请日： 2018-09-11 - 公布日： 2021-04-30 - 主分类号： B08B6/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种GIL装置及微粒捕捉器。其包括筒体，筒体内设有微粒捕捉器，微粒捕捉器在使用时靠近筒体内中心导体一侧的表面为绝缘面，在筒体的轴向上，筒体具有位于微粒捕捉器的至少一侧且内壁面为导电壁面的壁面导电段，微粒捕捉器与筒体内壁之间具有间隔以形成用于收集微粒的屏蔽区本发明的GIL管道的筒体内壁面与微粒捕捉器相邻的部位为壁面导电段，使得金属微粒在电场力的作用下沿着筒体的轴向和径向跳动，微粒运动到壁面导电段时受到的电场力较大，微粒运动较快，微粒捕捉器一侧的表面为绝缘面，与微粒捕捉器接触到的金属微粒不会再次带电，使金属微粒可以被微粒捕捉器捕捉。
一种 gil 装置微粒捕捉

[实用新型]微粒捕捉装置-CN202320121004.X有效
发明人：王作通 -专利权人：正泰电气股份有限公司
申请日： 2023-01-12 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： B08B5/02 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种微粒捕捉装置。微粒捕捉装置，包括：座体，座体用于与GIS装置或者导体屏蔽罩连接，以围绕形成微粒缓存腔，微粒缓存腔用于缓存落入至座体上的金属微粒，座体具有过孔；收集结构，位于座体的下方且与座体气密性连接，收集结构与座体围绕形成微粒捕捉腔，微粒缓存腔通过过孔与微粒捕捉腔连通；阀体，设置在微粒缓存腔内，阀体包括壳体和阀芯，阀芯可活动地设置在壳体内；驱动装置，位于收集结构的下方且与收集结构气密性连接，驱动装置用于驱动阀芯运动，以遮挡或者打开过孔本实用新型有效地解决了现有技术中GIS装置内金属微粒的清理效率较低的问题。
微粒捕捉装置

[发明专利]微粒组成分析方法及微粒组成分析装置-CN201080065448.1有效
发明人：竹川畅之;中村贵之;鲛岛友纪;武居正彦;平山纪友 -专利权人：国立大学法人　东京大学;富士电机株式会社
申请日： 2010-12-06 - 公布日： 2013-04-03 - 主分类号： G01N1/22 文献下载
摘要：本发明提供能在线定量地分析大气微粒的各化学组成的质量浓度的微粒组成分析方法及微粒组成分析装置。该微粒组成分析方法在使气体试样中的微粒的粒子束聚焦，并将该粒子束照射到捕捉体的狭小的区域而捕捉到所述微粒之后，对所述狭小的区域集中照射能量线来使由所述捕捉体捕捉到的微粒汽化、升华或反应以生成脱离成分，从而来对所述脱离成分进行分析，其中所述捕捉体具有用于将剩余的气相成分去除并捕捉所述粒子束中的微粒的网状结构体。另外，为了进行该微粒组成分析方法还构成微粒组成分析装置(50)，其至少包括：减压室(11a～11c)；微粒的粒子束生成器(1)；具有用于捕捉微粒的网状结构体的捕捉体(7)；能量线供给器(5)；捕捉体保持容器(17)；与所述捕捉体保持容器连接的导管(8)；以及用于分析微粒的脱离成分的分析器(10)。
微粒组成分析方法装置

[发明专利]覆盖有硅的金属微粒、覆盖有硅化合物的金属微粒及其制造方法-CN202211120369.7在审
发明人：榎村真一;本田大介 -专利权人： M技术株式会社
申请日： 2017-06-02 - 公布日： 2022-12-13 - 主分类号： B22F1/16 文献下载
摘要：本发明涉及覆盖有硅的金属微粒、覆盖有硅化合物的金属微粒及其制造方法。具体地，本发明涉及覆盖有硅的金属微粒，其为包含至少1种金属元素或半金属元素的金属微粒的表面的至少一部分被硅覆盖而成的覆盖有硅的金属微粒，其特征在于，上述覆盖有硅的金属微粒是将含有该金属微粒前体的前体微粒的表面的至少一部分被硅化合物覆盖而成的覆盖有硅化合物的前体微粒、或含有该金属微粒前体的掺硅前体微粒进行还原处理而得到的。通过控制上述还原处理的条件，特别是能够严密地控制覆盖有硅化合物的金属微粒的粒径，因此，能够针对覆盖有硅化合物的金属微粒的多样化用途和目标特性，与以往相比容易地设计更准确的组合物。
覆盖金属微粒化合物及其制造方法

[发明专利]微粒体甘油三酯转移蛋白的构象限制性芳族抑制剂及方法-CN97191713.2无效
发明人： S·A·比勒;J·K·迪克森;R·M·劳伦斯;D·R·马宁;M·A·波斯;J·A·罗布尔;W·D·斯卢萨尔克;R·B·苏尔斯基;J·A·蒂诺 -专利权人：布里斯托尔－迈尔斯斯奎布公司
申请日： 1997-01-13 - 公布日： 1999-03-03 - 主分类号： C07C217/04 文献下载
摘要：提供新的化合物,它为MTP的抑制剂,因此可以用于降低血脂和治疗动脉粥样硬化症和相关的疾病,它们具有式(Ⅰ)或(ⅠA)或(ⅠB)的结构并包括其药学上可接受的盐或其前体药物酯,其中q为0、1或2;Rx为H、
微粒体甘油转移蛋白构象限制性抑制剂方法

[发明专利]覆盖有硅的金属微粒、覆盖有硅化合物的金属微粒及其制造方法-CN201780033183.9有效
发明人：榎村真一;本田大介 -专利权人： M技术株式会社
申请日： 2017-06-02 - 公布日： 2022-09-13 - 主分类号： C01G9/02 文献下载
摘要：本发明涉及覆盖有硅的金属微粒，其为包含至少1种金属元素或半金属元素的金属微粒的表面的至少一部分被硅覆盖而成的覆盖有硅的金属微粒，其特征在于，上述覆盖有硅的金属微粒是将含有该金属微粒前体的前体微粒的表面的至少一部分被硅化合物覆盖而成的覆盖有硅化合物的前体微粒、或含有该金属微粒前体的掺硅前体微粒进行还原处理而得到的。通过控制上述还原处理的条件，特别是能够严密地控制覆盖有硅化合物的金属微粒的粒径，因此，能够针对覆盖有硅化合物的金属微粒的多样化用途和目标特性，与以往相比容易地设计更准确的组合物。
覆盖金属微粒化合物及其制造方法

[发明专利]3D纳米微粒集合结构体及使用它的气体传感器-CN201380002955.4有效
发明人：南雄植;裵容浚;崔万秀 -专利权人：首尔大学校产学协力团;多次元能源系统研究集团
申请日： 2013-03-04 - 公布日： 2014-05-07 - 主分类号： B82B1/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种3D纳米微粒结构体以及采用所述3D纳米微粒结构体的气体传感器；其中在该3D纳米微粒结构体中，通过连接多个结构体而形成桥；多个所述结构体通过集合纳米微粒而形成。
纳米微粒集合结构使用气体传感器

[发明专利]线偏振平面光波对衬底上方的拓扑绝缘体微粒的可调谐捕获和筛选的方法-CN201510432128.X在审
发明人：曹暾 -专利权人：大连理工大学
申请日： 2015-07-21 - 公布日： 2015-12-23 - 主分类号： G02B21/32 文献下载
摘要：一种线偏振平面光波对衬底上方的拓扑绝缘体微粒的可调谐捕获和筛选的方法，通过在将拓扑绝缘体微粒置于衬底平板上方，破坏拓扑绝缘体微粒周围的玻印亭矢量的对称分布，使拓扑绝缘体微粒上的总玻印亭矢量不为零，产生非梯度光学力；然后，通过改变拓扑绝缘体的量子态，改变拓扑绝缘体微粒上的总玻印亭矢量的方向和大小，进而改变总玻印亭矢量作用在拓扑绝缘体微粒上的非梯度光学力的方向和大小，来调控拓扑绝缘体微粒在入射光场中的运动轨迹，从而对附着在拓扑绝缘体微粒表面的纳米尺寸分子进行可调谐捕获和筛选的技术方案其中，通过光照、通电、加热、加压、和外加磁场等方式实现拓扑绝缘体从拓扑非平庸到拓扑平庸的可逆量子相变。
偏振平面光波衬底上方拓扑绝缘体微粒调谐捕获筛选方法

[发明专利]银微粒油墨的制造方法-CN201380041633.0有效
发明人：久保仁志;大岛优辅;中村纪章;野口宏史;谷内淳一;牧田勇一 -专利权人：田中贵金属工业株式会社
申请日： 2013-07-11 - 公布日： 2017-06-09 - 主分类号： C09D11/52 文献下载
摘要：提供一种银微粒油墨、其烧结体以及银微粒油墨的制造方法，该银微粒油墨由己胺、十二烷胺、油酸、银微粒以及溶剂构成，并且通过旋涂涂布于基板之后，在100℃下烧结体的体积电阻率为8～25μΩ·cm。在通过银胺络合物分解法制造包含被覆银微粒的银微粒油墨时，可平稳地进行制造，并且该银微粒油墨即使在低温下也可烧结，并且烧结体为镜面且体积电阻小。
微粒油墨烧结以及制造方法

[发明专利]石榴石前体微粒及石榴石结构的微粒的制造方法-CN201380005518.8有效
发明人：仓木淳;榎村真一 -专利权人： M技术株式会社
申请日： 2013-01-24 - 公布日： 2014-09-17 - 主分类号： C01F17/00 文献下载
摘要：本发明的课题在于，提供一种石榴石结构的微粒前体(石榴石前体微粒)及石榴石结构的微粒的制造方法。在对向配设了的、可以接近·分离的至少一方相对于另一方相对进行旋转的至少2个处理用面之间形成的薄膜流体中混合至少2种元素的离子和碱性物质，使含有上述至少2种元素的微粒析出。此时，上述微粒为石榴石前体微粒，通过控制混合后的薄膜流体的pH，控制石榴石前体微粒中的上述至少2种元素各自的摩尔比。通过对石榴石前体微粒进行热处理而得到石榴石结构的微粒。钇铝石榴石(YAG)为石榴石结构晶体之一，通过控制混合后的薄膜流体的pH，控制YAG前体微粒中的至少钇和铝的摩尔比。
石榴石微粒结构制造方法

[发明专利]金属微粒陷阱捕捉试验装置及方法-CN202010027000.6在审
发明人：叶三排;谭盛武;郭煜敬;高克利;金光耀;柏长宇;颜湘莲;王刘芳;王志刚;裴涛;李丽娜;王之军;王春艳;李琼可;刘伟;刘子恩 -专利权人：平高集团有限公司;国网安徽省电力有限公司电力科学研究院;中国电力科学研究院有限公司;国家电网有限公司
申请日： 2020-01-10 - 公布日： 2021-07-13 - 主分类号： G01M99/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种金属微粒陷阱捕捉试验装置及方法，该金属微粒陷阱捕捉试验装置，包括：模拟筒体，其内壁上设有试验位，用于支撑放置具备待测微粒捕捉器的支柱绝缘子组件；导电杆，用于由处于试验位的支柱绝缘子组件支撑装配在所述模拟筒体中；套管总装，与所述模拟筒体装配以向所述导电杆施加电压；微粒放置孔，设置于所述模拟筒体的筒壁上，位于所述试验位的旁侧，用于向模拟筒体中放置金属微粒；孔盖，对应所述微粒放置孔布置，孔盖可开合的装配于所述模拟筒体的筒壁上，以用于封盖所述微粒放置孔。通过该试验装置对微粒捕捉器进行试验，能够对微粒捕捉器的有效性进行验证，优化现场老练试验的加压程序，为GIL的可靠运行提供重要的试验依据。
金属微粒陷阱捕捉试验装置方法

[发明专利]制备4'－三氟甲基－联苯基－2－羧酸(1,2,3,4－四氢－异喹啉－6－基)酰胺的方法和中间体-CN98804206.1无效
发明人： J·A·拉甘 -专利权人：辉瑞大药厂
申请日： 1998-04-06 - 公布日： 2000-05-10 - 主分类号： C07D217/02 文献下载
摘要：化合物(Ⅰ)可用于制备4’－三氟甲基－联苯基－2－羧酸[2－(1H(1,2,4－三唑－3－基甲基)]－(1,2,3,4－四氢－异喹啉－6－基)酰胺(Ⅱ)化合物,该化合物可用作微粒体甘油三酯转移蛋白和/或载脂蛋白
制备甲基联苯羧酸喹啉方法中间体

[发明专利]银微粒胶体分散液、银膜形成用涂布液、制造方法及银膜-CN200580052114.X有效
发明人：田中裕之;加藤贤二;行延雅也 -专利权人：住友金属矿山株式会社
申请日： 2005-12-08 - 公布日： 2008-11-26 - 主分类号： B22F9/24 文献下载
摘要：与采用原来的Carey－Lea法相比，平均粒径大，并且分散稳定性优良的银微粒胶体分散液的制造方法。在硫酸亚铁(II)水溶液与柠檬酸钠水溶液的混合液中使硝酸银水溶液反应，于0～100℃放置得到的含银微粒凝聚体的反应液，得到粒子生长的银微粒凝聚体。接下来，过滤该粒子生长的银微粒凝聚体，往得到的银微粒凝聚体中添加纯水，得到银微粒的平均粒径为20～200nm的银微粒胶体分散液。浓缩、洗涤该银微粒胶体分散液，再通过添加含有二甲基亚砜的有机溶剂，得到银膜形成用涂布液。
微粒胶体分散形成用涂布液制造方法

[发明专利]检测缺陷的检查方法及检查装置-CN02800977.0有效
发明人：榎本明夫;宫下晃一 -专利权人：日本碍子株式会社
申请日： 2002-02-12 - 公布日： 2003-12-03 - 主分类号： G01M3/20 文献下载
摘要：在产生微粒子之后，将产生的上述微粒子导入上述被检测体内，其次，产生指向性很强的光使其通过上述被检测体的附近，上述光照射从被检测体排出的上述微粒子，使缺陷可视化。一种检测缺陷的检查装置包括：产生微粒子的微粒子发生装置；将上述微粒子导入被检测体内的微粒子导入装置；产生指向性很强的光，通过被检测体的附近，照射通过被检测体排出的微粒子，使上述微粒子可视化的光发生装置。若按照该检查方法和装置，能高灵敏度地检测出被检测体的缺陷，容易指出和记录缺陷的地点，检查时间短，检查前后的前处理及后处理的时间也短，甚至可以不要。
检测缺陷检查方法装置