专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果1158276个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]横向相减差动透镜折射率测量方法-CN201910317051.X有效
  • 王允;邱丽荣;赵维谦 - 北京理工大学
  • 2019-04-19 - 2020-08-11 - G01N21/41
  • 本发明公开的横向相减差动透镜折射率测量方法,属于光学精密测量技术领域。本发明公开的横向相减差动透镜折射率测量方法,在测量系统中,在CCD探测的艾丽斑图像上通过软件设置大、小虚拟针孔探测区域并将其探测的两条特性曲线通过相减处理来锐化特性曲线,将锐化特性曲线进行差动相减处理得到轴向高灵敏的差动特性曲线,利用该差动特性曲线零点与差动测量系统焦点精确对应的特性对被测透镜折射率测量时各顶点位置进行高精度定寻位,通过光线追迹补偿精确得到透镜的折射率,实现透镜折射率的高精度测量。本发明具有测量精度高、抗环境干扰能力强和结构简单等优势,在光学精密测量领域具有广泛的应用前景。
  • 横向差动透镜折射率测量方法
  • [发明专利]激光/差动振动参数测量方法-CN202010165514.8有效
  • 赵维谦;何奇;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2020-03-11 - 2021-01-01 - G01H9/00
  • 本发明公开的一种激光/差动振动参数测量方法,属于光学精密测量技术领域。本发明在、差动测量系统中,首先在、差动轴向响应曲线上定义了最优测试区间,在最优测试区间内,、差动轴向响应曲线对轴向位移的灵敏度最高。其次,针对不同的振幅,定义了不同的测量模式。通过不同的测量模式来确保振动的最大轴向位移始终位于最优测试区间内。进而利用强度与振动面轴向位置的对应关系实现具有高动态范围的振动特性测量。与已有的振动测量方法相比,本发明具有测量精度高、振幅测量范围广、频率测量带宽高、可测量周期运动和非周期运动、抗环境干扰能力强且结构简单等优势,在光学精密测量技术领域具有广泛的应用前景。
  • 激光差动振动参数测量方法
  • [发明专利]反射式双边错位差动焦距测量方法-CN201910316039.7有效
  • 赵维谦;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2019-04-19 - 2020-06-05 - G01M11/02
  • 本发明涉及反射式双边错位差动焦距测量方法,属于光学精密测量技术领域。该方法通过大、小虚拟针孔特性曲线的横向相减处理来锐化响应特性曲线,通过锐化响应特性曲线的双边错位差动相减处理来实现被测表面的差动双极性定测量,通过差动曲线的线性拟合来提升焦点位置捕获精度,进而提高焦距测量中透镜表面顶点和焦点位置的定精度,以期实现焦距的高精度测量。本发明中横向相减双边错位差动的光强响应曲线过零点附近的斜率大于传统的差动光强响应曲线,显著提高了测量系统定精度。本方法相对已有方法,具有测量精度高、抗环境干扰能力强和结构简单等优势,在光学精密测量技术领域具有广泛的应用前景。
  • 反射双边错位差动焦距测量方法
  • [实用新型]一种光谱内径测量探头-CN202122349789.X有效
  • 吴新峰;华志超;周远荣;周羊华;王海涛 - 泰州市计量测试院
  • 2021-09-27 - 2022-04-05 - G01B11/12
  • 本实用新型公开了一种光谱内径测量探头,包括固定架,所述固定架上安装有光谱探头,光谱探头远离固定架的一端安装有直角反射镜,直角反射镜设置于工件圆孔内。本光谱内径测量探头,利用光谱测量原理将位移信息变换到波长信息中去,在光谱探头前端加一个90度直角反射镜,形成小型探头,结合多测头静态测量方式,对工件圆孔内部进行测量,实现了内径尺寸的微米级高精度测量,采用线光源进行光谱测量,不同波长的单色光色散至工件圆孔的两侧内壁,并以相反的方向再次通过色散组件经由光源耦合器传导至光谱信号接收组件,可以有效的改善光谱测量系统的测量精度,从而减少测量误差,提高测量精度
  • 一种光谱内径测量探头
  • [发明专利]差动曲率半径测量方法与装置-CN200910082249.0无效
  • 赵维谦;贾馨;邱丽荣;孙若端 - 北京理工大学
  • 2009-04-21 - 2009-09-09 - G01B11/255
  • 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种差动透镜曲率半径测量方法与装置,该方法首先通过差动原理分别确定被测透镜顶点和球心位置,然后测量两焦点间的距离,同时测量过程中还可以通过光瞳滤波技术提高曲率半径测量灵敏度本发明首次提出利用差动响应曲线过零点时对应被测透镜顶点和球心的特性实现精确定,将差动显微原理扩展到曲率半径测量领域,形成差动原理。本发明运用差动原理,具有测量精度高、抗环境干扰能力强的优点,可用于透镜曲率半径的检测与光学系统装配过程中的高精度曲率半径测量
  • 差动曲率半径测量方法装置
  • [发明专利]横向相减差动超长焦距测量方法-CN201910318568.0有效
  • 赵维谦;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2019-04-19 - 2021-02-26 - G01M11/02
  • 本发明公开的横向相减差动超长焦距测量方法,属于光学精密测量技术领域。本发明在测量系统中,首先在CCD探测的艾里斑图像上通过软件设置大、小虚拟针孔探测区域并将其探测的两条特性曲线通过相减处理来锐化特性曲线,其次将锐化特性曲线进行差动相减处理来得到轴向高灵敏的差动特性曲线,然后利用该差动特性曲线零点与差动测量系统焦点精确对应所述特性对被测超长焦距测量时各顶点位置进行高精度定寻位,最后通过光线追迹补偿计算来精确得到超长焦距,实现超长焦距的高精度测量。本发明具有测量精度高、抗环境干扰能力强和结构简单等优势,在光学精密测量技术领域具有广泛的应用前景。
  • 横向差动超长焦距测量方法
  • [发明专利]双边错位差动抛物面顶点曲率半径测量方法-CN201910316283.3有效
  • 赵维谦;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2019-04-19 - 2020-12-11 - G01B11/255
  • 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种双边错位差动抛物面顶点曲率半径测量方法。该方法通过大、小虚拟针孔特性曲线的横向相减处理来锐化响应特性曲线,通过锐化响应特性曲线的双边错位差动相减处理来实现被测表面的差动双极性定测量,通过差动曲线的线性拟合来提升焦点位置捕获精度,进而提高抛物面顶点曲率半径测量中透镜表面顶点和焦点位置的定精度,以期实现抛物面顶点曲率半径的高精度测量。本发明中横向相减双边错位差动的光强响应曲线过零点附近的斜率大于传统的差动光强响应曲线,显著提高了测量系统定精度。本方法具有测量精度高、抗环境干扰能力强和结构简单等优势。
  • 双边错位差动抛物面顶点曲率半径测量方法
  • [实用新型]集成法与三角法的位移测量装置-CN202120799278.5有效
  • 秦鑫晨;卢科青;王文;王传勇;陈占锋;居冰峰 - 杭州电子科技大学
  • 2021-04-19 - 2021-10-22 - G01B11/02
  • 本实用新型公开了集成法与三角法的位移测量装置。现有位移测量方式的精度与量程存在矛盾。本实用新型的激光位移传感器探头、位置敏感元件和聚焦透镜均与测头面板固定;激光位移传感器探头与激光位移传感器本体的光学单元及控制器连接组成激光位移传感器;激光位移传感器探头的测量光由激光位移传感器本体的光学单元产生,并通过光纤传输到激光位移传感器探头;激光位移传感器探头的测量光中心轴线与聚焦透镜的中心轴线位于同一平面内;位置敏感元件的信号输出端与控制器连接;激光位移传感器、聚焦透镜以及位置敏感元件组成三角法位移测量系统本实用新型测量精度高,且量程大。
  • 集成共焦法三角位移测量装置
  • [发明专利]横向相减激光差动柱面曲率半径测量方法-CN201910316641.0有效
  • 邱丽荣;肖阳;赵维谦 - 北京理工大学
  • 2019-04-19 - 2021-03-09 - G01B11/255
  • 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种横向相减差动柱面曲率半径测量方法。该方法首先利用计算全息镜片将差动测量系统出射的平行光束转化为柱面测量光束,其次将差动探测器中焦前后两路探测器探测到的光斑分别采用不同大小虚拟针孔进行横向相减得到锐化后的横向相减响应曲线,然后将两路横向相减响应曲线差动相减后得到横向相减差动响应曲线,并根据横向相减差动响应曲线的过零点精确确定被测柱面的“”位置和“猫眼”位置,进而实现被测柱面曲率径的精确测量。本方法由于具有测量精度高、抗表面散射能力和环境干扰能力强,在光学柱面曲率半径精密测量方面具有广泛的应用前景。
  • 横向激光差动柱面曲率半径测量方法
  • [发明专利]差动焦干涉元件多参数测量方法与装置-CN201010621159.7有效
  • 赵维谦;杨佳苗;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2010-12-24 - 2011-08-10 - G01B11/255
  • 本发明属于光学精密测量技术领域,涉及一种差动()干涉元件多参数测量方法与装置。本发明的核心思想是利用差动()测量系统测量球面元件表面曲率半径、透镜顶焦距、透镜折射率、透镜厚度以及镜组轴向间隙,利用面形干涉测量系统测量元件表面面形,可实现元件多个参数的同时测量测量精度高。本发明首次将差动()探测系统和面形干涉测量系统相融合,测量参数全面,且在元件多个参数测量过程中,无需重新调整光路,拆卸被测元件,对被测元件无损伤,测量速度快。
  • 差动焦干元件参数测量方法装置

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top