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[发明专利]存储数据的方法和装置-CN201810966238.8有效
发明人：叶敏;林鹏;林起芊;汪渭春 -专利权人：杭州海康威视系统技术有限公司
申请日： 2018-08-23 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本公开是关于一种存储数据的方法和装置，属于数据存储技术领域。所述方法包括：接收待存储数据，获取待存储数据对应的硬盘性能需求信息；根据预先存储于性能参数数据库中的各硬盘的性能参数，在各硬盘中，确定性能参数满足硬盘性能需求信息的多个硬盘；基于预设的单元数据量，将待存储数据切分为多个数据单元，将多个数据单元，分别存储于确定出的多个硬盘中。采用本公开，可以根据待存储数据的对应的硬盘性能需求信息，为待存储数据寻找整体性能都能满足待存储数据的需求的多个硬盘，进而可以保障存储处理的可靠性。
存储数据方法装置

[发明专利]存储设备的性能预测方法、装置及计算机可读存储介质-CN202010745351.0在审
发明人：徐洪志;王少磊;丁广杰;赵伟 -专利权人：北京浪潮数据技术有限公司
申请日： 2020-07-29 - 公布日： 2020-11-03 - 主分类号： G06F11/34 文献下载
摘要：本申请公开了一种存储设备的性能预测方法、装置及计算机可读存储介质。其中，方法包括调用性能测试工具在预先搭建的测试环境中对存储配置信息下的待测试存储设备进行性能测试，获取相应的性能测试数据，并对性能测试数据进行插值处理，生成性能测试数据扩增集。分别对性能测试数据扩增集进行多项式拟合和非线性拟合，得到多项式拟合曲线数据集和非线性拟合曲线数据集；从多项式拟合曲线数据集和非线性拟合曲线数据集中选择满足拟合条件的目标拟合曲线，以作为待测试存储设备在存储配置信息下的性能预测结果，实现了精准、高效地预测存储设备的存储性能，有利于缩短存储设备研发周期。
存储设备性能预测方法装置计算机可读介质

[发明专利]存储装置及报告性能能力的方法-CN201810027107.3在审
发明人：甘尼斯瓦拉·R·玛瑞普迪;维什瓦纳特·玛瑞目 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2018-01-11 - 公布日： 2018-09-25 - 主分类号： G06F11/30 文献下载
摘要：存储装置及报告性能能力的方法。提供一种存储装置，所述存储装置包括：第一非易失性存储介质，具有第一性能能力；第二非易失性存储介质，具有与第一性能能力不同的第二性能能力；装置控制器，被配置为向主机软件报告第一性能能力、第二性能能力、对第一性能能力的改变和对第二性能能力的改变
性能能力存储装置非易失性存储介质装置控制器主机软件配置

[发明专利]使用高性能存储器改善系统存储器访问性能-CN202080103259.2在审
发明人：许涛;李玉福;朱磊;刘仕杰 -专利权人：英特尔公司
申请日： 2020-09-17 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G06F13/14 文献下载
摘要：系统包括处理器，该处理器能通信地耦合至高性能存储器(130)；以及存储器设备(140)，该存储器设备(140)能通信地耦合至处理器，用于存储平台初始化固件以使处理系统(100)：在处理系统(100)的引导过程期间，将高性能存储器(130)作为用于处理系统(100)的系统存储器初始化；在引导过程期间，生成高性能存储器(130)的位置信息；在引导过程期间，将高性能存储器(130)的位置信息报告给操作系统(OS)；并将与位置信息相对应的信息转发至高性能存储器系统涉及使用高性能存储器(130)改善系统存储器访问性能。
使用性能存储器改善系统访问

[发明专利]一种数据存储方法及装置-CN201610822637.8有效
发明人：苑忠科 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2016-09-13 - 公布日： 2019-12-31 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种数据存储方法及装置，其中该方法包括：将存储介质按照其读写性能划分为不同的存储介质层，并基于每层存储介质层的权重值及预设容量参数计算该存储介质层的数据块大小；获取待存储数据的热度，并确定与该存储数据的热度对应读写性能的存储介质层为目标存储层；将所述待存储数据按照所述目标介质层的数据块大小划分为存储数据块，并将该存储数据块存储至所述目标存储层中。可见，本申请中能够充分结合高性能存储介质及低性能存储介质的优点，在一定程度上保证低成本的同时实现了高读写性能。
一种数据存储方法装置

[发明专利]一种针对存储产品进行性能测试的方法及相关装置-CN202310111889.X在审
发明人：朱闯;龙诚杰;王英;赵一江;刘倩;周骥 -专利权人：中电云数智科技有限公司
申请日： 2023-02-07 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种针对存储产品进行性能测试的方法及相关装置，本发明是在接收到主服务器发出的性能测试请求时，根据所述性能测试请求对映射卷或者挂载文件系统模进行性能测试。在测试过程中，实时记录测试结果，并将所记录的测试结果生成测试数据文件；根据所述测试数据文件进行AI智能分析评估，判断所述存储端是否满足存储性能需求。当判定所述存储端不能满足存储性能需求时，则针对所不满足的存储性能要求进行存储配置优化。同时针对所不能满足的存储性能需求，给出性能瓶颈点评估报告，提供进一步优化方向。
一种针对存储产品进行性能测试方法相关装置

[发明专利]存储器件和主机装置-CN200580013775.1有效
发明人：藤本曜久 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2005-07-08 - 公布日： 2007-04-18 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明提供一种存储器件，包括存储数据的半导体存储器。控制器根据该控制器接收的请求，指示将数据写入半导体存储器。寄存器保存性能等级信息，该信息表示允许存储器件展示在根据性能指定的性能等级中该存储器件支持的最佳性能所需的一个性能等级。
存储器件主机装置

[发明专利]存储程序的性能对比方法及其装置、电子设备及存储介质-CN202310955305.7在审
发明人：李莹;何思略;邝树华;陈柳君 -专利权人：中国工商银行股份有限公司
申请日： 2023-07-31 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G06F16/21 文献下载
摘要：本发明公开了一种存储程序的性能对比方法及其装置、电子设备及存储介质，涉及金融科技领域或其他相关领域，其中，该性能对比方法包括：对每个存储程序中的代码分支进行解析，得到代码分支的调用参数，依据存储程序顺序，采用调用参数同时执行源数据库以及目标数据库中的同一存储程序，在所有存储程序执行完成后，获取两个数据库的性能监控报告以及性能日志，基于性能监控报告以及性能日志，比较两个数据库的存储程序的性能指标，得到比较结果，在比较结果指示存在预设性能指标的情况下，调整预设性能指标对应的目标数据库的存储程序。本发明解决了相关技术中对存储程序进行性能对比的效率较低的技术问题。
存储程序性能对比方法及其装置电子设备介质

[发明专利]保持Lustre文件系统存储对象性能一致的方法、设备及介质-CN201911287832.5在审
发明人：冯轶 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2019-12-15 - 公布日： 2020-05-19 - 主分类号： G06F16/11 文献下载
摘要：本发明公开了一种保持Lustre文件系统存储对象性能一致的方法、设备及介质，方法包括：对Lustre文件系统中的对象存储目标进行性能测试，并判断对象存储目标之间的性能值差异是否超过第一阈值；响应于对象存储目标之间的性能值差异超过第一阈值，基于每个对象存储目标的性能值调整对象存储目标与对象存储服务器之间的映射概率；基于对象存储目标与对象存储服务器之间的映射概率判断对象存储目标之间的剩余空间差异是否超过第二阈值；以及响应于对象存储目标之间的剩余空间差异超过第二阈值，采用随机加权算法对对象存储目标进行分配。本发明提出的方案有效的解决了存储服务器节点性能存在差异而导致的文件系统整体性能下降的问题。
保持 lustre 文件系统存储对象性能一致方法设备介质

[发明专利]Oracle存储过程的性能测试方法及装置、处理器-CN202210957602.0在审
发明人：张健;徐海栋;陆意;曹彤 -专利权人：中国工商银行股份有限公司
申请日： 2022-08-10 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请公开了一种Oracle存储过程的性能测试方法及装置、处理器，涉及大数据领域。该方法包括：获取Oracle存储过程对应的多个单元测试案例，其中，Oracle存储过程为待进行性能测试的存储过程，多个单元测试案例用于测试Oracle存储过程的性能；获取Oracle存储过程的性能指标对应的阈值，得到目标阈值；依据多个单元测试案例和目标阈值，对Oracle存储过程进行性能测试。通过本申请，解决了相关技术中对Oracle存储过程进行性能测试时，测试效果较差的问题。
oracle 存储过程性能测试方法装置处理器

[发明专利]一种存储芯片性能检测装置、方法、系统及存储介质-CN202310605502.6在审
发明人：马亚辉;马杨 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2023-05-26 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G06F11/34 文献下载
摘要：本申请公开了一种存储芯片性能检测装置、方法、系统及存储介质，所属的技术领域为自动化测试技术，用于解决准确评价存储芯片的性能这一问题。所述存储芯片性能检测装置，包括：测试底座，用于安装待测试的存储芯片；与所述测试底座连接、且内置温度传感器的控制单元，用于检测环境温度并按照预设测试程序对所述存储芯片进行性能测试得到性能测试结果，根据所述环境温度和所述性能测试结果生成测试日志；与所述控制单元连接的存储模块，用于存储所述测试日志，本申请能够准确评价存储芯片的性能。
一种存储芯片性能检测装置方法系统介质

[发明专利]存储器装置、存储装置和操作该存储装置的方法-CN201910004040.6在审
发明人：蔡昇完 -专利权人：爱思开海力士有限公司
申请日： 2019-01-03 - 公布日： 2019-11-12 - 主分类号： G06F11/30 文献下载
摘要：存储器装置、存储装置和操作该存储装置的方法。本文提供了一种存储装置，该存储装置能够根据温度对存储装置的性能进行节流。存储装置包括：多个存储器装置，其被划分为多个性能节流组；以及存储器控制器，其被配置为从包括在多个相应的性能节流组中的指示器芯片获得温度信息，并且基于温度信息来控制从多个性能节流组当中选择的性能节流组中所包括的存储器装置的操作
存储装置节流存储器装置温度信息存储器控制器个性指示器芯片配置

[发明专利]固态硬盘存储性能测试方法、系统、图像存储设备和硬盘-CN202210708000.1在审
发明人：吴佳;李礼;吴叶楠 -专利权人：上海威固信息技术股份有限公司
申请日： 2022-06-22 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G11C29/42 文献下载
摘要：本公开涉及一种固态硬盘存储性能测试方法、系统、图像存储设备和硬盘，所述固态硬盘存储性能测试方法包括如下步骤：获取待存储图像；缓存所述待存储图像，并将其存储到固态硬盘；在缓存的多个待存储图像大小不超出缓存大小的情况下，将存储到固态硬盘的图像与缓存的图像进行比对得到差错检测结果，并记录存储到固态硬盘的存储起始时间和存储结束时间；根据多个待存储图像大小、存储起始时间和存储结束时间计算所述固态硬盘的写入性能；根据差错检测结果和写入性能评估固态硬盘存储性能本公开采用随机读取、写入方式测试写入读取性能，根据缓存图像和读取固态硬盘存储的图像进行比对得到准确的差错检测结果能够实现对固态硬盘更为全面的测试。
固态硬盘存储性能测试方法系统图像设备

[发明专利]存储性能测试分析方法及系统-CN202010254948.5在审
发明人：本條嵩騎;纪亮 -专利权人：深圳星火半导体科技有限公司
申请日： 2020-04-02 - 公布日： 2021-10-12 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本发明涉及一种存储性能测试分析方法，其包括：获取HOST端与固态存储设备之间传输的协议报文数据；根据所述协议报文数据分析得到存储性能数据。其优点是：通过对固态存储产品运行过程中的协议报文数据进行采集分析得到存储性能数据，存储性能数据由于是以协议报文数据为基础，因此可以达到细粒度级别的性能分析要求。
存储性能测试分析方法系统

[发明专利]监控数据存储方法、设备、服务器及存储介质-CN202010165126.X在审
发明人：林水明 -专利权人：平安科技（深圳）有限公司
申请日： 2020-03-11 - 公布日： 2020-07-31 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本申请适用于计算机技术领域，提出一种监控数据存储方法，包括：获取待监控设备的监控项在预设时长内对应的监控数据；基于时间戳信息将监控性能信息进行划分，得到多个目标监控性能信息集合；利用预设的一致性算法，分别确定每个目标监控性能信息集合对应的预设存储节点；将每个目标监控性能信息集合对应的时间戳信息和监控性能信息，关联存储至每个目标监控性能信息集合各自对应的预设存储节点。通过预设的一致性算法，确定每个目标监控性能信息集合对应的预设存储节点，将每个目标监控性能信息集合对应的时间戳信息和监控性能信息，关联存储至对应的预设存储节点，能够避免针对海量监控数据进行存储时，不断进行磁盘写入操作的问题
监控数据存储方法设备服务器介质