专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]X射线衍射仪测定固体块状样品样品-CN200420092151.6无效
  • 储刚 - 辽宁石油化工大学
  • 2004-08-25 - 2005-12-14 - G01N23/207
  • 本实用新型设计了一种X射线衍射仪测定固体块状样品样品架。该样品架加工简单、装卸方便,具有实际应用价值。样品架由基座、样品测试面基准挡板框和用于固定块状样品的压簧导杆三部分构成。本实用新型不需要对原X射线衍射仪测角仪的样品台进行改造,固体块状样品样品架的基座右端插板(6)直接插入原仪器样品台的样品板插槽内,左端支撑板(9)落在测角仪的θ轴转盘上,基座上板面与样品测试面基准挡板框的下板面铆合或用粘合剂粘合固定并处于水平位置基座右端(6)的外侧与样品测试面基准挡板(3、5)的内侧处于同一个垂直平面,以保证固体块状样品测试面符合测试的要求。
  • 射线衍射测定固体块状样品
  • [发明专利]一种研究闪烁体能量转换机理的方法-CN202210003974.X在审
  • 陆景彬;高天娇;王皓迪 - 吉林大学
  • 2022-01-05 - 2022-04-15 - G01T1/202
  • 本发明公开了一种研究闪烁体能量转换机理的方法,采用同步辐射光源实验测定块状单晶闪烁体样品的晶格结构,依据实验数据构建单晶闪烁体样品的计算模型,基于密度泛函理论计算出的所述块状单晶闪烁体样品的能带结构、电子密度、宇称等与光谱数据(吸收谱,激发谱,发射谱)相联系的方式,采用严密的逻辑分析对所述块状单晶闪烁体样品的发光机理可视化。本发明利用CsI(Tl)块状单晶闪烁体样品为例进行了理论计算与分析,验证了方法的可靠性。
  • 一种研究闪烁体能转换机理方法
  • [实用新型]一种XRD块状样品测试架-CN202122807074.4有效
  • 夏晓帆;范广新;王洋;刘孟杰 - 河南理工大学
  • 2021-11-16 - 2022-04-08 - G01N23/20025
  • 本实用新型提供一种XRD块状样品测试架,XRD块状样品测试架包括:测试基板、挡板组件和四个螺丝钉,测试基板开设有方形样品槽,方形样品槽沿测试基板的厚度方向贯穿测试基板的相对两表面;挡板组件包括四个第一挡板,四个第一挡板均固定于测试基板的同一表面,并依次围设于方形样品槽之四个槽边的外侧,四个第一挡板均开设有第一螺纹孔;螺丝钉与第一螺纹孔相适配,四个螺丝钉对应插设于四个第一螺纹孔内。本实用新型的XRD块状样品测试架能够有效地保证了块状样品测试平面的平整度,保证了测试结果的准确性。并且,结构较为简单,对块状样品的形状、大小无特别要求,普适性较强。
  • 一种xrd块状样品测试
  • [发明专利]用于透射电镜的原位压力实验系统及样品制备方法-CN202010077761.2有效
  • 王宏涛;张奕志;聂安民 - 浙江大学
  • 2020-01-31 - 2022-03-11 - G01N3/08
  • 用于透射电镜的原位压力实验系统,包括样品,使样品能装载在样品杆上、并且能方便的从样品杆拆卸、再迁移到另一根样品杆的样品夹具,和表面精度达到纳米级的压头。制备具有高表面质量的金刚石纳米微柱样品的方法,执行以下操作:将半铜网放入FIB内,使用FIB在待测金刚石颗粒上切出块状样品,将块状样品粘到半铜网的触指上,将块状样品切割为直径200nm以下的圆柱形的金刚石纳米微柱;使用等离子体吹扫样品,去除样品表面的非晶层。本发明在原位压力实验时,能够快速制备表面质量高的金刚石纳米微柱样品样品能够装载于所有类型的样品杆。
  • 用于透射原位压力实验系统样品制备方法
  • [发明专利]一种用于辉光放电质谱仪检测的样品的制备方法-CN202110395842.1在审
  • 谭秀珍;李瑶;李江霖;邓育宁;朱刘 - 广东先导稀材股份有限公司
  • 2021-04-13 - 2022-10-18 - G01N27/68
  • 本发明提供了一种用于辉光放电质谱仪检测的样品的制备方法,包括以下步骤:a)将待测样品通过PTFE模具与镓结合,得到用于辉光放电质谱仪检测的样品。本发明通过将小尺寸、不规整的块状样品和镓凝固在一起,或将粉末样品压在Ga的表面的制样方法,可以测定样品中的In及除镓以外的其它杂质含量;此方法和In包裹制样的方法互为补充,可以获得样品更全面的杂质信息,同时,和钽勺的制样方法相比,此方法扩宽了可测定的样品尺寸范围,同时也避免了钽勺装载粉末样品时,被仪器抽真空抽走的问题;从而能够同时满足小块状样品和粉末样品的检测要求,并且可用来测定尺寸小于11mm的不规整块状导体、半导体样品和粉末样品中的In及其它杂质含量。
  • 一种用于辉光放电质谱仪检测样品制备方法
  • [实用新型]一种X衍射用多尺寸固体块状样品分析台-CN201020144904.9有效
  • 徐永宏;吴小红;孙华云;周桂海;胡宏卫 - 上海梅山钢铁股份有限公司
  • 2010-03-23 - 2010-11-24 - G01N23/20
  • 本实用新型涉及一种仪器分析样品台,特别涉及一种X衍射用多尺寸固体块状样品分析台。主要解决采取用粘结剂、样品附着在其他物质表面或者更换适合小样品尺寸的样品台进行固定测量,不仅工作效率低下,且导致错误的测量结果的技术问题。本实用新型的技术方案:一种X衍射用多尺寸固体块状样品分析台,其特征是由基座、样品测试挡板框架、样品固定弹簧机构和不同开口直径的上盖片组成,样品测试挡板框架固定在基座上形成内空的箱体结构,样品固定弹簧机构由弹簧和升降滑块组成,弹簧安置在基座的中部,弹簧上端固定有安放样品的升降滑块,所述的上盖片固定在样品测试挡板框架上。本实用新型主要用于对钢铁块状样品进行衍射分析。
  • 一种衍射尺寸固体块状样品分析

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