专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果3619286个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种改善复合电解质中超离子导体与聚合物界面的方法-CN202110609150.2有效
  • 李建玲;刘慧蓉 - 北京科技大学
  • 2021-06-01 - 2022-10-04 - H01M10/0565
  • 一种改善复合电解质中超离子导体与聚合物界面的方法,属于锂电池固态电解质领域。制备步骤如下:首先将含锡化合物和锂超离子导体酒精溶液混合搅拌和干燥,将干燥好的混合物与锂盐1一起研磨后置于坩埚中煅烧得到改性后的超离子导体。其次将聚合物、改性后的超离子导体和锂盐2置于容器中,以N‑甲基吡咯烷酮作为溶剂搅拌均匀,将混合均匀的浆料滴涂到模具中并进行干燥制得复合电解质膜。最后组装成固态扣式电池,改性后的复合电解质膜为隔膜。该方法在超离子导体表面原位合成陶瓷包覆层,有效改善复合电解质中超离子导体与聚合物之间的界面,增加了锂离子浓度,提高了复合电解质和固态电池的电化学性能,为复合固态电解质的研究提供了一种新的思路。
  • 一种改善复合电解质离子导体聚合物界面方法
  • [发明专利]多电极提高带正电的218-CN201811359464.6有效
  • 袁红志;谭延亮 - 衡阳师范学院
  • 2018-11-15 - 2022-08-12 - G01T1/167
  • 多电极提高带正电的218Po收集效率的测量腔及方法,测量腔内壁为导电层,其壁板上设有出气管及进气管,半导体探测器安装在绝缘端盖上的中心部位,复数个电极围绕半导体探测器呈环形安装绝缘端盖上测量方法如下:腔体上进气管与氡室连接,半导体探测器、导电层及串联后的电极分别通过导线与高压模块连接,采样泵与出气管连接,开启采样泵,引入氡室空气,使得腔体内氡浓度与氡室内相同。高压模块分别调节导电层和半导体探测器及电极表面之间电压,利用二次仪表得到半导体探测器测量到的218Po衰变计数率,再利用二次仪表对半导体探测器测量得到的
  • 电极提高正电basesup218
  • [发明专利]多电极提高氡析出率测量仪对218-CN201811533105.8有效
  • 袁红志;谭延亮 - 衡阳师范学院
  • 2018-12-14 - 2022-08-12 - G01T1/167
  • 多电极提高氡析出率测量仪对218Po收集效率的测量腔及方法,测量腔内壁为导电层,底部为金属滤网,半导体探测器安装在绝缘端盖上的中心部位,复数个电极围绕半导体探测器呈环形安装绝缘端盖上半导体探测器、导电层及串联后的电极分别与高压模块连接,再将半导体探测器与二次仪表连接,将测量腔放入氡室,氡室内的含氡空气进入腔体,使得腔体内的氡浓度与氡室内相同,高压模块分别调节导电层和半导体探测器及电极表面之间电压,二次仪表得到半导体探测器测量到的218Po衰变计数率,测量腔调整好,将测量腔直接紧扣在待测介质表面上,再通过二次仪表测量测量腔内的氡浓度变化规律,然后通过数据拟合计算出氡析出率
  • 电极提高析出测量仪basesup218
  • [发明专利]定子组件和电机-CN202010579620.0有效
  • 张斌;王阳阳;靳浩宁 - 比亚迪股份有限公司
  • 2020-06-23 - 2022-08-09 - H02K3/12
  • 定子绕组包括第一U形导体段和第二U形导体段,每个定子槽的最内槽层、最外槽层、径向向外的第M/2个槽层和径向向外的第M/2+1个槽层均设有一个第一U形导体段,第一U形导体段的节距为A,每个定子槽的除去最内槽层、最外槽层、径向向外的第M/2个槽层和径向向外的第M/2+1个槽层的其他槽层均设有一个第二U形导体段,第二U形导体段的节距为B,A≠B。
  • 定子组件电机
  • [发明专利]导体器件的形成方法及半导体器件-CN202210463001.4有效
  • 孙明珠 - 长鑫存储技术有限公司;长鑫集电(北京)存储技术有限公司
  • 2022-04-29 - 2022-07-22 - H01L21/8242
  • 本申请实施例提供一种半导体器件的形成方法及半导体器件,其中,方法包括:在半导体基底上形成沿第一方向间隔排布的多个位线结构;在相邻的位线结构之间,形成覆盖每一位线结构侧壁的第一隔离层;形成覆盖第一隔离层表面、且在第二方向上堆叠的第一牺牲层和第二牺牲层,第二牺牲层的离子掺杂浓度大于第一牺牲层的离子掺杂浓度;其中,第一方向垂直于第二方向,且第二方向垂直于半导体基底的表面;形成覆盖第一牺牲层和第二牺牲层侧壁的第二隔离层;在相邻第二隔离层之间,沿第二方向在半导体基底上依次形成接触层和金属层;去除第二牺牲层,形成位于第一隔离层和第二隔离层之间的空气间隙。本申请可以提高半导体器件的性能。
  • 半导体器件形成方法
  • [发明专利]一种PCB叠构稳定性改善方法及系统-CN202011256783.1有效
  • 金光伟 - 浪潮电子信息产业股份有限公司
  • 2020-11-11 - 2022-11-18 - H05K3/22
  • 本发明公开一种PCB叠构稳定性改善方法,包括:将PCB表面划分为若干个调整区域;获取每个调整区域对应的各层PCB叠层表面的导体材料层的质量;以各调整区域中最小质量的导体材料层为基准,对当前调整区域中的其余各层PCB叠层表面的导体材料层进行削料工艺,至各调整区域对应的各层PCB叠层表面的导体材料层的质量与各调整区域对应的基准质量之差处于许用区间内。如此,通过对各个调整区域内的各层导体材料层进行削料工艺调整,可使各层导体材料层的质量都趋于相等,进而使产热、散热效率趋于均衡,因此能够防止PCB在SMT工艺中因温度变化而产生局部较大形变,提高PCB的层叠结构稳定性
  • 一种pcb稳定性改善方法系统
  • [发明专利]一种基于集成换流的全控型半导体器件封装结构-CN202010684007.5有效
  • 吴益飞;吴翊;荣命哲;杨飞;易强;庄伟斌 - 西安交通大学
  • 2020-07-15 - 2022-12-06 - H03K17/292
  • 本公开揭示了一种基于集成换流的全控型半导体器件封装结构,包括:全控型半导体器件和用于封装所述全控型半导体器件的管壳;其中,所述全控型半导体器件包括第一芯片组件、第二芯片组件、第三芯片组件、第一过渡层、第二过渡层、第三过渡层和第四过渡层;所述第一芯片组件的阴极端子通过所述第一过渡层连接至所述全控型半导体器件的阳极;所述第一芯片组件的阳极端子通过所述第二过渡层连接至所述第二芯片组件的阴极端子;所述第二芯片组件的阳极端子通过所述第三过渡层连接至所述第三芯片组件的阳极端子;所述第三芯片组件的阴极端子通过所述第四过渡层连接至所述全控型半导体器件的阴极;所述第一过渡层与所述第三过渡层通过导电板连接。
  • 一种基于集成换流全控型半导体器件封装结构

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top