“剪切干涉”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果204385个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种变剪切比径向剪切干涉系统-CN202110491763.0在审
发明人：蔡智骞;张军勇;杨朋千;朱健强 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2021-05-06 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种变剪切比径向剪切干涉系统，用于对波前进行测量。包括剪切干涉单元、剪切比调控单元、波前探测单元。待测信号波前首先进入由一对多焦点光子筛构成的剪切干涉单元生成放大、缩小波前，之后经过剪切比调控单元控制剪切比变化，最后通过波前探测单元成像，获取径向剪切干涉图，后续可通过算法复原原始波前。本发明所公开的变剪切比径向剪切干涉系统，针对现有的径向剪切干涉的剪切比固定、需要独立搭建剪切系统的缺点，采用多焦点光子筛组合的方法提高剪切比可选择性。
一种剪切径向干涉系统

[发明专利]一种基于楔形平板剪切干涉仪图像处理装置及方法-CN202011008970.8有效
发明人：李志康;刘博;王华闯 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2020-09-23 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于楔形平板剪切干涉仪图像处理装置及方法，装置包括楔形平板剪切干涉仪、相机、图像信息处理模块、显示模块，该装置实现对剪切干涉图像获取及剪切干涉图像中垂直于剪切方向的间距和条纹倾斜角的提取方法包括：剪切干涉图像进行预处理，剪切干涉图像圆形观察屏幕检测及标注和观察屏幕直径对应像元数获取，以及对所需图像信息的提取，剪切干涉图像干涉条纹预处理，每条暗条纹或亮条纹进行曲线拟合及条纹倾斜角和垂直于剪切方向的间距的获取计算可得出剪切干涉仪对应位置的曲率半径和远场发散角。通过定量化结果更加能够直观判断其光束的准直度，操作方便，计算快速准确，适用于对大口径激光光束的检测和光学系统装调。
一种基于楔形平板剪切干涉仪图像处理装置方法

[发明专利]抑制天光背景噪声的新型剪切干涉探测装置及其探测方法-CN202210996352.1在审
发明人：董磊;王斌 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-08-19 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： G01V8/10 文献下载
摘要：本发明提供一种抑制天光背景噪声的新型剪切干涉探测装置，包括：马赫曾德干涉仪、光学延迟装置、相位调制装置和剪切干涉机构；马赫曾德干涉仪使入射光分成两束并干涉；剪切干涉机构使马赫曾德干涉仪分光形成的两光束产生合适的剪切量，从而使目标光干涉而天光背景不干涉；光学延迟装置补偿两束剪切光之间的光程差，以实现宽光谱目标光的干涉；相位调制装置可使两束剪切光束形成的目标光干涉条纹产生周期性变化，从而将目标光能量调制到天光背景较弱的高频区域
抑制天光背景噪声新型剪切干涉探测装置及其方法

[发明专利]一种软X射线双频光栅剪切干涉系统-CN201210022269.0有效
发明人：刘正坤;邱克强;刘颖;徐向东;付绍军 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2012-02-01 - 公布日： 2012-07-18 - 主分类号： G01T1/00 文献下载
摘要：本发明提供一种软X射线双频光栅剪切干涉系统，其采用了一种双频光栅作为软X射线剪切干涉元件，利用掠入射条件下，该光栅的两组-1级衍射光束自剪切干涉，对穿过等离子体的X射线激光的波前检测。该剪切干涉仪中采用两个多层膜球面镜的成像系统，能够得到清晰的等离子体边界。本发明将剪切干涉系统成功应用于软X射线波段，利用剪切干涉系统共光程的特点，解决了马赫-曾德尔干涉仪测试系统中等光程的调节困难的问题，为利用剪切法诊断等离子体电子密度提供了关键技术。
一种射线双频光栅剪切干涉系统

[发明专利]基于斐波那契光子筛的变剪切比四波剪切干涉仪-CN202010887578.9有效
发明人：张军勇;张秀平;张艳丽;唐顺兴;朱健强 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2020-08-28 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：一种基于斐波那契光子筛的变剪切比四波剪切干涉仪，包括待测波前、斐波那契光子筛、小孔光阑、第一三维平移台、聚焦透镜、第二三维平移台、图像探测器、第三三维平移台和计算机，本发明从四波横向剪切干涉图中提取两正交方向的差分波前信息，结合波前重构算法，快速实现待测波前的高精度重构；本发明通过斐波那契光子筛实现四波剪切干涉仪剪切比的调节，可提高四波剪切干涉仪的波前检测精度，可扩展四波剪切干涉仪的应用范围，可简化四波剪切干涉仪的组成结构
基于光子剪切干涉仪

[发明专利]散斑干涉与剪切散斑干涉的共用装置-CN201811133659.9有效
发明人：吴思进;李洋洋;李伟仙;杨连祥;董明利 -专利权人：北京信息科技大学
申请日： 2018-09-27 - 公布日： 2020-12-01 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种散斑干涉与剪切散斑干涉的共用装置，其特征在于，包括：散斑干涉光路、剪切散斑干涉光路和光路切换模块；其中，所述光路切换模块，用于进行所述散斑干涉光路和所述剪切散斑干涉光路之间的光路切换本申请实施例可以通过光路切换模块，在一个测量装置中实现散斑干涉测量光路和剪切散斑干涉测量光路的切换，有效降低了切换不同测量装置导致的操作繁琐问题。
干涉剪切共用装置

[发明专利]一种实现可编程多波横向剪切干涉仪的方法-CN201510115262.7有效
发明人：陈小君;董理治;王帅;杨平;许冰;何星 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2015-03-16 - 公布日： 2017-12-26 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种实现可编程多波横向剪切干涉仪的方法，包括步骤(1)确定灵敏度和动态范围要求；(2)确定工作模式，包括三波横向剪切干涉仪/四波横向剪切干涉仪/六波横向剪切干涉仪；(3)计算干涉仪所需的光栅复振幅透过率分布；(4)用纯相位空间光调制器生成多波横向剪切干涉仪的衍射光栅；(5)将图像传感器作为接收屏放置在出射光路上，经过纯相位空间光调制器反射的反射光在接收屏上相干叠加形成干涉条纹，对图像传感器探测得到干涉条纹进行计算获得波前斜率信息，进而复原波前；(6)通过编程改变工作模式，改变四波横向剪切干涉仪的灵敏度和动态范围；实现了测量动态范围和灵敏度可编程的功能，同时还为在三波、四波和六波横向剪切干涉仪之间的切换提供了便利。
一种实现可编程横向剪切干涉仪方法

[发明专利]横向剪切干涉仪的胶合检测方法-CN200710018571.8无效
发明人：赵葆常;杨建峰;薛彬;乔卫东;陈立武;贺应红;常凌颖;张健 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2007-09-03 - 公布日： 2008-02-13 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：一种横向剪切干涉仪的胶合检测方法，在待胶合横向剪切干涉仪上均匀地涂覆光敏胶，竖直放于精密调整平台的高精度光学平板上。由激光器输出的激光经散射板及平行光管形成均匀平行光，照在待胶合横向剪切干涉仪上。用数码相机接收待胶合横向剪切干涉仪出射端形成的干涉条纹，在计算机上实时显示。计算N₀个干涉条纹占数码相机的CCD像元数M₀，微移两棱镜，读取N₀个干涉条纹占数码相机的CCD像元数M，到CCD像元数M为M_{本发明解决了背景技术中横向剪切干涉仪的横向剪切量难以准确控制的技术问题。本发明横向剪切量误差可控制在1％以内。}
横向剪切干涉仪胶合检测方法

[实用新型]剪切干涉测量装置-CN201320141623.1有效
发明人：徐建程 -专利权人：浙江师范大学
申请日： 2013-03-15 - 公布日： 2013-10-16 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本实用新型提供一种剪切干涉测量装置，包括干涉仪、参考镜、测试镜及平移台；其中，所述测试镜固定在平移台上，所述平移台可沿水平、垂直方向平移，平移量等于干涉仪探测器中一个像素对应物空间中测试面的尺寸大小。所述干涉仪、参考镜及测试镜的中心高度一致。本剪切干涉测量装置不需要昂贵的高精度剪切板。本装置在平移测试镜前后分别用干涉仪测量，通过计算两次测量结果之差就实现了剪切干涉测量，具有重要的应用价值。
剪切干涉测量装置

[发明专利]光栅横向剪切干涉大数值孔径波前重建方法-CN201710155971.7有效
发明人：唐锋;王向朝;彭常哲;冯鹏 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2017-03-16 - 公布日： 2019-04-19 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：一种光栅横向剪切干涉大数值孔径波前重建方法，该方法利用的光栅横向剪切干涉仪包括剪切光栅，二维光电探测器；该方法采用光学追迹法获得光栅横向剪切干涉仪在二维光电探测器探测面各个像素的剪切量；将每个像素的剪切量带入表示差分波前的差分多项式本发明解决了光栅横向剪切干涉仪大数值孔径波前检测时剪切量变化引入的重建误差问题，实现简单，精度高。
光栅横向剪切干涉数值孔径重建方法

[发明专利]白光剪切干涉仪等光程的快速调整方法-CN200810204105.3无效
发明人：严毅;刘立人;栾竹;王利娟;金晓峰 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2008-12-05 - 公布日： 2009-05-06 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：一种白光剪切干涉仪等光程的快速调整方法，主要是利用一台可调啁啾激光器作为光源，通过调节激光脉冲的波长宽度和调节白光剪切干涉仪的可动光路，使干涉仪产生的干涉条纹的运动速度发生改变，观察白光剪切干涉仪观察屏的干涉条纹的运动情况，从而实现对干涉仪等光程的快速调整。
白光剪切干涉仪光程快速调整方法

[发明专利]识别方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202310454057.8在审
发明人：刘承运;马蕾;颜世杰;秦湘清 -专利权人：中国工商银行股份有限公司
申请日： 2023-04-25 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G06V40/40 文献下载
摘要：所述方法包括：在第一目标时刻，通过剪切散斑干涉技术采集待识别对象的第一剪切散斑干涉图；在第二目标时刻，通过剪切散斑干涉技术采集待识别对象的第二剪切散斑干涉图；根据第一剪切散斑干涉图和第二剪切散斑干涉图，确定待识别对象从第一目标时刻到第二目标时刻的干涉光强变化图；根据干涉光强变化图，确定待识别对象的第一活体识别结果；在第一活体识别结果表示待识别对象为活体的情况下，对待识别对象进行图像采集，得到待匹配图像
识别方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]中心遮挡情况下的大口径偏折型径向剪切干涉检测装置及其方法-CN201210121717.2有效
发明人：杨甬英;凌曈;田超;孙磊;卓永模 -专利权人：浙江大学
申请日： 2012-04-24 - 公布日： 2012-08-22 - 主分类号： G01M9/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种中心遮挡情况下的大口径偏折型径向剪切干涉检测装置及其方法。本发明的技术特点是在传统径向剪切干涉检测方法的基础上，通过提高望远镜系统的剪切率，并利用反射镜在竖直方向的倾斜将缩束光斑移至扩束光斑的边缘区域，使缩束光斑脱离扩束光斑中因目标物遮挡所形成的阴影处形成干涉，实现了有目标物中心遮挡情况下对特定空间区域的径向剪切干涉检测。本发明的优点在于解决了采用传统径向剪切干涉方法无法对含有目标物中心遮挡的区域进行波前检测的难题，同时，由于干涉区域移至扩束光斑边缘，使得干涉图的处理可以采用较为简单的相位解包方法，而非径向剪切波面迭代重构，在一定程度上简化了干涉图的处理过程，缩短了处理时间。
中心遮挡情况口径偏折型径向剪切干涉检测装置及其方法

[发明专利]一种剪切散斑干涉系统-CN202010439536.9有效
发明人：张东升;叶益民 -专利权人：上海大学
申请日： 2020-05-22 - 公布日： 2021-05-18 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种剪切散斑干涉系统，所述剪切散斑干涉系统包括：短焦距镜头、迈克尔逊干涉装置、长焦距镜头和CCD相机。通过利用短焦距镜头和长焦距镜头的组合和迈克尔逊干涉装置相结合，利用短焦距镜头将大视场范围的物体成像为缩小的实像，缩小的实像通过迈克尔逊干涉装置和长焦距镜头传递到CCD相机靶面，形成散斑干涉，从而实现大视场剪切散斑干涉测量本发明提供了一种不影响相位计算且结构简单的大视角剪切散斑干涉系统，有效地扩大检测面积，实现了全场、快速的缺陷检测。
一种剪切干涉系统

[发明专利]测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪-CN201310419736.8有效
发明人：周健;鲁伟;马小平;孙建锋;孙志伟;刘立人 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2013-09-16 - 公布日： 2013-12-25 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：一种测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪，用于对复杂波面进行波面检测，由分束单元、x方向剪切干涉单元、y方向剪切干涉单元、第一图像传感器、第二图像传感器和计算机构成。本发明采用直角棱镜实现光束x方向剪切，梯形直角棱镜实现y方向剪切，利用移动平台实现剪切量大小的调整。具有结构简单紧凑、在同一平台进行操作、剪切量可调的优点。
测量轴对称横向剪切干涉仪

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条